波长色散X射线荧光光谱仪的内部校准

根据波长色散X射线荧光光谱仪检定规程制定了内部校准作业指导书,对PANalytical Axios 4.0型X射线荧光光谱仪的外观、精密度（RSD）、稳定性（RR）、探测器分辨率（流气正比计数器、闪烁计数器、封Xe正比计数器）和仪器的计数线性进行了性能测试和内部校准.     

波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍

介绍澳大利亚国家标准和中国国家计量检定规程中关于波长色散型 X射线荧光光谱仪的性能测试方法 ,并对 SRS34 0 0型 X射线荧光光谱仪进行了性能测试和计量检定。     

顺序式X射线荧光光谱仪调研综述

对新型波长色散单道顺序式X射线荧光光谱仪的性能作了比较，包括ARL 9400、PW2400／2404、SRS3400、RIX2100／3001和XRF1700等荧光光谱仪主要部件的技术指标、计算机硬件配置、定性和定量分析软件及无标样分析软件等。还比较了新型号仪器的特点和报价，征询了用户对仪器性能的评价和售后维修服务的印象。     

用X射线荧光光谱法测定钢材中成份

钢材是以铁为基体的多元体系。本方法采用X荧光光谱测定钢材中的元素成份,除测定杂质元素外并能测定基体元素铁。测定结果是令人满意的。     

波长色散X射线荧光结合元素分析仪分析金华佛手14种元素

以VarioⅢ元素分析仪分析金华佛手C,H,O,N含量,以PW2400波长色散X射线荧光光谱仪定性扫描佛手样品,采用IQ+分析法分析Mg,Al,P,S,Cl,K,Ca,Mn,Fe,Sr元素含量。结果表明,将C,H,O,N元素含量作为固定项处理,结果较为理想;为防止样品表面脱落而采用Mylar膜将样品包裹技术,通过对膜系数的校准,分析结果比较理想。     

粉末压片法波长色散X射线荧光光谱分析铁矿石样品的矿物效应校正初探

利用10个国内铁矿石标样,对粉末压片法波长色散X射线荧光光谱分析铁矿石样品中主、次量元素时的矿物效应校正进行了初步探讨。文章采用两种方法试图降低由于矿物效应带来的影响。第一种方法(角度校正法)是在测量每个样品 前(包括校正标样以及未知样),对每个待测元素的2θ角度进行实际测量,以校正可能存在的角度偏移;第二种方法(峰面积法)是用峰面积代替峰强度,以校正由于峰形变化所带来的影响。最后用回归分析后的Ｋ因子进行比较。结果表明, 两种方法对矿物效应进行校正都可以不同程度地改善铁矿石中主要元素的校正曲线,尤其是S的校正曲线改善明显。如果在角度校正法或峰面积法的基础上再用基体校正系数,除总Fe外,其他组分均可以满足分析要求,但总Fe仍需要采取 其他措施。     

X射线荧光光谱法测定不锈钢中的组分

用X射线荧光光谱法测定了不锈钢中Si、Mn、P、Cu、Ti、W、Mo、V、Ni、Cr、Nb等11种元素的含量。对磨样条件、准确度和精密度进行了实验,实验表明本方法与化学法所测结果相符。     

SPECTROSCAN-U型便携式波长色散X射线荧光光谱仪现场测定铜矿区的15种元素

采用SPECTROSCAN－U型便携式波长色散X射线荧光光谱仪，使用粉末样品压片制样，现场分析了某铜矿区样品中的Cu、Pb、Zn、Co、Ni、Cr、V、Ti、Mn、Rb、Sr、Zr、Y、Ca、Fe等15种元素，获得了较好的精密度与准确度。用现场分析数据圈出的异常图与室内化学分析数据圈出的异常图符合较好，为野外现场快速分析作了有益的尝试。     

同步辐射X射线荧光光谱国内外研究进展

同步辐射光源是带电粒子在加速器储存环中以接近光速的速度运动时,沿轨道切线方向发射出的辐射,同步辐射X射线荧光分析(SR-XRF)是以同步辐射X射线作为激发光源的X荧光光谱分析技术.同步辐射X射线荧光分析包括了用于微区及微量元素分析的同步辐射XRF、用于表面及薄膜分析的同步辐射全反射X射线荧光(SR-TXRF)以及用于三...     

掠入射凹面光栅谱仪高级次衍射光谱相对效率测量

测量了波长2.847、3.373、4.027、9.873和10.24nm谱线的一级和高级次光谱强度。给出了以一级光谱强度为标准的高级次衍射光谱的相对效率,并对测量结果进行了分析、讨论。     

CCD智能化光谱仪的研制

本文报道了一种新型的ＣＣＤ光谱仪的研制，包括三部分；即ＣＣＤ光探测器，光路系统，与计算机联接的控制和数据采集系统。该光谱仪的分辨率为０．０３５ｎｍ，灵敏光谱范围４００－９００ｎｍ。光谱仪操作简便，可对复杂光谱进行快速处理。已成功应用于低温等离子体的光谱诊断，获得了很好的测量结果。     

X射线荧光光谱分析检出限计算公式

本文根据测量的统计误差理论,对XRFS分析中不同背景和基体校正方式下的检出限述一进行讨论并导出了相应的计算公式,所得结论可作为选择微量元素XRFS分析的背景和基体校正方法以及拟定最佳实验条件以获得最低检出限的理论依据。     

用于激光等离子体诊断的硬X光能谱仪

介绍了利用滤片和探测器阵列组合的硬X光能谱仪(简称FFS)的工作原理,结构性能和数据处理。文章最后给出了FFS在惯性约束聚变(ICF)实验中测到的硬X光谱的典型结果。     

透射光栅时间分辨谱仪

透射光栅时间分辨谱仪是获取激光等离子体软X光辐射高分辨能谱时间二维信息的实验诊断装置。介绍了在国内首次建立的透射光栅时间分辨谱仪的原理、结构和性能,给出了该谱仪测得的金平面靶软X光辐射能谱时间谱并对其做了初步的讨论。     

用于激光等离子体诊断的亚千X射线能谱仪

本文简介了由滤片-X射线二极管阵列组成的具有亚纳秒时间分辨的亚千X射线能谱仪。在0．1到1．5keV能区能量分辨约为200eV。着重介绍了谱仪的结构和应用，数据处理及误差。并就激光-金平面靶相互作用实验中，在激光强度约10^14w／cm^2条件下获得的部份数据进行了简化处理，给出了激光等离子体亚千X射线辐射能谱，由此推出等离子体辐射温度。     

GaAs衬底上Ga In1—xP膜的电子探针X射线波谱分析

本文用波长色散型电子探针对ＧａＡｓ衬底上ＧａｘＩｎ１－ｘＰ混晶膜的元素组分进行了分析，为用ＳＥＭ－ＷＤＳ测定该类混晶膜材料作了一次试验。     

分光计调节难点探讨

分光计是大学物理实验中常用的一种仪器。由于其调节内容较多,如何快速地调出分光计中的两面的反射十字像是分光计实验中的难点。本就调节中的这一难点进行了分析,并提出几种适当的调节办法。     

频率注入锁定的超再生NQR谱仪

本文首先简述超再生振荡器的频率注入锁定的基本原理,然后介绍一台频率注入锁定的超再生NQR谱仪的工作原理。该谱仪的频稳度高(10^-4-10^-5),频率测量方便,检测谱线线型失真小,可用来观察样品的NQR纯色散和纯吸收谱。文中还给出用本谱仪检测的氯酸钠(NaClO₃)粉末中的³⁵Cl核的NQR纯吸收谱和纯色散谱。