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薄膜Pt电阻温度计的标定及低温磁阻 总被引:1,自引:0,他引:1
本对薄膜铂电阻温度计一4.5K-250K温区及0-5T纵向磁场下的进行标定,并对其在T〈50K的磁阻效应进行了讨论。实验曲线细致光滑,实验数据表明它在低温下仍有一定测温灵敏度,如在10K时每度仍有十几微伏的变化。 相似文献
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本文给出一组经验公式,非常成功的计算了CGRT的磁阻。在温度范围从4.2至306K,磁场强度从0至19T,磁阻计算的误差小于0.5%,磁阻计算误差造成的温度误差小于0.2%。在磁汤强度从0至8T,温度差小于0.1%。 相似文献
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一支可复现的温度计其测温准确度不仅取决于分度的准确度,而且还视拟合分度数据的内插法是否适当而定。在低温下,铑铁和锗温度计其电阻与温度的关系已变得复杂化,对许多精密测温技术提供高精度的内插法就尤其重要。因此,本文介绍适用于低温铑铁电阻温度计和锗电阻温度计高精度数据的内插法。内容以实用为主,并辅以举例说明,全部计算方法均在本院DJS-6电子计算机计算过,计算结果表明提供的各种计算方法适合于计算机程序。 相似文献
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引 言 高硅氧多孔玻璃经过渗碳、真空烧结而制成的低温温度计,由于结构独特,测温性能良好,逐渐引起国内外低温工作者的重视.这种温度计,最早见之于文献的,是美国康宁玻璃公司 Lawless(劳利斯)[1]1972年的工作.1975年,Swartz(斯沃茨),Gaines(盖恩斯),Rubin(鲁宾)[2]等发表了某些样品在液氦温区的磁致电阻数据;美国 Lake Shore Cryotronics公司也多次在杂志上登载这种温度计的商品广告. 为了适应我国超导技术和其他低温工作发展的需要,我们根据国内的实际情况,进行了渗碳玻璃低温温度计的研制.我们已有的工作表明,这种温度计具有复现性好、… 相似文献
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渗碳玻璃低温电阻温度计具有碳膜电阻低温温度计灵敏度高、制作简单、电阻与温度呈单调变化的关系等优点,而没有碳膜电阻低温温度计重复性差,不能经受热循环的缺点,是一种比较优良的低温测温器件.国外已有商品出售. 我们研制了这种低温温度计[1],虽然结构还不够完善,经过多次测试,在液氦沸点温度测温的重复性在±5毫度以内.为了考查这种温度计在强磁场下的使用情况,我们进行了磁阻实验。 一、实验过程 在本实验中所采用的渗碳玻璃温度计是No 520,605,905,904.其中 No 520是标定过、并进行过He4沸点复现性实验的[1].它们是按下面叙述的方法… 相似文献
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根据1968年国际实用温标分度13.81—273.15 K范围的铂电阻温度计需要复现七个固定点,复现这些固定点要作出很大的努力,不但费用大而且也花时间。然而对于大量现行使用的铂电阻温度计,人们不要求很高的准确度,所以不必付出那样大的代价去复现七个固定点。鉴于上述考虑,我们决定用一支IPTS-68基准铂电阻温度计在四个分度点(即13.81 K、20.28 K、90.188 K和0℃)对现行使用的温度计进行分度,基于Z函数内插,分度精度从13.81—20.28 K优于18 mK,从20.28—90.188 K优于22 mK、从90.188—273.15 K优于15 mK。 相似文献
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本文介绍与低温温度计校验装置配用的温度控制器.采用了新型的铂-铑铁单一感温元件,它不但在整个4.2—273K范围内具有足够的灵敏度,而且在相当宽的区域内具有较好的线性度.恒温器铜块的温度由专门设计的控制器控制,它采用交流不平衡感温桥路和精密感应分压器给定,结构简单,性能稳定,操作方便.在一般情况下,温度可恒定至±2inK/15分钟;若仔细调整,则可恒定至±1mK/15分钟. 相似文献
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设计和搭建了一套5.2—300K温区的温度计标定系统,以G-M制冷机为冷源,进口已标定温度计为定标源,对Cernox负温度系数温度计、硅二极管温度计、PT100铂电阻温度计等进行了标定,获得了其温度特性曲线并进行对比,分析了标定误差,发现该系统具有较高的标定精度,所标定的温度计在其有效温区内能达到±15mK以内的不确定度,与定标源温度计处于同等量级。 相似文献