一种水溶性涂料的化学成分分析

采用傅里叶变换红外光谱、电镜/X射线能谱和原子吸收光谱等现代仪器测试方法对一种水溶性涂料的化学成分进行检测分析,对材料的红外光谱特征进行解析,综合定性和定量分析结果,确定出该涂料的各种组份及其配比.     

一种定量分析金属镀层中特定元素含量的简单方法

用光学的方法（如常见的X射线荧光分析法、发射光谱分析法^[1]等）分析固体样品中特定元素及其含量是常见的分析方法。相对于化学方法，它们的分析过程简单、迅速。笔者在分析样品中遇到了一些比较特殊的分析要求，例如在金属外镀了另外的合金，要求分析在镀层中特定元素的浓度。一种直接的方法是用X射线荧光做定量分析，可以给出镀层的元素含量。但X荧光定量分析需要特定的标样，对使用者存在一定的不便之处，而且设备也较贵。本研究采用普通的原子光谱分析法结合简单的数学推导，解决了上述问题。本方法也可以应用于普通的光学原子发射光谱分析。     

黔西南卡林型金矿中超微金的微束分析研究

应用同步辐射X射线荧光分析、电子探针及分析电子显微镜等微束分析技术,成功地研究了我国西南几个卡林型金矿中超微金的赋存状态,对所谓的“不可见”金(5—500nm)直接得到了它们的背散射电子像、透射电子像、元素特征X射线面分布和X射线强度分布曲线、特征X射线能谱图及电子探针定量分析结果。     

X-90型荧光光谱仪在无机定性分析中的应用探讨

目前用于金、银、铂饰品检测的 X- 90荧光光谱仪 ,具有检测方法简便、快捷、准确、成本低、无损伤等优点 ,也可利用此仪器的特点 ,扩展测定范围。1　理论依据每一种物质都有其特定的原子结构。样品被某种激发源 (本机为2 4 1Am放射性同位素 )所发射的初级射线激发而自发地发射出其所含元素特征的荧光X射线。每个元素的特征荧光 X射线都具有特定的能量 ,探测这些特征荧光 X射线并识别其能量 ,就能识别出该被测样品中含有哪些主要元素。2　操作步骤按操作规程 ,打开仪器 ,以银、铜块校准峰位 (即谱峰尖顶所对应横座标的位置 ) ;将被测物放入…     

X射线荧光光谱法测定除尘灰中砷、铅含量

以熔融制样法,采用X射线荧光光谱对除尘灰中的有害元素：砷、铅含量进行了测定。对样品的烧失温度进行了讨论,发现在950℃灼烧温度下灼烧2h时除碳完全。砷和铅的相对标准偏差为0.15 %和0.20 %。测试结果与化学分析法、原子吸收光谱法等相吻合。该方法制作工艺简单,分析速度快,样品可长期保存,还能满足其他元素的日常分析。     

X射线吸收分析法简介

近十余年来,X射线化学分析法已被广泛采用。利用X射线进行化学分析,有三类不同方法:衍射分析法,发射光谱分析法和吸收分析法。衍射分析法常称物相分析,它是根据晶态物质的X射线衍射花样的特征和衍射线的强度来进行定性与定量分析的。分析结果直接给出样品中所含晶体的种类、数目及其相对含量。非晶态物质沒有一定的衍射花样,故不能用此法分析。发射光谱分析法(包括初级发射光谱法及熒光X光谱分析法)的原理与通常的光学光谱分析法相同,是根据各种元素所固有的特征X射线的波长及强度来进行定性定量分析的,分析结果给出样品中所含元素的种类及含量。上述二法本刊已先后作过介绍,本文之目的是要对吸收分析法的原理、设备及应用作一简要介绍。     

波长色散X射线荧光光谱仪和多晶X射线衍射仪联用技术鉴定进口铜矿和含铜物料

首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。     

在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份

引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。     

SDD探测X射线中BP网络全谱定量分析技术研究

针对能量色散X荧光分析技术中面临的能谱复杂、标样难于制备、基体效应难于校正等问题,建立了基于BP神经网络的特征X射线全谱分析模型,对SDD探测器测量获得的Ti-V-Fe伪三元系样品特征X射线荧光谱进行定量分析,对含量较高的Fe元素的分析误差范围在0.06%～2.5%内,含量较低的Ti和V元素分析误差范围在0.33%～8.4%内,基本克服了由于谱峰重叠和基体效应对解谱带来的复杂性。     

锆基合金中元素分析方法的研究进展

综述了近年来原子发射光谱法、原子吸收光谱法、分光光度法、滴定法、X射线荧光光谱法和质谱法等测定锆基合金中相关元素的分析方法及研究进展(引用文献64篇)。     

新型中空卤化银颗粒乳剂的制备和性能研究 Ⅱ.中子活化分析测定感光乳剂的元素组成

一般采用化学滴定法来定量分析卤化银乳剂中的银和卤素组份。其他仪器分析,如X射线能谱,X射线电子能谱,X光萤光等只能做到半定量或定性分析。而化学滴定法的实验操作步骤又十分繁琐,而且卤素的化学性质相近,需用差减法分别得到最后结果。本文采用中子活化分析法,样品不需预处理(即不需要去除明胶),即可对卤化银乳剂同时进行元素测定。所测定的数值与化学滴定法的结果对照比较,两者十分相近。说明利用中子活化分析来测定卤化银乳剂的元素组份是可靠的方法.     

