飞行时间二次离子质谱结合X-射线光电子能谱分析化学清洗后残留的表面有机物

用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合X射线光电子能谱,分析了用化学方法清洗后银片上残留的未知有机物.TOF-SIMS与XIPS提供的互补的表面信息显示,中分子量以上的有机物主要是几种链长22～27碳原子、碳链饱和度很高的多酮类化合物,可能还有一些多酯类化合物.这些有机物中的C=O基团易于采取氧原子指向金属基体表面的取向,通过带部分负电荷的氧原子与金属基体镜像力的作用而增强粘附.     

飞行时间二次离子质谱在指纹分析中的研究进展

指纹作为接触类犯罪案件现场最常见的痕迹之一,基于其形态学价值及承载的物质进行分析是个体识别、侦查破案的重要手段。飞行时间二次离子质谱技术（TOF-SIMS）是一种兼具高质量分辨率和高空间分辨能力的表面分析技术,能够同时获得待测物质的质谱信息和成像分布。相较于其他理化分析技术,TOF-SIMS所具备的快速检验、无需前处理、原位近无损分析等优势使其逐渐成为指纹分析领域的前沿课题。该文基于TOF-SIMS在成像增强、物质分析、犯罪信息挖掘等指纹分析领域的研究现状展开综述,分析其在公安实战中的应用前景,以期为该技术在指纹检验领域的推广奠定基础。     

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新化合物的结构

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物,确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰,通过对各种衍生物谱图的对照分析,确认出较强的含有结构特征的碎片离子峰,并对该化合物在离子轰击下的裂解规律作了分析,支持了对该新化合物结构的鉴定.     

样品表面污染对X射线光电子能谱定量分析的影响

用X射线光电子能谱(XPS)研究了表面碳污染物对样品的元素相对定量误差的影响。结果表明,样品表面含有碳污染物能引起光电子动能较低的元素的相对定量分析结果偏低,而且样品中两种元素的光电子动能差越大,相对误差越大。在用元素灵敏因子法进行XPS定量分析时,样品表面污染是不可忽略的误差来源。     

用X—射线光电子能谱对钇的配位化合物价态的研究

二价的配合物3p能级分裂间距大于三价Y的化合物,二价Y的4s多重分裂也是鉴别Y的价态指纹。     

MAPLE膜的制备及其X射线光电子能谱研究

MAPLE（matrix—assisted pulsed laser evaporation）技术是近年来发展起来的一门有机薄膜制备技术,与传统的有机薄膜制备技术相比,具有优越的技术特点．在非线性光学材料、发光器件、电磁材料和各种传感器方面都有着广泛的应用前景．利用MAPLE技术成功制备了聚酰亚胺薄膜,并利用X射线光电子能谱对其表面进行了分析．光电子能谱结果显示,在低激光能量密度时,单光子效应明显,化学键断裂,发生分解,不利于薄膜的制备．而在高激光能量密度时,单光子效应降低,多光子效应和光热效应增强,聚酰亚胺的结构得到保护,分解明显减弱．     

四卤合金属酸十八铵的X射线光电子能谱和质谱研究

利用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）、质谱（ＭＳ）方法分别研究了１５种四卤合金属酸十八铵化合物。通过ＸＰＳ讨论了这些化合物的金属、卤素、氮原子的核心结合能的化学位移。根据Ｐａｕｌｉｎｇ电负性讨论了这些数据和计算电荷的关系。讨论了配位体Ｘ（Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、中心离子Ｍ（Ｚｎ、Ｃｏ、Ｃｕ、Ｍｎ、Ｃｄ）和质子化十八胺Ｃ１８Ｈ３７ＮＨ＋３的关系。通过ＭＳ讨论了在电子轰击、化学电离条件下，四碘合钴酸十八铵、四氯合钴酸十八铵加热分解产生的Ｃ１８Ｈ３７ＮＨ＋３（ｍ／ｚ２７０）离子碰撞诱导解离谱（ＣＩＤＭＳ）。通过低碰撞能量范围（０～１０ｅＶ），多次碰撞条件下观察到的远电荷碎裂反应，得出该离子比直接由正十八胺质子化得到的离子具有较高的内能     

环氧树脂的飞行时间次级离子质谱

用飞行时间次级离子质谱结合银离化方法了集成电路封装用环氧模塑料的主要成分－－领甲酚环氧树脂。实验中测得ｎ＝０－４的树脂分子及相应的水解成分。碎片离子中除了芳香化合物通常具有的碎片外,还有反映树脂结构的碎片,通过对银离化了子的分析,推断中间不上的侧链是最可能断裂的     

基于飞行时间二次离子质谱的指纹遗留人个体识别的研究

指纹作为法庭科学领域中用于人身认定的重要物证,蕴含了丰富的个体信息。但是,在实际案件现场中,提取到的多为模糊和残缺的指纹,无法利用传统的形态比对方法进行鉴定;而且指纹中物质成分复杂,也很难通过检测其中的具体物质实现遗留人的溯源分析。飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）能够在不破坏检材的情况下获得指纹物质的离子信号,同时获得对应的离子分布图像,为利用指纹物质信息进行个体识别提供了可能。本研究利用TOF-SIMS采集了5名志愿者十指指纹的质谱信息,初步探究了基于指纹物质离子信号进行遗留人个体识别的可行性。首先筛选出98种代表指纹物质的离子信号,利用主成分分析法对筛选出的离子信号强度进行降维,再将降维后的主成分新变量输入到不同的分类器中对比。结果表明,使用无监督的层次聚类法的结果与实际的分类相差较大,难以进行个体区分;使用有监督的Fisher判别法对个体进行判别,正确率可以达到94%,交叉验证的正确率也达到了90%;将数据输入到多层感知机神经网络中,经过多次训练可以得到更加理想的结果。本研究借助多种统计分析方法建立了个体分类和预测模型,为指纹证据价值的提升提供了新渠道,也为后期利用指纹物...     

