光学多通道分析仪的分辨率分析

介绍了光学多通道分析仪 (Optic Multichannel Analyzer,OMA)的基本组成和工作原理 ,着重分析了OMA系统中光谱仪的狭缝宽度、光栅参数和 CCD的像素尺度对 OMA系统分辨率的影响。得到的结论是 :OMA系统的分辨率是由系统中分辨率最低的环节决定的 ,无限制地减小狭缝宽度无助于系统分辨率的提高。     

用多种谱仪技术研究环氧丙烷点火的微观特性

利用OMA(光多通道分析系统)谱仪和单色谱仪技术研究了环氧丙烷冲击点火的微观特性.OMA谱仪观察到O,CH2O,C2,CH,CH3O,CO2,H2O等许多中间产物和最终产物.利用三台单色谱仪和压力传感器确定环氧丙烷冲击点火后这些产物出现的顺序并确定了它们的点火延迟时间和临界条件.     

扩宽OMA-Ⅵ同时谱宽的新方法

OMA－Ⅵ存在同时谱宽窄的缺点，本文用一种新方法大幅度地扩宽了它的同时谱宽，且不降低其系统分辨率，应用效果甚佳。     

简易OMA系统光响应参数的测量

用一维CCD摄像头、多色仪及通用微机组成了简易价廉的光学多道分析仪系统（OMA），测量了该系统的光响应参数，对测量结果进行了讨论。     

电子与原子He,Ar碰撞过程中激发态的实验研究

我们通过光学方法研究了电子与原子He,Ar碰撞过程中靶的激发过程。利用光学多道分析系统(OMA)对发射光谱进行了测量,给出了绝对发射截面数据。入射电子的实验室能量范围为200—500eV。 关键词：     

双电荷离子He~(2+)与Ne,Ar原子碰撞中的激发态

实验用光学多道分析系统(OMA)测量了He~(2+)和Ne,Ar碰撞过程中的发射光谱,结果表明,这些碰撞体系存在着三种激发过程:双电子俘获激发过程、单电子俘获激发过程和直接激发过程。给出了HeI,HeII,NeI,NeII和ArI,ArII谱线的发射截面,并对He~(2+)+Ne和He~(2+)+Ar两个碰撞体系的发射截面作了一些比较,发现在入射离子速度相同的情况下,后者的发射截面要比前者大得多,并对此进行了定性讨论。OMA的光谱波长范围为200—800nm。入射离子He~(2+)的能量范围为140—340keV。     

用光学多通道分析仪系统作高分辨光谱测量的技术

通常的光多通道分析仪(OMA)存在着同时谱宽与分辨率的矛盾.本文所述方法,在不减小谱宽的前提下,可将该分析仪光谱分辨率提高1～2量级,使之可适用于高分辨率谱研究.     

双电荷离子He2+与Ne,Ar原子碰撞中的激发态

实验用光学多道分析系统(OMA)测量了He²⁺和Ne,Ar碰撞过程中的发射光谱,结果表明,这些碰撞体系存在着三种激发过程:双电子俘获激发过程、单电子俘获激发过程和直接激发过程。给出了HeI,HeII,NeI,NeII和ArI,ArII谱线的发射截面,并对He²⁺+Ne和He²⁺+Ar两个碰撞体系的发射截面作了一些比较,发现在入射离子速度相同的情况下,后者的发射截面要比前者大得多,并对此进行了定性讨论。OMA的光谱波长范围为200—800nm。入射离子He²⁺的能量范围为140—340keV。 关键词：     

双电荷离子Ar^2＋与He,Ne原子碰撞中的发射截面

双电荷离子Ar~(2 )和He、Ne原子碰撞中,存在着三种碰撞激发过程,一是双电子俘获激发过程,二是单电子俘获激发过程,三是直接激发过程。实验用光学多道分析系统(OMA)对这些过程进行了光学测量,得到了ArⅠ、ArⅡ、NeⅠ、NeⅡ、HeⅠ、HeⅡ谱线的发射截面,并对这些发射截面进行了比较,发现在入射离子速度相同的情况下,Ar~(2 ) Ne碰撞体系的发射截面要比Ar(2 ) He碰撞体系的大。OMA的光谱波长范围是200—800um。入射离子Ar(2 )的能量范围是140—340keV。     

