ICP－AES分析中用Kalman滤波法校正光谱干扰时波长定位误差对结果的影响及消除

本工作以Ｋａｌｍａｎ滤波技术为光谱干扰校正方法，选择典型的光谱干扰为例，系统研究了波长定位误差影响滤波结果准确性的规律性，提出了改善波长定位精度的途径。对于谱线重叠干扰的校正，波长定位精度一般应优于０．１ｐｍ；利用新息序列零均白噪音特性建立指示函数优化扫描光谱峰位，大大提高了波长定位精度，保证了滤波结果的准确性。     

PDA－ICP－AES中光谱干扰校正的卡尔曼滤波法研究

本实验采用光电二极管阵列（ＰＤＡ）检测器消除波长定位误差、并藉平滑处理原始光谱图以减轻随机噪声影响，研究了卡尔曼滤波法在ＰＤＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ中光谱干扰校正方面的应用，探讨了影响滤波结果准确性的若干因素。藉此法分析了一些合成试样，回收率一般为９０％～１１０％。     

用自适应滤波校正电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的光谱干扰

本文从分析谱线与干扰的统计特性出发，将信号处理技术的自适应嗓声抵消模型用于校正ＩＣＰ－ＡＥＳ中的光谱干扰。模拟与实测光谱校正结果表明，光谱干扰自适应滤波方法是可行的、有效的。     

ICP—AES中稀土元素Q数据的编辑与Q光谱的模拟

研究了一种将实验数据与计算机模拟相结合的方法，编辑Ｑ数据和模拟Ｑ光谱，从而预测和校正用ＩＣＰ－ＡＥＳ分析稀土元素时的光谱干扰，首先通过实验获得每一稀土元素的原始光谱数据，然后用光谱平均结合Ｋａｌｍａｎ平滑剔除噪声，并校正波长漂移，最后将处理的光谱数据转为Ｑ数据，用于光谱模拟和光谱干扰校正，讨论了光谱模拟和干扰校正中的一些基本问题，结果表明；当光谱干扰不很强时，Ｑ数据用于光谱干扰校正已足够准确，光谱     

ICP－AES中稀土元素Q数据的编辑与Q光谱的模拟

研究了一种将实验数据与计算机模拟相结合的方法，编辑Ｑ数据和模拟Ｑ光谱，从而预测和校正用ＩＣＰ－ＡＥＳ分析稀土元素时的光谱干扰。首先通过实验获得每一稀土元素的原始光谱数据，然后用光谱平均结合Ｋａｌｍａｎ平滑剔除噪声，并校正波长漂移，最后将处理的光谱数据转为Ｑ数据，用于光谱模拟和光谱干扰校正。讨论了光谱模拟和干扰校正中的一些基本问题，结果表明：当光谱干扰不很强时，Ｑ数据用于光谱干扰校正已足够准确；光谱模拟方法在常规分析中是可行的，是稀土分析中处理光谱干扰问题的一个方便、快速的方法。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁基合金中铅量——联合应用FACT技术及标准加入法消除干扰

联合应用随同仪器提供的快速自动曲线拟合技术(FACT)校正软件和标准加入法同时消除了在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定铁基材料中铅含量时的基体干扰和光谱干扰。试验按1常规方法,2标准加入法和3联合应用FACT校正法和标准加入法校正后,用ICP-AES分别测定混合标准溶液中的铅。选用的分析谱线为182,217,220nm。结果表明:按1测得的铅量,由于基体负干扰而偏低;按2所得结果接近已知值,这是由于仪器附带的软件有"Fitted"校正功能,当发生光谱干扰时能自动进行校正;按3所得结果准确性最好。将上述成果应用于铁钉样品分析,测得结果的准确度和精密度均较好,基体干扰和光谱干扰都得到了消除。     

PDA—ICP—AES中光谱干扰校正的卡尔曼滤波法研究

本实验采用光电二极管阵列（ＰＤＡ）检测器消除波长定位误差，并藉平滑处理原始光谱图以减轻随机噪声影响，研究了卡尔曼滤波法在ＰＤＡ－ＩＣＰ－ＡＥＳ中光谱中干扰校正方面的应用，探讨了影响滤波结果准确性的若干因素，藉化法分析了一些合成试样，回收主经一般为９０％～１１０％。     

