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偏振共焦扫描显微镜的成像特性研究 总被引:3,自引:0,他引:3
讨论了共焦扫描激光显微镜的纵向分辨率和信噪比对三成像的影响,给出了纵向分辨主极限判据,提出了旨在提高信噪比进而获取强表面反或弱散射物体以及偏振物体的显微结构图象的偏振共振扫描激光显微镜。 相似文献
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在研制用于对厚的生物样品进行光学断层成像的共焦扫描荧光显微镜时,由于成像信号十分微弱及存在很强的多次散射作用,因此杂散光的抑制非常重要,而信噪比、信号背景比就成为决定能否获得高对比度、高分率图像的关键。运用光学信息量的概念,在已有的光学成像系统信息量计算、共焦扫描荧光显微镜信噪比及传递函数计算的基础上,详细分析了共焦扫描荧光显微镜信息量与信噪比等之间的定量关系。该关系表明,为了充分利用共焦扫描荧光显微镜的成像性能,必须选择适当的探测小孔。所得的结果对于共焦扫描荧光显微成像系统的研制有重要的实用价值。 相似文献
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简述共焦激光扫描荧光显微镜的基本原理,给出了扫描系统的方案确定和优化设计的方法,使用该方法可使扫描渐晕减少为原来的1%。同时还给出了扫描控制系统的运行和控制法以及获得均匀图像的补偿方法。 相似文献
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荧光共焦扫描系统成像特性的优化 总被引:8,自引:0,他引:8
对荧光共焦扫描系统用光强点扩散函数进行傅里变换得到系统三维传递函数的数学模型,并由此求得环形透镜和各种有限大小探测器系统的光学传递函数。用计算机模拟和光学传递九数值计算,分析了采用不同环形透镜及探测器对系统成像特性的影响 相似文献
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共焦激光扫描荧光显微镜的扫描系统研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文简述共焦激光扫描灾光显微镜的基本原理,提出扫描系统的方案确定和优化设计的方法,使用该方法何使扫描渐晕减少为原来的1%。同时还给了扫描控制系统运行和控制法以及是均匀图的补偿方法。 相似文献
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用基尔霍夫衍射公式分析反射式共焦光路 ,得到了被测件有一定倾斜角度表面的共焦轴向响应理论模型。由菲涅耳衍射近似公式得到的共焦轴向响应特性只是它的理论模型的一个特例。同时 ,对接收端采用差动连接的共焦测量的聚焦瞄准信号进行了分析 ,得到了表面倾斜角对聚焦瞄准信号影响的关系。应用共焦实验系统及差动测量系统对具有不同倾角的块规斜面的轴向响应信号进行了测量。理论模型的数值分析与实验结果相吻合。用差动共焦光学系统作为瞄准传感器、用电容传感器进行位移监测 ,对倾角为 10°的角规的斜面进行测量 ,得到分辨率小于 2 0nm的表面形貌图。 相似文献
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利用共焦扫描显微术和变迹术相结合实现光学超分辨 总被引:2,自引:0,他引:2
运用适当形式匠光瞳滤波器民成像系统点振响应的分布,歙 具心于冲击函数的形式,这样就有可能实现光学超分辨,但变迹术的运用往往会因其强烈的旁瓣效应而导致成像系统对比度的急剧下降。本文提出的共焦型超分辨方案则能有效地抑制上述旁瓣。此外,本文学进一瞠提出了实现三维光学超分辨手理论框轲。 相似文献
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SupportedinpartbyWangKuanChenEductionFoundationofAcademiaSinicaandExchangePlanofAcademiaSinicaandAustralianResearchCouncil,andpartsupportedbyNationalNaturalScienceFoundationofChina.1.IntroductionInthefamilyoftheconfocalscanningmicrosc0pe(CSM),thereappearsanewmemberrecently,thatisfibcr-0pticalCSM[1'2j.Inthispaperweusesingle-m0defiberdirectionalcou-pler(3dB)andgradicnt-index-r0dlenscs(GRlN)t0constructapure0ptical-fiberconfocalscanningmicroscope.Inthatfo1lo\vsx`ediscusstheimageformati… 相似文献
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Eugene Astrakharchik‐Farrimond BorisY. Shekunov NicolasB.E. Sawyer StephenP. Morgan MichaelG. Somekh ChungW. See 《Particle & Particle Systems Characterization》2003,20(2):104-110
A phase‐sensitive wide field transmission microscope, combining the advantages of both interferometric and confocal techniques, has been developed and applied to analysis of particulates, both in dry powder form and in suspensions. The microscope has also been used in detecting defects in crystals. Confocal operation is achieved by superimposing speckle illumination of a reference beam in a Mach‐Zehnder interferometer with a matched speckle pattern of the object beam. It is shown that the phase measurement enables particle size to be determined even when the particle is smaller than the focal spot size. The data acquisition time is below 1ms, making the system suitable for dynamic process measurement. The experimental results are in good agreement with modelled results giving rise to the possibility of simultaneous determination of both the size and refractive index of small particles. 相似文献