石榴石磁泡薄膜各向异性常数Ku和K1的转矩法测量

本文详细研究了GGG(Gd₃Ga₅O₁₂)单晶基片的磁转矩与其几何参量及有关物理参量的关系,提出了由转矩曲线测量石榴石磁泡薄膜单轴各向异性常数K_u和立方磁晶各向异性常数K₁过程中扣除基片影响的一种方法。在此基础上利用二元回归法由实测的转矩曲线求出K_u和K₁,以及K_u和K₁的温度关系曲线。 关键词：     

脉冲偏场作用下石榴石磁泡薄膜中布洛赫线的形成

实验研究了石榴石磁泡薄膜中不同脉冲宽度下产生的硬磁畴的动态特性.结果表明：由零偏场下产生的枝状畴收缩而成的哑铃畴均逆时针转动,与产生枝状畴时所用的脉冲偏场的脉冲宽度无关.而固定直流偏场下由软畴段硬化而成的哑铃畴的转动状态,则与所用的硬化脉冲偏场的脉冲宽度有关.低脉冲宽度下硬化成的哑铃畴均逆时针转动,随硬化脉冲宽度的升高,出现混合转动向顺时针转动的过渡.由此揭示了直流偏场和脉冲偏场在石榴石磁泡薄膜中形成正、负垂直布洛赫线的作用. 关键词： 磁畴 磁泡 垂直布洛赫线     

反射光谱包络线法测量光电薄膜的光学常数和厚度

提出了一种利用薄膜反射光谱包络线法计算光电薄膜光学常数和厚度的方法。当一束光照射在基板上的介质膜上时,由于薄膜上、下界面反射光的相干,会使反射光谱的曲线有一定的波动。本文对反射光谱进行了理论分析,给出计算公式,从测量曲线中的实验值得出薄膜的厚度和光学常数。此种方法计算过程简单、迅速,而且易于编程处理。     

晃动法用于磁泡的动态测量

一、前言１９７４年Ｂｒｏｗｎ提出磁泡动态测量的新方法——“晃动法”（Ｒｏｃｋｉｎｇｔｅｃｈｎｉqｕｅ）．它是在传输法的基础上发展起来的．它和传输法不同的是：(1）在驱动迥路中通以正负驱动脉冲,使磁泡在梯度偏伤作用下来回晃动而产生两个稳定的磁泡象．（２）代替补偿迥路的是一个方框位阱迥路,其中通以“位阱直流”,形成软位阱,使磁泡圈在其中并和框外的磁泡或条状畴隔离．（３）考虑到磁泡在传输运动中的速度分....     

磁泡的动态测量

前言磁泡材料的畴壁迁移率和磁泡状态的测定是磁泡动态测量的两个重要内容．早先的阶梯函数响应法［１］和磁泡破灭法［２］虽然都能测量畴壁迁移率μω,但用作常规测试都不理想,并且都不能用来确定磁泡的状态．本文所介绍的脉冲梯度场磁泡传输法［３］,直接测量孤立磁泡在脉冲梯度场中的运动速度,从而测得迁移率．同时又从磁泡的运动方向确定磁泡的状态,方法简便,原理直观,所以这个方法被广泛地应用于常规测试和基础研?...     

磁泡石榴石外延膜磁参数漂移的起因和抑制方法

本文研究了磁泡石榴石外延膜磁参数漂移的起因和抑制方法。我们认为石榴石外延膜磁参数漂移的主要起因是过饱和熔体的非自发成核和长大,并利用熔体营养料的有效浓度R_eff=R₄-R_n-R_e予以解释。外延过程熔体营养料浓度的消耗是R_n+R_e,而且R_n比R_e对石榴石外延膜磁参数的影响大得多。在回温控制过程中R_n=0,其熔体是相对稳定的。衬底的搅拌可加速熔体的非自发成核和长大。 关键词：     

分光光度计测量透明薄膜的光学常数

利用Hitachi U-4100型紫外-近红外分光光度计测量了ZnO和ZnO：Al薄膜在240～2 100nm波长范围内的透射光谱,根据介质的洛伦兹和德鲁德色散模型,利用matlab自带的遗传算法工具箱,对实验测量的透射光谱进行了数据拟合,得到了与实验符合的很好的拟合曲线,并得到了薄膜厚度,折射率、消光系数的色散曲线。     

干涉法测量光栅常数

讨论了一种测量光栅常数的新方法.这一方法基于通过横向移动光栅改变各级衍射条纹之间的相位关系,进而改变相邻衍射条纹之间的干涉效应,从而完成光栅常数的测量.同时给出了运用这种方法完成光栅常数测量的一般条件,并简单地同其他几种测量方法进行比较.     

反射干涉光谱法测量固体薄膜的光学常数和厚度

本文报道一种简单的方法,从平原介质薄膜的反射干涉光谱来计算薄膜的光学常数和厚度。当一束光照射在基板上的介质膜上时,由于膜上下界面反射光的相干,会使反射光谱的曲线有一定的波动。我们对反射相干光谱进行理论分析,给出计算公式,从测量曲线中的实验值得出薄膜的光学常数ｎ、ｋ以及厚度等参数。此种方法简单可行,而且易于编程处理。     

各向异性聚合物薄膜参数的测量与计算

讨论了用单侧漏模法测量薄膜共振漏模的耦合角、计算漏模的有效折射率并由相应的模方程来确定各向异性聚合物薄膜折射率ｎ０、ｎｅ及厚度ｄ的方法。对ＰＴ－ＰＥＫ－ｃ（酞酸铅－聚醚醚酮）膜，测量与计算结果为：ｎｏ＝１．６５２５±０．００１４，ｎｅ＝１．６４３９±０．００１９，ｄ＝２．３３±０．３２μｍ。     

石榴石磁泡膜中3类硬磁畴的形成方法

研究石榴石磁泡膜中硬磁畴畴壁中垂直布洛赫线的稳定性可为研制布洛赫线存储器提供有益的帮助 .3类硬磁畴的形成是研究硬磁畴稳定性的前提 .本文综述了在石榴石磁泡膜上形成硬磁畴的 2类方法———“脉冲偏场法”和“低直流偏场法” .结合文献中的典型样品 ,对用“脉冲偏场法”和“低直流偏场法”形成 3类硬磁畴的过程进行了简单介绍 .     