自模型曲线分辨法校正电感耦合等离子体原子发射光谱中严重谱线重叠干扰

对严重重叠的光谱干扰校正,采用较小间隔的光谱扫描测量,并用间隔扫描点的数据计算,可减小计算结果的误差,提高结果的准确性。本方法用于校正Nd359.259nm对Sm359.260nm和V328.939nm对Yb328.937nm谱线重叠干扰,得到了满意的结果。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法分析25种元素对磷的光谱干扰及其校正

利用电感耦合等离子体原子发射光谱法分析了25种元素对磷的光谱干扰及其校正。电感耦合等离子体原子发射光谱法测定样品中磷元素含量时存在光谱干扰,通过干扰系数法,对铍、硼、镁、铝、硅、钙、钪等25种元素对磷元素的光谱干扰情况进行了分析,获得各元素的干扰系数。以国家标准物质GBW 01305为样品,利用该方法对其磷元素含量进行光谱干扰校正分析,测定结果的误差由2.9%降至0.2%。可以该方法为依据对不同材料中磷元素的光谱干扰现象加以校正。     

电感耦合等离子体发射光谱法测定地质样品中钨时对锌的光谱干扰校正

采用硝酸-氢氟酸-高氯酸消解样品,电感耦合等离子体发射光谱法测定地质样品中的钨.讨论了Zn 207.908对W 207.911的光谱干扰,并应用光谱干扰系数校正法(IEC)校正干扰.结果表明:Zn对W的光谱干扰可以用IEC进行有效的消除,进行光谱校正后的结果明显优于未加校正的试验结果.     

高纯氧化镝电感耦合等离子体原子发射光谱法摄谱分析时光谱干扰校正方法的研究

本文建立了高纯氧化镝样品ICP摄谱分析时干扰系数法校正光谱干扰的方法。测定了镝基体对14种稀土杂质元素20条灵敏分析线的干扰系数(KCT)。并有效地校正了镝基体造成的光谱干扰,获得满意的结果。     

ICP-AES中元素间干扰的逐步逼近校正方法

本文基于干扰系数校正法,提出一种新的校正元素间相互干扰的方法——逐步逼近校正法,以及相应的计算机软件系统。对复杂体系中元素间相互光谱干扰和元素“自身”非光谱干扰进行校正,获得了良好的结果。     

Kalman滤波法校正火焰原子吸收光谱干扰

本文将Ｋａｌｍａｎ滤波法应用于原子吸收光谱中，对光谱严重叠加的锰和镓进行了校正，讨论了波长测量点的选取技术对实际结果的影响。１６个合成样品的测定结果表明该法简单，有效。     

ICP-OES法测定镉的铁光谱干扰系数数学模型的建立及应用

ICP-OES用于元素分析具有测定速度快、多元素同时测定等特点,应用越来越广泛。由于其发射光谱的原理,很多元素的测定都存在光谱干扰的问题,大部分情况下可以通过选择波长来避免或减小基体中相关元素的光谱干扰。波长214.439nm和226.502nm可用于ICP-OES法测定Cd元素,其中Cd214.439nm受到Fe214.445nm的光谱干扰,Cd226.502nm受到Fe226.459nm和Fe226.505nm的光谱干扰。为了研究铁基体对Cd元素测定干扰的影响按排列组合的方式配制不同浓度的镉(0.001～0.1mg·L~(-1))和铁(1～1000mg·L~(-1))混合标液,以Cd214.439nm测定表观结果除以配制浓度作为干扰系数ξ。根据迭代算法Levenberg-Marquardt优化算法选择Power2D模型拟合干扰系数ξ和Cd的浓度x(mg·L~(-1))和Fe的浓度y(mg·L~(-1))之间的关系,建立非线性曲面拟合方程ξ=z0+B×power(x,C)+D×power(y,E)+F×power(x,C)×power(y,E),同时绘制三维拟合曲面图,结果表明不同浓度的Fe对不同浓度Cd的测定光谱干扰系数是有差别的。将拟合结果用于水系沉积物成分分析标准物质GBW07305a(GSD-5a)中Cd的测定,通过拟合方程计算干扰系数ξ并对测定结果进行校正,校正后结果在标准物质证书标准值1.37±0.10mg·kg~(-1)范围内,说明拟合结果对实际样品的Cd测定校正是可靠有效的。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法中Kalman滤波法解析重叠谱线的研究