CL-20电子束的X射线光电子能谱-气体质谱原位同步分析技术研究

X射线光电子能谱仪是材料表面元素定性和半定量分析,尤其是元素化学态分析的重要手段之一. X射线光电子能谱仪的分析腔连接质谱仪进行分析,可有效获得样品表面元素变化及气体产物,实现原位同步分析. 基于炸药CL-20在光作用下存在着明显的分解现象,采用X射线光电子能谱-气体质谱同步分析方法(XPS-MS)获得CL-20在电子束作用下的表面元素及气体产物的变化. 试验结果表明,随着辐照时间增加,N、O元素峰峰强迅速下降,同时质谱仪可以有效获得气态产物峰,证实XPS-MS同步分析技术能够有效地实现对固态光降解反应的原位同步追踪.     

用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分

用飞行时间二次离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分：邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。测得ｎ＝０～４的环氧树脂分子及相应的水解成分和ｎ＝１～７的酚醛树脂分子。碎片离子中除了芳香化合物的特征碎片外,还有反映树脂结构的碎片。通过对环氧树脂银离化碎片离子的分析,推断中间苯环上的侧链是最可能断裂的     

基于飞行时间二次离子质谱成像技术的人民币上指纹化学成像研究

长期流通过的人民币上潜在指纹的显现一直是法庭科学领域研究的难点之一。飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)技术具有原位、准无损、高通量、可多组分平行分析和空间分辨率高等优势。本研究利用TOF-SIMS技术对人民币表面的潜在指纹进行化学成像,比较了TOF-SIMS与几种传统方法的显现效果,研究并分析此技术具有的独特优势,从普适性、灵敏度和指纹三级特征获取的角度进一步探讨了方法的适用性。利用此技术对指纹中的外源性物质进行了分析,检测出保湿乳成分中丙三醇的分子离子峰(m/z 92.06)和碎片离子峰(m/z 43.02),并显示清晰的指纹图像。研究结果表明,TOF-SIMS技术为长期流通过的人民币上潜在指纹的显现提供了一种有效的方法,并有望用于其表面上指纹中物质的检测。     

离子肼飞行时间质谱表征硫酸软骨素/硫酸角质素二糖

硫酸软骨素(CS)和硫酸角质素(DS)结构决定它与蛋白的相互作用。因此对CS/DS结构的解析,能够进一步阐明结构与功能之间的关系。采用电喷雾离子阱多级质谱技术(ESI-MSn)在负离子模式(ESI-)下表征8种CS/DS二糖裂解规律。二糖的裂解发生在糖苷键和糖环位置,N-乙酰半乳糖胺上主要断裂方式为0,2X,而糖醛酸主要断裂方式为0,2Z。所含亚硫酸根越多越不稳定。亚硫酸根的位点决定了糖结构稳定性,含4位氧亚硫酸的二糖相对最不稳定。此外糖苷键的位置也决定了糖结构的稳定性。二级质谱表明同分异构体有其特定的裂解规律。该质谱裂解规律有助于CS/DS二糖同分异构体的鉴定。     

酞菁（H_2TAP）的X－射线光电子能谱（XPS）

酞菁（Ｈ_２ＴＡＰ）的Ｘ－射线光电子能谱（ＸＰＳ）朱志昂，卜显和，刘月霞（南开大学化学系天津３０００７１）ＰａｕｌＧ．Ｇａｓｓｍａｎ（美国明尼苏达大学化学系）关键词酞青，ＸＰＳ，Ｃ１ｓ电子结合能，Ｎ１ｓ电子结合能酞菁及其金属配合物作为叶绿素，血红素的?..     

含氧酸盐热反应法制备Y-Ba-Cu-O系超导膜的X射线光电子能谱(XPS)研究

用X射线光电子能谱(XPS)法研究了在基体ZrO上以含氧酸盐热反应法制得的YBaCuO超导膜的表面状态、组成及各成分元素的结合能,特别是Ar~+刻蚀前后膜表面组成和状态的变化,并与另一条件下制得的Y_2BaCuO_5非超导膜作了比较。探讨了Ar~-刻蚀前后,超导膜表面状态和组成变化的原因。确定了YBa_2Cu0超导膜中各成分元素的结合能:Y=156.3eV;Ba=778.5eV;Cu=933.5eV和Os=528·3eV,529.4eV。结果还表明:超导膜表面容易受H_2O和CO的侵蚀,生成BaCO。