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X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素 总被引:1,自引:0,他引:1
提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要。本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨。考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对K~α,L~α和M~α的激发因子考察了它们之间的差异。 相似文献
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引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。 相似文献
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X射线衍射多谱峰匹配强度比定量相分析方法 总被引:4,自引:0,他引:4
提出了1种采用x射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法;该法是利用混合物样品x射线衍射谱图中的多谱峰数据,结合ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析,求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度比;以多谱峰匹配强度比取代通常采用的特定单一谱线强度比,用于混合物样品的x射线衍射定量相分析,有利于提高定量相分析的精度;采用多谱峰匹配强度比结合绝热法和基体清洗法X射线衍射定量相分析原理,通过对4组分混合物样品的分析,证实实验结果和理论完全一致。 相似文献
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基本参数法是利用X射线荧光强度的理论公式计算试样各组分浓度的方法。该法的优点是仅需纯元素作标样甚至不用标样即可进行多组分的试样分析。1968年Criss等提出这一方法后,近年来在试样分析、计算经验系数法中的经验系数以及将基本参数法与经验系数法相结合等方面均取得了较大的进展,而日益受到广泛的重视。一些作者认为目前基本参数法准确度尚差,主要是因为基本参数包括原级X射线谱强度分布数据不准确所致,至今已发表的原级X射线谱强度分布数据仅钨靶就有五种之多,其中四 相似文献
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X射线衍射定量相分析新方法 总被引:11,自引:2,他引:11
在基体清洗法的基础上提出一种新的X射线衍射定量分析方法,该方法是利用混合样品X射线衍射谱图中的全部衍射峰数据,把清洗剂同样品中所包含的所有待测物相的纯相按比例混合,在同一水平下同时测定各物相与清洗剂对应的几个K值,结合JCPDS卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘方程组的抛弃平均法回归分析,求得混合物样品中各相间的全谱峰匹配强度比,用于混合物样品的X射线衍射定量相分析,有利于提高定量相分析的精度,通过对四组分混合物样品的分析,实验结果和理论完全一致。 相似文献
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研究了小功率空气-氩气混合气冷却ICP中4种元素(钙、钡、铜、锌)、8和谱线的强度和信背比随冷却气组成及观测高工估算了折中条件下的检出限。对于离子线及激发电位较高的原子线,冷却气中引入体积分数为5-10%空气后,谱线强度最大并大于Ar-ICP中数值;对于激发发电位较低的原子线,随着气中空气含量的增大其谱线强度逐渐减小,谱线的信背比则与激发电位及谱线波长有关。 相似文献