进口氧化皮化学特性及X射线荧光光谱分析

采用玻璃片法熔融进口氧化皮样品,并应用X射线荧光光谱法测定其中全铁和硅、铝、磷、钙、镁、钛、砷、铅等15种杂质元素的含量.根据氧化皮成分含量范围,利用多个铁矿石标准样品、部分标准样品添加基准物质Fe2O3配制系列校准物质,建立工作曲线.结果表明,该方法能准确、快速地对氧化皮进行分析,测量值与经典方法或标准值比较没有显著性差异.     

熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中12种主次成分

采用熔融制样法对铁矿石进行熔融制样;以三氧化二钴(Co2O3)作为铁的内标,并对熔剂、氧化剂、脱模剂、熔融温度和熔融比例进行了讨论。采用理论α系数法、经验系数法校正基体效应和各元素的谱线重叠干扰。建立了波长色散X射线荧光光谱(WDXRF)测定铁矿石中12种组分的分析方法。本法测定铁矿标准物质(GBW07822-GBW07830)各组分的相对标准偏差(RSD)在0.41%~4.2%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。利用本法对实际铁矿样品的全铁含量进行测定,结果与化学分析法的测定结果基本一致。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石的化学成分

利用助熔剂,将铁矿石样品在高温下熔融成玻璃圆片,从而消除矿物结构效应,并降低基体效应的影响,研究了熔样的条件和灼烧减(增)量对全铁分析结果的影响,应用经验系数法校正了基体的吸收激励效应,提出了铁矿石的X射线荧光光谱法,测定了铁矿石中TFe、P、SiOz、A12O3、CaO、V2O5、TiO2、MgO等8种化学成分.     

扫描道代替固定道作内标通道分析铁矿石——X射线荧光光谱分析

铁矿石是钢铁企业生产所需的主要原料,铁含量的高低直接影响到企业的经济利益,因此,对全铁分析结果的准确性要求较高。由于X射线荧光光谱法具有快速、简便、准确的优点,已被各大钢铁公司广泛用于铁矿石的测定。在日常测定铁粉中全铁含量时发现,由于熔融灼减和共存元素的干扰,导致全铁分析结果不稳定,常会出现超出国家标准分析方法误差范围的记录。文献[1]报道钴作内标可以解决此问题。钴元素与铁元素的原子序数相邻,其     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定铁矿石中钾、铅、锌和砷

采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定铁矿石中钾、铅、锌和砷的含量。样品以四硼酸锂和碳酸锂为熔剂,在1 050℃下熔融20min,冷却后制成玻璃融片,用于X射线荧光光谱分析,以标准物质制作校准曲线。方法应用于铁矿石标准样品(GSB 1805-2005)的测定,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=10)在2.0%~4.5%之间。     

X射线荧光光谱法测定高锰铁矿石中铁

X射线荧光光谱法分析铁矿石已有报道[1,2],该方法准确度高,速度快.本工作用X射线荧光光谱法对高锰铁矿石中铁进行测定,应用内标法制作工作曲线,用吸收影响系数(dj)法对工作曲线回归校正,消除了锰对铁的干扰.     

熔融制样X射线荧光光谱法测定水泥及水泥熟料中成分

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定水泥和水泥熟料中的Na2O、MgO、A12O3、SiO2、P2Os、SO3、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3等成分。采用熔融玻璃片方法制样,采用Li2B4O7为熔剂,较混合熔剂的制样效果好;硫在1050℃熔融制样过程中的挥发较慢,对测定结果无明显影响。方法测定准确度、精密度较好,所得结果与湿法化学分析结果相符。     

波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁硅钙铝磷镁锰钛

采用四硼酸锂熔融—X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁、硅、钙、铝、磷、镁、锰和钛，以10个铁矿石标准物质建立校准曲线，用Lachance—Trail校正模式进行回归校正。方法准确、快速、简便。     

波长色散X射线荧光光谱法测定钴精矿中钴、铜和锰

采用高纯氧化物经四硼酸锂和偏硼酸锂熔融制备人工标准样品,以氧化镱为内标,制作校准曲线,建立了波长色散型X射线荧光光谱法测定钴精矿中钴、铜、锰元素的分析方法.重点研究了混合熔剂、试样稀释比、氧化剂和内标选择、方法检出限、方法准确度和精密度等,结果表明,各元素校准曲线线性范围宽,相关系数均大于0.999,钴、铜、锰元素检出...     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定直接还原铁中主次元素含量

应用熔融制样-X射线荧光光谱法测定了直接还原铁中主次元素的含量。样品置于铂金坩埚中,以四硼酸锂和偏硼酸锂为熔剂于1 050℃熔融20min,将熔化的样品倒入铂金模具中,所制得的片样用于X射线荧光光谱分析。以铁矿石标准物质GBW 07221等25种标准物质制作校准曲线,以固定理论α影响系数法校正基体效应。方法用于实际样品的分析,所得结果与其他方法测定值相符。测定值的相对标准偏差(n=10)在0.31%~16%之间。