双轴式研磨抛光中抛光盘相对位置对去除量的影响研究

为了了解在抛光过程中抛光盘位置对光学元件面形的影响,对一种双轴式平面研磨抛光运动过程进行了分析。从Preston方程出发,推导了去除函数的表达式,研究了抛光盘的摆幅及偏心距离对元件的去除量分布的影响。通过定量计算得知,在加工转速不变的情况下,增大抛光盘的摆幅,元件不同圆周上的去除量也不同。增大偏心距,元件的去除量增大,不论抛光盘相对元件的位置如何改变,回转中心的去除量总是最大。     

光盘出版物类型发展及使用

本文对现有的光盘出版物给出了一个分类,还介绍了新一代的数据库光盘和多媒体光盘的情况,并以中国大百科全书光盘为例对光盘出版物的使用方法进行了说明。     

对主动抛光盘在加工、测量状态下盘面的变形及提升的数学分析*

用主动抛光盘磨制非球面是一个动态的过程,必须保证在计算机控制下,主轴的移动、旋转。和抛光盘的旋转、倾斜、变形及升降,以及主镜的旋转都步调一致。推导出在模式中诸要点的位置、速度、加速度和时间的关系,并根据所加工的口径φ910mm,焦比为F／2的抛物面主镜参量和所用主动抛光盘的参量分析：1)主动抛光盘基板的变形特性。即它的变形量、变形的速度和加速度。以及近似公式与精确公式之间的差异;2)主动抛光盘背面的三个提升点运动规律。即它的升降量、升降的速度和加速度;3)主动抛光盘的变形量和它在差分变压器式线性微位移传感器(LVDT)测试架上所测得的测量量之间的关系;4)分析主动抛光盘的变形与提升的速度与加速度和抛光盘沿横梁的运动速度V1以及抛光盘自身的转速V2之间的关系和特性。此分析是主动抛光盘的数学基础,它为主动抛光盘的机械和电控设计提供了技术依据,为实现计算机控制下的6轴联动提供了保证。     

多阶游程长度受限编码的光盘读出信号

多阶游程长度受限(ML-RLL)编码可以在保持原有记录符尺寸和记录单元数量的情况下将CD光盘存储容量提高2.4倍。借助标量衍射理论建立了多阶游程长度受限记录符的计算模型,对采用多阶游程长度受限编码的CD光盘的读出信号进行了仿真分析。结果表明,记录坑长度的变化对读出信号幅值影响较小,有利于将记录坑长度和记录坑的宽度两个参数进行分离检测,但在3T长度、不同宽度的记录坑相连的情况下,从读出信号中很难分辨出记录符的分界位置。     

高密度光盘循轨伺服中盘片径向倾斜的影响分析

基于标量衍射理论,根据实际光盘的参数,对数字多用途光盘(DVD光盘)的循轨行为进行了分析。在此基础上,针对盘片产生径向倾斜的情况引入了倾斜参数,对盘片模型进行了补充。对光盘的径向倾斜误差和系统循轨伺服的交叉影响进行了分析和讨论。     

基于CD/DVD光盘的光栅衍射演示实验

以CD/DVD光盘作为反射光栅,当激光照射在光盘上,CD光盘可观测到中央明条纹、1级主极大和2级主极大;DVD光盘只可观测到中央明条纹和1级主极大.分别测量了CD和DVD光盘的光栅常量,实验结果符合国家工业标准值.     

光盘的制造及其性能测定

一、引言光盘存贮技术是一门“知识密集”的崭新的信息存贮技术。光盘的制造及性能的测定是光盘存贮技术的关键之一。由于光盘存贮的高密度、长寿命以及其它一些特性,使得光盘的制造及检测具有一些特殊性与难度。本文介绍了CD音频盘和LD视频盘的制作过程和关键,并重点讨论了注塑成形法和     

光存贮技术

光存贮技术是70年代发展起来的光学信息存贮的新技术。目前,这种技术是光学、光电子学和计算机技术中十分活跃的领域。本文综合介绍了光盘存贮器的结构及分类;比较了光盘、磁盘、磁带、半导体存贮器的记录密度和存取时间;论证了光盘具有高密度记录、非接触记录与再生、抗损伤和灰尘的能力强、再生方式的多样性及随机存取等特征。本文还简要地介绍了光盘存贮系统,其中重点说明了激光器、存贮材料及光学头。最后展望了只读式光盘、追记式光盘及可逆式光盘的应用,预测了到2000年时,计算机领域中将是磁存贮与光存贮相并存的时期。     

