威布尔分布下竞争性故障装备的可靠性分析

利用外场故障数据,对威布尔竞争性故障装备进行了可靠性分析。首先对外场故障数据进行处理和失效模式分析,分别为各部件建立威布尔分布模型,得到其形状参数和尺度参数。进而在竞争性故障下,得到装备的可靠度函数和失效率函数。最后给出了一个陀螺仪算例来说明该分析方法的有效性。研究表明,该分析方法更符合装备的故障规律。     

光敏二极管的可靠性和寿命分析

在大量实验的基础上,通过理论分析和数据处理,采用威布尔概率纸图估法,评估了为某种设备的特殊需要生产的一种新型硅光电探测器的可靠性和寿命。在正常工作条件(300K)时,器件的平均寿命为1.04×108h;在40℃时,器件的失效率等级达到国家标准规定6级。详细分析了光敏二极管的失效模式及失效机理,提出了提高光敏二极管的可靠性和寿命的措施。     

用Excel进行威布尔型产品可靠性数值仿真评估

基于最小二乘法,利用Excel的已有函数和单元格的引用,估计威布尔分布的参数m和η,用RAND()函数产生的随机数和逆变法抽取服从分布参数为m和η的威布尔分布抽样样本,计算可靠度的一个抽样值,反复抽样,得到可靠度的分布密度函数,用SMALL()函数返回可靠度置信下限的仿真值。实例表明,仿真结果与计算结果很接近,用Excel进行可靠性数字仿真,可以避免繁杂的编程工作,方便实用。     

基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计

缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为"硬故障"或"软故障"的概率,给出了精度较高的IC成品率预测模型.利用成品率缺陷与可靠性缺陷之间的关系,给出了工艺线生产的产品的失效率与该工艺线制造成品率之间的定量关系.在工艺线稳定的条件下,通过该工艺线的制造成品率可以利用该关系式可以有效的估计出产品的失效率,可以有效地缩短了新产品的研发周期.     

产品的故障分布与可靠性增长趋势的探讨

探讨了在工程上如何确定产品早期失效阶段结束，提出依据统一场理论确定其特征参数的数值，来求证其可靠性指标是否达到产品所要求值。     

产品可靠性测试失效的预分析

产品可靠性测试的失效分析是半导体失效分析的重要也是极具挑战性的部分。而物性失效分析前的预分析（包括电性失效分析）又是整个产品可靠性失效分析中的关键步骤。充分和合理的预分析是提高物性失效分析成功率的重要保障。本文主要根据不同的产品可靠性测试的失效类型和机理来介绍常用的预分析方法和手段,并通过具体的实例图片来阐述预分析的重要作用。将预分析融合于产品可靠性失效分析中,将取得事半功倍的效果。     

加强失效分析,提高产品可靠性

通过对一批七专电路键合点严重腐蚀的失效分析,提出了相应的改进措施,使产品的可靠性得到了保障.     

DM 50 kW中波广播发射机几例软故障的处理

本文对DM50kW中波广播发射机实际工作中发生的软故障进行了分析和处理,并介绍了全固态发射机软故障检修方法及维护经验。     

基于参数回归分析的金属化膜脉冲电容器竞争失效分析

金属化膜脉冲电容器既有突发型失效又有退化型失效.通过分析金属化膜脉冲电容器的退化失效机理,在假设突发失效与退化失效相关的条件下,给出了基于参数回归分析的电容器竞争失效的一般模型,最后利用该模型对某金属化膜脉冲电容器的试验数据进行可靠性分析.根据评估结论,该电容器打靶10 000发的可靠度为0.798 6.该模型为竞争失...     

威布尔分布无故障数据的可靠性评估

对于威布尔分布无故障数据可靠性评估方法中形状参数已知和未知的两种方法,通过一个例子进行对比分析,指出当形状参数毫无所知时,所得到的基本可靠度置信下限估计最为保守。通过相似产品的信息和工程经验对形状参数作出一个较为精确的估计是可行的。     

相关竞争失效场合雷达功率放大系统可靠性评估

针对相关竞争失效场合难以获取高可靠部件的性能分布信息,无法对系统可靠性进行准确估计的问题.提出了相关竞争失效场合下考虑认知不确定性的多态系统可靠性评估方法.该方法首先通过假定部件突发失效阈值为递减型随机过程来表征累积退化与突发失效的相关性,同时为降低对部件认知不确定性的影响,假定冲击引起的部件性能损伤分布参数和突发失效参数均为区间变量,建立基于区间变量的部件性能分布模型;而后对传统的通用生成函数方法进行改进,给出了区间通用生成函数的定义及其运算法则;最后对某型雷达功率放大系统的可靠性进行分析.该方法不仅克服了部件的失效模式复杂、状态信息少的不足,且方法简单、思路清晰,具有很强的通用性和工程应用价值.     

不同的退化模式共存时产品退化失效分析

在高可靠性、长寿命产品的可靠性分析中,当产品的失效为退化型失效时,利用产品的性能退化数据进行可靠性分析是一种更合理的方法。在考虑产品既存在平稳退化,又存在随机退化时,研究了产品退化失效的一般模型并给出了模型参数的估计方法。最后,利用所给的模型对强激光装置所用的某型金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,并验证了该方法的可行性。     

微波器件的可靠性及失效分析

微波器件的可靠性直接影响整机系统的可靠性,失效分析工作可以显著提高微波器件的质量与可靠性,从而提高整机系统的质量与可靠性。同时,失效分析工作会带来很高的经济效益,对元器件的生产方和使用方都具有重要意义。微波器件失效的主要原因有两个方面:固有缺陷和使用不当,固有缺陷由生产方引起,使用不当主要由用户引起。微波器件可以分为微波分立器件、微波单片电路以及微波组件三大类,文章分别对三类微波器件的主要失效模式和失效机理做了较为全面的分析和概括。     

基于状态信息的退化失效型产品模糊可靠性评估

考虑到退化失效型产品性能下降主要表现为状态参数发生漂移,可靠性评估模型中随机参数具有模糊特性,提出一种利用状态信息评估模糊可靠性的方法.采用随机冲击累积失效模型描述退化过程,模糊化参数漂移的动态范围,引入模糊隶属函数,推导出产品模糊可靠度的分析模型.结合具体实例进行验证,对比分析了不同隶属函数下的模糊可靠性与常规可靠性...     

金属膜电阻失效前后概率分布及可靠性分析

产品在加工时总会有不可控的因素影响产品质量的稳定性,为解决这一问题,本文从可靠性分布函数的角度提出了提高电阻质量的方法。本文通过对金属膜电阻进行步进应力加速寿命试验以及电阻失效前后概率分布试验,得到了失效前后的阻值概率分布函数及正常应力下的概率分布函数与可靠性指标。实验结果表明,电阻阻值失效前后分布都属于威布尔分布。同时,给出了电阻损伤7.2%~15.6%,且失效模型为持续施加电压下不可逆的积累损伤模型时的分布函数,并获得了合格电阻与冒烟损坏电阻概率分布曲线的明显区别,从而,有可能从概率分布角度定义电阻的质量特性。     

可靠性分析在新产品研发中的作用

主要围绕产品开发，提出了可靠性分析在研发过程中的重要作用和工作程序．将以往单纯追求产品仿造转换为失效模式分析与失效机理分析相结合、技术指标与质量验证相结合的工作模式．不仅改进了研发的工作模式，而且保证了产品的可靠性，其目的是确保研发产品达到预定的技术指标。由于这种工作模式从根本上确保质量达标，因此可以固化为标准的方法，应用到新产品的研发工作中。