干涉法测量非球面顶点半径和二次常数

非球面顶点半径和二次常数干涉测量是对二次曲面离轴子孔径在弧矢、子午和中间焦点位置直接干涉测量,拟合得到初级像差系数,并结合化置差计算出顶点曲率半径和二次常数.详细介绍了该方法的基本原理,在此基础上将子孔径中心法线与光轴夹角分解为两个倾角分量α和β引入,改进了现有模型.提出在子孔径对称情况下,可通过调整、控制特定项的泽尼克系数值,消除β分量.进而对新的模型进行了简化,只考虑α分量的影响,给出了仅存在该分量时的非球面顶点半径和二次常数的计算公式,编写了仿真程序.在α=0.03 °,β=0时.直径100 mm,F数为3的抛物面反射镜离轴子孔径的初级像差系数的理论计算和数值仿真结果最大偏差仅为0.0002 λ.研究表明:在子孔径中心法线与光轴的调整存在一定误差时,在弧矢、子午和中间焦点处的初级像差系数特征关系仍然成立.     

晶粒取向镍—铁合金各向异性的磁转矩法研究

本文测定了冷轧的及冷轧后又经不同温度退火的50％Ni-50％Fe合金的磁转矩曲线,从而对试样中的冷轧及再结晶结构作了推断。从具有完整立方结构的试样上测得的磁晶各向异性常数k₁和其他作者从单晶体上得到的值相近,而从保有冷轧结构的试样定得的k₁值则较大。考察了影响k₁测定值的可能因素;讨论了磁致伸缩各向异性导致的弹性能以及有序程度对k₁值的影响。 关键词：     

超声波法测量大气折射率结构常数

 用AMK-02型超声波大气参数综合测量仪同时测量了常规气象参数和大气折射率结构常数C²_n,分析并找出了该仪器给出的C²_n在转换时刻与热丝温度脉动仪的测量结果差异较大的原因,是由于超声波法测量温度脉动精度太低,只能达到0.01 K。同时建立了另一种适用于超声波仪计算C²_n的方法,即利用该仪器准确的常规气象参数计算C²_n,其计算结果与热丝温度脉动仪的测量结果吻合较好。     

立方磁晶各向异性对面内磁场中条畴和磁泡稳定性的影响

在八个(111)面磁泡膜上,观察了施加面内(in-plane)磁场后在不同晶轴方向上条状畴的消失过程,测量了条畴消失场H_s^*和磁畴消失场H_k^*与面内磁场的方向的关系。本文计及立方磁晶各向异性,完善了面内磁场中条畴的稳定性理论。用该理论定性地解释了实验结果的主要特点。导出了H_s^*与立方各向异性及面内场方向的两种近似的理论关系,它们分别适用于面内场方向靠近和不十分靠近〈110〉晶轴的情形。它们和实验结果是大致符合的。在〈110〉晶轴上,理论关系具有下列简单的形式:H_k^*<110>=H_s^*<110>=H_k{1+(k₁/2K_u)-[al/h(4πM_s/H_k)²]^2/3},此式与实验结果符合得相当好。 关键词：     

Cr-N薄膜结构和光学常数的研究

利用空心阴极离子镀（ＨＣＤ） 技术在硅片上镀一层均匀Ｃｒ＿Ｎ 薄膜。用Ｘ 射线衍射技术（ＸＲＤ） 分析了氮气分压对沉积的Ｃｒ＿Ｎ薄膜结构的影响。用椭偏测量术对Ｃｒ＿Ｎ 薄膜的光学常数进行测量     

球共振声学法测量普适气体常数

设计和建立了高精度的球共振声学法气体音速测量装置,分析了实际的球共鸣器的结构对共振频率的影响,并给予了相应的修正.测量了温度为29315K,压力在02MPa—08MPa范围内氩气的音速,并根据音速数据确定了普适气体常数.实验温度、压力和普适气体常数的不确定度分别为±14mK,±2kPa和±00036%.最终确定的普适气体常数R为831439±000030J·mol-1·K-1. 关键词： 普适气体常数 音速 球共振器 声学法     

普朗克常数的测量

本文运用绝对黑体辐射炉，采用三种不同方法测量ｈ，获得较好的结果。     

磁性薄膜的有效垂直磁各向异性场的全输运测量

采用磁控溅射方法,通过金属掩膜板制备了霍尔棒形状"CoFeB/MgO"体系薄膜样品,其中CoFeB层厚度为1.0nm、1.1nm、1.2nm,利用垂直温度梯度的反常能斯特效应和反常霍尔效应对其相关磁输运特性进行了测量,所得结果可分别等效为常规面内和垂直方向的磁滞回线,并由此获得了薄膜的有效垂直各向异性场.     

玻尔兹曼常数的测量

本文详细介绍了测量玻尔兹曼常数的一个简易方法．