利用OMA谱仪测量飞秒激光的谐波光谱

本文给出了利用光学多道分析(OMA)谱仪测量飞秒激光谐波光谱的一种方法 .该方法是利用OMA谱仪(谱分辨0.1nm)加CCD(1152×1242)相机探测设备,用消色差的相机镜头作为空间分辨,在固体靶前表面测量了激光的二次谐波(2ω_0)光谱.结果显示:在平行于靶面的方向和接近于法线方向分别观测到了2ω_0光谱,但在接近于法线方向的谐波光谱出现了精细结构,并得到2ω_0谐波谱的分裂间隔约为3.183 nm.分析认为,自生磁场的产生和作用是导致二次谐波光谱精细结构及谐波谱分裂的主要原因.     

An intelligent maximum permissible exposure meter for safety assessments of laser radiation

There is frequently a need to make laser power or energy density measurements when determining whether radiation from a laser system exceeds the Maximum Permissible Exposure (MPE) as defined in BS EN 60825. This can be achieved using standard commercially available laser power or energy measurement equipment, but some of these have shortcomings when used in this application. Calculations must be performed by the user to compare the measured value to the MPE. The measurement and calculation procedure appears complex to the nonexpert who may be performing the assessment. A novel approach is described which uses purpose designed hardware and software to simplify the process. The hardware is optimized for measuring the relatively low powers associated with MPEs. The software runs on a Psion Series 3a palmtop computer. This reduces the cost and size of the system yet allows graphical and numerical presentation of data. Data output to other software running on PCs is also possible, enabling the instrument to be used as part of a quality system. Throughout the measurement process the opportunity for user error has been minimized by the hardware and software design.     

测控数据实时监测软件设计方法研究

测控数据实时监测软件是测控系统中的关键分系统之一,承担着大量测控信息的实时监视任务,由于其监测的数据具有信息量大、发送频率高、种类多样等特点,如何提升软件的性能和效率,成为了测控软件领域的一项重要课题。为实现该软件信息监测功能实时、全面、可靠,从软硬件平台、软件架构和算法设计等方面开展研究。采用多线程设计实现大量并行数据的接收,利用面向对象程序设计方法使数据处理层和展现层分离,对有曲线显示需求的数据存储方法进行了算法优化,从而实现软件的全面效能提升设计。设计的软件经实际环境测试,设计方法能够有效提升软件的效能,保证了测控数据监测功能的实时性和可靠性,增强了测控数据实时监测软件的数据承载能力。同时该方法设计的软件具有较好的可扩展性和可维护性。     

大口径光学非球面轮廓测量过程可视化研究

研究了大口径非球面光学元件表面轮廓测量过程可视化,并设计、开发了基于双向链接边表的软件系统。提出一种改进的双向链接边表数据结构完成三维模型加载方法,建立数据结构及其相关图形元作为软件的基础层。计算非球面曲面方程获得表面轮廓的数据生成图形场景节点,并自动生成曲面测量轨迹。在非接触检测平台上进行测试,对测量数据进行平滑处理,拟合出测量获得的非球面面形,完成面形精度和表面粗糙度的评价。实验结果表明,该可视化系统技术路线正确高效、稳定性好,为非球面检测数据及其综合分析仿真提供直观的可视化平台。     

一种大气折射数据修正方法

讨论在靶场光学测量中,大气因素如何影响测量结果.通过建立大气折射率与测角误差之间的数学模型,用计算机软件对大气折射造成的测角误差进行修正.     

电磁流量计磁场仿真研究

一种集流型电磁流量计广泛的应用于井下流量测量等特殊场合,运用有限元软件ansys对这种集流型电磁流量计建立的磁场仿真模型,并建立了这种集流型电磁流量计中流体中含有导磁率高的颗粒状物体时的磁场仿真模型.     