可写光盘光密度曲线模型的研究及应用

利用光密度曲线模型优化可写光盘的染料旋涂工艺。模型具有4个特征点和3个特征线段。特征点的位置反映了平移效应和填充效应的综合效果。特征线段的斜率反映了薄膜表面的平面度。借助模型分析旋涂工艺中的许多重要参数,从而控制盘片质量,并最终实现闭环生产控制。     

高密度光盘径向倾斜对DPD循轨误差信号影响分析

根据高密度光盘参数 ,计算了聚焦光斑在光盘表面扫描过程中每个位置的光瞳光强分布 ,得到DPD(Differ entialPhaseDetection)循轨误差信号。考虑盘片的径向倾斜 ,在光瞳光强分布方程中引入盘片的径向倾斜角度参数 ,计算了高密度盘片产生径向倾斜时DPD循轨误差信号的变化 ,进而分析了盘片的径向倾斜引入的循轨伺服误差及其对循轨伺服的负面影响。结果表明 ,高密度盘片产生 0 .5°的径向倾斜相当于引入了 0 .0 12 μm的循轨误差     

磁光盘可靠性及寿命评估方法研究

采用高温和湿热交变加速应力条件对磁光盘可靠性寿命进行研究。通过对磁光盘在加速应力条件下的动态性能分析，提出了以威布尔分布来处理磁光盘失效的理论模型，并得到了较好的拟合，对磁光盘的可靠性寿命进行了评估，得到了磁光盘的可靠性寿命以及威布尔寿命分布函数。     

新一代高密度数字多用光盘(HD-DVD)研究进展

文章综述了新一代高密度数字多用光盘的研究进展，介绍了多种新型蓝绿光高密度可录和可擦重写光盘存储材料，讨论了高密度数字多用光盘所面临的问题以及其解决方法，最后提出了中国超高密度光盘存储技术发展的研究思路。     

光电探测器安装误差对差动相位探测信号的影响

光电探测器(PDIC)的安装误差导致光学头的光学轴心与光电探测器的中心不重合。在光盘标量衍射模型的基础上,引入光电探测器的位置误差参数,根据DVD-ROM的盘片参数,计算并分析了位置误差对差动相位探测(DPD)信号的影响。计算结果表明:沿盘片切向的位置误差使DPD的幅值变小,在25%的范围内DPD的幅值随切向位置误差的变化系数为1.52T;沿盘片径向的位置误差使DPD产生直流偏置,在50%的范围内DPD直流偏置随径向位置误差的变化系数为3.8T。     

光盘光谱仪的原理、制作及应用

根据光盘的分光作用,制作了利用光盘作为分光元件的光盘光谱仪.本文介绍了光盘光谱仪的原理、制作过程及性能测试.     

光盘上的折射 衍射 偏振实验

介绍了在光盘上完成光的折射、衍射、偏振实验的方法.测量了光盘基板折射率、光道间距等数据,比较了空白和非空白光盘对于偏振实验的影响.     

二元光学元件和新型超分辨光盘读写头的设计研究

本文采用杨-顾相位恢复算法数值模拟设计了一个用于光盘读写头的二元光学元件,并构思了一种新型超分辨光盘读写头,在现有光盘读写头的激光波长处和数值孔径基础上,利用该二元光学元件实现光学超分辨,从而提高光盘存储容量.     

高密度信息存储的物理原理

介绍了只读光盘、磁光盘和相变光盘等高密度信息存储手段的物理原理.并以近场光存储技术、超分辨近场结构光盘技术为例,阐述了高密度信息存储技术的最新进展.     

磁光盘反射率测试方法研究

磁光盘反射率是一个重要的参数，在磁光盘的研制和生产过程中必须进行测试。本文首先介绍了反射率测试的典型方法，然后结合磁光盘磁光特性伺服测试系统提出了一种测试磁光盘反射率的实用有效的方法，使磁光盘磁光特性测试仪既能测试克尔角又能测试反射率。最后对该方法测试反射率的误差进行了评估，并给出了测试实例。     

光盘镜头的发展

本文概述了光盘镜头的发展历程，着重介绍了光盘用单片非球面物镜的开发和最新进展。     

基于Windows NT平台的光盘阵列的设计

光盘阵列在多媒体系统等巨量存储领域具有广泛的应用前景。提出设计基于ＷｉｎｄｏｗｓＮＴ平台的光盘阵列的方法。此方法采用分层结构,将整个光盘阵列的实现分为文件系统驱动程序、阵列过滤器驱动程序、光盘驱动器分类驱动程序、ＳＣＳＩ端口驱动程序和ＳＣＳＩ小端口驱动程序五个层次,实现了模块化设计。利用此方法设计出的ＴＳ Ｏ１型光盘阵列,操作简便,实际达到的数据传输率与理论值接近