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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 93 毫秒
1.
通过采用不同铝箔耐压进行高温贮存和耐久性对比试验,验证铝箔的耐压与老练电压、工作电压的关系;研制出适应降低耐压的高氧化效率工作电解液,满足了产品质量和可靠性的要求。  相似文献   

2.
3.
从工厂生产实践角度出发,叙述了雷达生产中的主要质量保证办法,并结合实例作了说明。  相似文献   

4.
健壮设计与产品可靠性   总被引:1,自引:0,他引:1  
胡仁深 《电讯技术》1993,33(5):32-35
本文从质量工程的观点出发,介绍健壮设计的机理。对健壮设计与产品质量以及两者之间的区别进行了介绍。使用健壮设计法,能够实现产品的高性能,高可靠性,高稳定性和低消耗的目的。  相似文献   

5.
本文对可靠性工程中可靠性和故障的基本概念、可靠性参数指标体系等可靠性相关理论进行了简要介绍,并重点对可靠性试验进行了详细的分类和说明.由于可靠性试验直接影响到产品质量的好坏,因此可靠性试验是产品可靠性工作的重要组成部分.  相似文献   

6.
李树生 《电子质量》2005,(9):41-42,36
电子装配的过程,直接关系到电子产品最终的质量与可靠性.本文就电子装配过程的工艺控制,阐述怎样通过工艺控制保证电子产品的质量与可靠性.  相似文献   

7.
尹大义 《电讯技术》1993,33(5):36-41
本文论述了环境应力筛选(ESS)的原理及其对提高产品可靠性的作用,并简要介绍了美国三军ESS规范和国家军标GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》及国外用于实施ESS的设备情况。  相似文献   

8.
解金山 《半导体光电》1990,11(3):265-272
本文详细地讨论了光纤通信的光源——半导体激光器(LD)和发光管(LED)的可靠性;重点论述了长波长光源的可靠性以及筛选方法。  相似文献   

9.
COTS器件空间应用的可靠性保证技术研究   总被引:4,自引:1,他引:3       下载免费PDF全文
党炜  孙惠中  李瑞莹  吕从民 《电子学报》2009,37(11):2589-2594
 为保证COTS(Commercial off-the-shelf)器件成功应用于我国高可靠的航天产品中,本文总结分析了国内外空间应用COTS器件的发展情况,提出了空间应用COTS器件的可靠性保证总体思路.该思路特点是首先进行与任务剖面相结合的可靠性评估试验,再对COTS器件进行可靠性筛选.对于热环境的可靠性保证,通过研究NASA的筛选规定,提出了不同任务要求下的老练温度-老练时间的对应关系式;实例表明温度可靠性评估试验方法能够指导工程.对于电离总剂量的可靠性保证,提出了不同任务条件下的回归筛选模型,并进行了验证,相对误差为1%.结果表明本文能够系统性地指导空间工程应用COTS器件.  相似文献   

10.
根据电子产品所存在的明显失效和潜在失效以及产品因报废而使寿命有限的实际 ,对传统失效率曲线作了修正 ,所提出的模型可用于分析描述产品筛选和老练过程中的失效规律。  相似文献   

11.
论述了现阶段军用集成电路为提高可靠性所应注意的问题以及如何在实际生产中采取相应的措施来进一步提高器件的可靠性。  相似文献   

12.
可靠性保证作为产品保证的一个重要组成部分,在航天行业中有着极为重要的地位。以美国和欧洲的可靠性保证标准为主要阐述对象,辅以俄罗斯标准和我国军用可靠性标准的情况,从可靠性保证体系发展和建设等方面综述了国内外可靠性保证标准的发展情况。  相似文献   

13.
论述了软件可靠性对软件质量的重要影响,分析了影响软件可靠性的主要因素,重点阐明了提高软件可靠性的六条关键途径。  相似文献   

14.
黎旺星 《电子质量》2005,(12):42-43
本文分析了在工程应用中元器件失效的原因,并提出了相应的解决方案.  相似文献   

15.
概述了电子产品可靠性的评价办法,分析了影响可靠性的主要原因,以及可靠性设计的计算和测试方法,并提出验证的方法。  相似文献   

16.
KGD质量和可靠性保障技术   总被引:7,自引:0,他引:7  
通过裸芯片可靠性保障技术研究,在国内形成了一部完整的已知良好芯片(KGD)质量与司靠性保证程序,建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统,确立了裸芯片测试、老化和评价技术,实现了工作温度为-55~ 125℃的裸芯片静态、动态工作频率小于100MHz的测试和工作频率小于3MHz的1 25℃动态老化筛选,可保障裸芯片在技术指标和可靠性指标上达到封装成品的等级要求.  相似文献   

17.
黄云 《电子质量》2003,(10):J002-J005
本文从元器件制造工艺可靠性保障角度分析了元器件的质量与可靠性增长方法和技术,元器件的可靠性是设计进去制造出来的,在设计定型的情况下,工艺制造过程对其质量和可靠性的影响很大,最终产品的可靠性水平取决于工艺制造,应用REM、PCM和SPC等可靠性保障技术实现产品的高质量高可靠性和可重复性,是今后元器件研制和生产的必然趋势。  相似文献   

18.
王明炯 《光电子技术》1992,12(2):148-154
本文叙述了军用光电产品可靠性和可靠性保证大纲实施的内容。  相似文献   

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