考察了Kalman滤波技术校正ICP-AES中谱线重叠干扰的潜力。以新息序列的平均平方和为评价函数优化扫描光谱的峰位, 消除扫描过程中可能产生的波长定位误差, 从而保证滤波结果的准确性, 并使实际检出限显著改善。在中等分辨率光谱仪和扫描步长为1.5pm的条件下, 滤波器能有效地分辨峰间距只有4.8pm且峰形基本相同的重叠线对。对峰间距为9.8pm的重叠线时, 当线背比低至0.05左右时仍能获得满意结果。连续背景用理论描述, 因而样品溶液和纯组分溶液的光谱扫描无需扣除溶剂空白。     

自适应平方根卡尔曼滤波法校正ICP－AES光谱干扰的研究

自适应平方根卡尔曼滤波法校正ＩＣＰ－ＡＥＳ光谱干扰的研究李划新，朱明华，邵济才（华东理工大学分析测试中心上海２００２３７）关键词自适应平方根卡尔曼滤波，ＩＣＰ－ＡＥＳ，光谱干扰光谱干扰是ＩＣＰ－ＡＥＳ分析中不可忽视的问题，特别对光谱复杂物测定时更为严...     

电感耦合等离子体原子发射光谱法中Kalman滤波法解析重叠谱线的研究

考察了Kalman滤波技术校正ICP-AES中谱线重叠干扰的潜力.以新息序列的平均平方和为评价函数优化扫描光谱的峰位,消除扫描过程中可能产生的波长定位误差,从而保证滤波结果的准确性,并使实际检出限显著改善.在中等分辨率光谱仪和扫描步长为1.5pm的条件下,滤波器能有效地分辨峰间距只有4.8pm且峰形基本相同的重叠线对.对峰间距为9.8pm的重叠线对,当线背比低至0.05左右时仍能获得满意结果.连续背景用理论描述,因而样品溶液和纯组分溶液的光谱扫描无需扣除溶剂空白.     

电感耦合等离子体发射光谱中的光谱干扰

光谱干扰是电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)中的主要干拢。已有不少文献作了报道。CIP发射光谱的波长表,为研究光谱干扰提供了可靠的数据和资料。本文试对这方面的文献进行了归纳和分析。光谱干扰包括光谱线的重叠和背景。在ICP-AES中,有以下几种类型的光谱干扰不可忽视:     

ICP-AES法测定不锈钢中高含量镍和铬的光谱干扰和校正

使用HNO3,HF,HCl O4溶解不锈钢样品,以Ni 231.6 nm,Cr 267.7 nm作为分析谱线,以干扰系数法校正Fe对Ni和Cr的光谱干扰,建立了ICP-AES法测定不锈钢中高含量Ni和Cr的方法。通过测定不同铁基体浓度下Ni和Cr的发射强度,考察铁基体对Ni和Cr的光谱干扰。实验结果表明:铁基体对Ni和Cr均存在光谱干扰,将实验方法用于不锈钢标准样品中Ni和Cr的测定,经光谱干扰校正后,结果与参考值吻合,测定结果的绝对误差在0.35%~0.63%间,相对标准偏差(RSD,n=6)在0.68%~1.1%间。     

电感耦合等离子体原子发射光谱分析中自适应卡尔曼滤波法研究

将自适应卡尔曼滤波（ＡＫＦ）用于ＩＣＰ－ＡＥＳ信号处理，并对影响滤波的因素进行了探讨，对于一些典型光谱干扰，测定的回收率为８５－１０５％。在选择了合适的初始参数条件下，ＡＫＦ法分析结果优于常规卡尔曼滤波（ＮＫＦ）法。