多次改变聚焦强度法测量束流发射度

就“多次改变聚焦强度法测量束流发射度”,讨论了测量技术和测量装置的优化,包括薄透镜近似的合理采用,多点最小二乘拟合,截面测量靶轴向位置的优化选择,和测量软件系统的改进等,以提高发射度测量的准确性和可靠性.已将上述优化技术,应用于BEPC直线加速器上新建和改建的发射度测量装置,获得了满意的测量结果     

用衍射光栅和CCD测量透明材料折射率

介绍了一种基于衍射光栅干涉和CCD图像测量的测量透明材料折射率的方法。这种方法使用的仪器少,操作简单,配合CCD与图像处理的运用,尝试的两种测量方案都使精度能够达到10^-4。两种测量方案对同一玻璃基片的测量结果基本吻合,而第二种测量方案的测量精度要优于第一种,这是因为就我们目前的实验条件而言,CCD判别条纹移动的精度对折射率测量的影响要小于角度测量精度对之的影响。该方法还可以测量各向同性透明薄膜样品的折射率,为探索新型有机薄膜的折射率及其有关特性提供便利的手段。讨论了测量的基本原理和样品的测量结果,并对实验方法误差进行了分析。     

密封容器中钚材料同位素丰度和年龄的测量

根据相对效率法的原理，利用PC/FRAM分析软件，开展了用高分辨γ谱仪测量密封容器中钚材料的同位素丰度和年龄的实验研究.研究结果表明，同位素丰度和年龄的分析精度随能谱测量精度的提高而提高，如果能谱的测量精度不够，通过PC/FRAM分析得出的钚材料的同位素丰度和年龄有偏低的可能.因此，在能谱测量过程中，建议通过监测某个特征峰的峰面积计数来判定239Pu丰度和年龄的测量精度是否已满足测量要求.Based on the concept of relative detection efficiency, some experiments have been conducted to measure the isotopic abundance and the age of the plutonium material in a sealed container by a high-resolution γ-ray spectrometer. The PC/FRAM software analyzes the spectra. The study shows that the analysis precision of the isotopic abundance and the age will rise as the spectral measurement precision increases, and that If the spectral measurement precision is not enough, the analyzed results by the PC/FRAM software might be lower. Hence, the study suggests that a spectral peak is monitored to show lights on the spectral measurement precision during the process of spectrum acquirement.     

基于NI ELVIS的超声换能器参数测量系统设计

为了满足超声换能器快速筛选的要求,在对超声换能器参数导纳圆法测量原理进行分析的基础上,利用NI ELVIS平台搭建了一种结构简单的超声换能器参数测量系统。采用点频法实现高精度、快速的导纳测量,采用最小二乘法拟合得到导纳圆,进而完成超声换能器诸参数的计算。基于LabVIEW软件平台编写了相应的软件系统。针对40 kHz超声换能器的测试表明,所设计的超声换能器参数测量系统精度高、处理速度快,且结构简单、便于使用。     

Programmable interferometry

The advent of automatic data-processing for interferometry greatly reduced the complexity of interferometric testing, thereby significantly increasing its usage both within and outside the optics community. A great many of these new applications require special data-processing and output data not normally used for testing lenses. To address these new measurement problems, many data-analysis programs were written, ranging from advanced analysis of wavefronts (i.e., Zernike polynominals, point-spread function, modulation-transfer function) to analysis of mechanical surfaces, such as Winchester-disk read/write heads. Some of these programs were very specific to a particular application, and some tried to be general and as such became cumbersome. Even with much of this software available for sale to the general public, most applications other than simple surface and lens measurements usually cannot be solved directly by using the available programs. In an attempt to solve this problem, we have developed software for interferometry that allows users to easily develop their own measurement routines. The solution was to take a version of the BASIC programming language and add the commands necessary to do interferometry. This software is resident in a processor that can easily be adapted to a large number of interferometry applications. By using this processor and its associated software with an appropriate interferometer, it is possible for the user to tailor the measurement to a particular application. This can be very useful in an optical-production shop, where each different testing application can have its own program. If the program is written properly, the operator will not have to set up any default conditions or format the output; the operation of the program can be reduced to the pushing of a single button, and the output will be formatted properly for that particular test. Examples of this system in actual optical shop-testing situations will be discussed.