一种简便的光盘光栅常量测定方法

把光盘作为反射光栅，讨论了测量光栅常量的原理，并用激光器和刻度尺测量了光盘的光栅常量．     

测量光栅常量的一种简便方法

介绍了用普通日光灯作光源测量光栅常量的简便方法。     

干涉法测量光栅常数

讨论了一种测量光栅常数的新方法.这一方法基于通过横向移动光栅改变各级衍射条纹之间的相位关系,进而改变相邻衍射条纹之间的干涉效应,从而完成光栅常数的测量.同时给出了运用这种方法完成光栅常数测量的一般条件,并简单地同其他几种测量方法进行比较.     

光栅衍射实验中测量光栅常数的两种辅助方法

衍射光栅可以将不同波长的光在空间上分离开,在光谱分析领域中有广泛应用.利用光栅的衍射来测量光栅常数是大学物理实验中的一个典型实验,而本文介绍的正是光栅衍射实验中的两个有趣现象:一是旋转光栅时,谱线的偏转角存在一个最小值;二是光栅旋转到一定角度时,衍射光斑会逐渐消失在视野中.论文从理论上分析解释这两种现象,并设计出两种测量光栅常数的方法,在实验上进行验证.与传统的用最小偏转角测光栅常数的方法相比,本文重点分析了由判定最小偏转角位置偏差所带来的影响,并提出了对称旋转测量的方法来进一步减小误差.     

最大偏向角法测光栅常量

结合光栅衍射实验中±1级衍射光随光栅片转动而分别向左右移动到某一位置消失的具体现象,在光栅实验中提出了“最大偏向角”的概念,并给出了通过测量最大偏向角来计算光栅常量的方法.     

聚二甲基硅氧烷光栅薄膜制备及光栅常量测量

利用模板技术复制光盘沟槽结构,制备了聚二甲基硅氧烷光栅薄膜,并采用激光光栅衍射方法测量了光盘及复制薄膜的光栅常量.结果表明制备的聚二甲基硅氧烷薄膜光栅衍射现象显著,与光盘的光栅常量一致.     

长周期光纤光栅耦合常数的研究

长周期光纤光栅表现为前向传播的纤芯基模与同向传播的各阶次包层模式在特定波长时的模式耦合。由纤芯基模、一阶包层模式的场分布推得其功率分布 ,进一步得到两种模式的归一化常量。推导了纤芯基模与一阶各次包层模式 (HE1l/EH1l)的耦合常数。结果表明 ,纤芯基模与HE1l包层模式产生的耦合常数远大于与EH1l包层模式的耦合常数。次数低时 ,耦合常数随包层模式次数的升高而增大     

分光仪测衍射光栅常量的实验设计与数据处理

不等精密度测量在实验中是很普遍的现象,而在现行的本科基础实验教学中对此的强调是不足的.本文以分光仪测衍射光栅常量的实验为例,针对光学实验在设计与数据处理上强化不等精密度测量进行探索研究.     

光栅常量实验的数据处理

以测光栅常量实验的数据处理为例，叙述了一元线性不等精度测量的不确定度评定方法，介绍了直接从方差的性质推得斜率b及截距b0的不确定度的公式。     

真空紫外波段光栅二级衍射效率测量装置

利用光栅二级衍射会影响反射样品光谱反射率结果的原理,通过计算不同光谱反射率获得了光栅二级衍射效率。介绍了测量二级衍射效率的实验装置,该装置采用双光路单色仪结构,使用已知光谱辐亮度氘灯作为光源,探测器为光电倍增管,通过水杨酸钠膜将紫外光转为可见光。以波长161nm为例,测量了5块反射镜样片,计算得到光栅二级衍射效率为0.00611×(1±0.0777)。分析表明,该方法采用的测试装置简单,系统不确定度为14.08%,可以实现真空紫外波段光栅二级光谱衍射效率的连续测量。     

光学波段量子点阵衍射光栅的衍射特性

概述了量子点阵衍射光栅的原理及制作方法,并设计标定实验,研究了不同角度及不同波长入射情况下量子点阵光栅的衍射特性。研究结果表明：量子点阵光栅不存在高级衍射,只保留了±1级和0级衍射,具有理想的单级衍射模式。光学波段量子点阵衍射光栅的成功研制为研制紫外、X光波段具有单级衍射特征的光栅提供了契机。