高频熔样机快速熔样-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定磷矿石中铁、铝和硅

<正>磷矿石是生产磷肥、磷化工行业的主要原料,因此在选矿工艺过程中,需要快速分析磷矿石。测定磷矿石中多种元素的含量,可满足不同行业及磷矿石产品出口的需求。国家标准方法中磷矿石中铁、铝、硅元素的测定是各元素分别测定~([1-3]),这满足不了大批量磷矿石样品中多种元素测定的需求。目前多种元素的快速测定,主要有X射线荧光光谱法和电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)~([4-9])。     

X射线荧光光谱无标样分析在轻合金中的应用

基于X射线荧光光谱仪,运用其无标样分析软件以及元素灵敏度系数校正,分析了镁合金、铝合金样品的元素组成及其含量。结果表明,X射线荧光光谱仪无标样定量分析镁合金、铝合金,其测量结果具有非常高的可靠性和准确度。通过对元素灵敏度系数的校正,可以进一步提高合金的测量精度。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氮化钒铁中8种杂质元素

提出了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氮化钒铁中8种杂质元素(铝、铬、镁、锰、磷、钾、钠、硅)的含量。利用X射线荧光光谱法对氮化钒铁进行半定量分析,根据所得结果进行基体匹配,配制标准溶液,制作工作曲线,并用ICP-AES对样品中上述8种元素进行定量测定。试验选择此8种元素的分析线依次为236.705,205.560,285.213,279.079,213.618,769.896,330.298,256.611nm。方法用于生产样品的分析,测定值的相对标准偏差(n=10)在0.29%~4.5%之间。加标回收率在96.0%~105%之间。     

X射线荧光光谱法测定聚乙烯树脂中微量铬

X射线荧光光谱法应用于各种材料中元素测定,其含量分析范围为1×10-3%～100%,具有测定元素范围广、测定精度高、分析速度快、非破坏性分析等特点.     

CL-20电子束的X射线光电子能谱-气体质谱原位同步分析技术研究

X射线光电子能谱仪是材料表面元素定性和半定量分析,尤其是元素化学态分析的重要手段之一. X射线光电子能谱仪的分析腔连接质谱仪进行分析,可有效获得样品表面元素变化及气体产物,实现原位同步分析. 基于炸药CL-20在光作用下存在着明显的分解现象,采用X射线光电子能谱-气体质谱同步分析方法(XPS-MS)获得CL-20在电子束作用下的表面元素及气体产物的变化. 试验结果表明,随着辐照时间增加,N、O元素峰峰强迅速下降,同时质谱仪可以有效获得气态产物峰,证实XPS-MS同步分析技术能够有效地实现对固态光降解反应的原位同步追踪.     

水样的预富集-X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱分析法具有简单、快速、可同时测定多种元素等优点,但是其检出限值较大,用来分析水样的报导不很多。本文介绍用离子交换树脂膜富集水中微量元素,然后X射线荧光光谱测定的方法。待测元素被选择性吸附富集在交换膜上,可被视为薄样品,避免了厚样品的复杂的基体效应校正。该方法简便易行,可在现场取样预富集,免除了水样运输和贮存的困难及麻烦,适用于环境样品的监测。实验使用上海化工厂生产的3361苯乙烯磺酸型阳离子膜和3362苯乙烯季胺型阴离子膜,测定了水中锌、铅、汞、溴四种微量元素。     

XRF–ICP–AES法测定土壤中的主次元素

建立X射线荧光光谱–电感耦合等离子体原子发射光谱法测定土壤中主次元素含量的方法。采用混合熔剂Li2B4O7–Li BO2(质量比为67∶33)与试样在高温中熔融制得玻璃熔片,以X荧光法分析土壤样品中主元素(Al,Si,Fe,S,Mn,P,Ti);采用混合酸消解玻璃熔片,以电感耦合等离子体原子发射光谱法分析土壤样品中次元素(Cd,Cr,Cu,Ni,Pb,Na,K,Ca,Mg,Co)。在选定的条件下,各元素的线性相关系数大于0.999 3,方法检出限为0.5~100μg/g,重复测定结果的相对标准偏差均小于5%(n=9)。采用该法对土壤标准物质样品进行测定,测定结果与标准值一致。该方法操作简便、测定结果准确可靠,适用于土壤样品中主次元素的测定。     

X射线荧光光谱法测定磁泡薄膜中Y、Bi、Ca、Fe、Ge、Si

近年来用X射线荧光光谱测定薄样的方法及技术有了迅速发展,其中对于薄膜组份和厚度的非破坏测定,从Bergel等人用人工制备的点滴滤纸片薄样作标准以来,该方法又有新的进展,本文在此基础上完成了对膜厚小于3μm的Gd-Ga石榴石磁泡薄膜中Y、Bi、Ca、Fe、Ge、Si原子比和含量的非破坏测定。 1.原理及公式:薄样中元素的X射线荧光强度表示如下:     

高纯硅中痕量元素分析方法研究进展

综述了从1980-2012年间测定高纯硅中痕量元素分析方法的研究进展。高纯硅中痕量元素的主要分析方法包括红外光谱法、原子发射光谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法、极谱法、离子探针与离子色谱法、二次离子质谱法、辉光放电质谱法、电感耦合等离子体质谱法等;并对高纯硅中痕量元素的分析方法进行了展望(引用文献59篇)。