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样品表面污染对X射线光电子能谱定量分析的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
用X射线光电子能谱(XPS)研究了表面碳污染物对样品的元素相对定量误差的影响。结果表明,样品表面含有碳污染物能引起光电子动能较低的元素的相对定量分析结果偏低,而且样品中两种元素的光电子动能差越大,相对误差越大。在用元素灵敏因子法进行XPS定量分析时,样品表面污染是不可忽略的误差来源。 相似文献
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X射线光电子能谱在材料研究中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
卢炯平 《分析测试技术与仪器》1995,1(1):1-12
X射线光电子能谱(XPS)在材料科学与工程的许多领域中有着广泛的用途.本文将讨论XPS在材料研究的三个方面的应用,即材料表面改性、固体-固体界面体系及材料与环境的相互作用.我们将引用一些具体的例子来说明XPS的应用价值及其研究方法.所讨论的例子将涉及聚合物和氧化物材料的表面改性、化学及物理气相淀积、粘接界面断裂机制、腐蚀及摩擦等领域. 相似文献
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二价的配合物3p能级分裂间距大于三价Y的化合物,二价Y的4s多重分裂也是鉴别Y的价态指纹。 相似文献
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MAPLE(matrix—assisted pulsed laser evaporation)技术是近年来发展起来的一门有机薄膜制备技术,与传统的有机薄膜制备技术相比,具有优越的技术特点.在非线性光学材料、发光器件、电磁材料和各种传感器方面都有着广泛的应用前景.利用MAPLE技术成功制备了聚酰亚胺薄膜,并利用X射线光电子能谱对其表面进行了分析.光电子能谱结果显示,在低激光能量密度时,单光子效应明显,化学键断裂,发生分解,不利于薄膜的制备.而在高激光能量密度时,单光子效应降低,多光子效应和光热效应增强,聚酰亚胺的结构得到保护,分解明显减弱. 相似文献
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用X射线光电子能谱(XPS)法研究了在基体ZrO上以含氧酸盐热反应法制得的YBaCuO超导膜的表面状态、组成及各成分元素的结合能,特别是Ar~+刻蚀前后膜表面组成和状态的变化,并与另一条件下制得的Y_2BaCuO_5非超导膜作了比较。探讨了Ar~-刻蚀前后,超导膜表面状态和组成变化的原因。确定了YBa_2Cu0超导膜中各成分元素的结合能:Y=156.3eV;Ba=778.5eV;Cu=933.5eV和Os=528·3eV,529.4eV。结果还表明:超导膜表面容易受H_2O和CO的侵蚀,生成BaCO。 相似文献
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砷化镓半导体表面自然氧化层的X射线光电子能谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
用X射线光电子能谱(XPS),测量了Ga3d和As3d光电子峰的结合能值,指认了砷化镓(GaAs)晶片表面的氧化物组成,计算了表面氧化层的厚度,定量分析了表面的化学组成;比较了几种不同的砷化镓晶片表面的差异。结果表明:砷化镓表面的自然氧化层主要由Ga2O3、As2O5、As2O3和单质As组成,表面镓砷比明显偏离理想的化学计量比,而且,氧化层的厚度随镓砷比的增大而增加;溶液处理后,砷化镓表面得到了改善。讨论了可能的机理。 相似文献
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Control of the surface and interface chemistry of colloidal quantum dots (CQDs) is critical to achieving a product with good air stability and high performing optoelectronic devices. Through various surface passivation treatments, vast improvements have been made in fields such as CQD photovoltaics; however devices have not currently reached commercial standards. We show how X‐ray photoelectron spectroscopy (XPS) can provide a better understanding of exactly how surface treatments act on CQD surfaces, and the effect of surface composition on air stability and device performance.. We illustrate this with PbS‐based CQDs, using XPS to measure oxidation processes, and to quantify the composition of the topmost surface layer after different surface treatments. We also demonstrate the use of synchrotron radiation‐excited depth‐profiling XPS, a powerful technique for determining the surface composition, chemistry and structure of CQDs. This review describes our recent progress in characterization of CQD surfaces using SR‐excited depth profiling XPS and other photoemission techniques. 相似文献
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本文用XPS表征了玻璃表面铜、铅和锡离子的价态,并测定在浮法玻璃底表面锡离子价态的深度分布。对沾锡现象与锡离子价态之间的关系进行了讨论。 相似文献
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