X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S

目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S的方法。采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标准样品,采用经验系数法进行基体校正,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%~1.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。     

X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S

目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S的方法。采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标准样品,采用经验系数法进行基体校正,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%¹.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。     

X射线荧光光谱法快速测定铅铋合金中的铅、铋、金、银、铜、砷、锑、锡和碲

建立快速测定铅铋合金中铅、铋、金、银、铜、砷、锑、锡、碲含量的X射线荧光光谱法。采用自制的铅铋合金样品作为标准样品,用台式车床制样,用X射线荧光光谱法快速测定铅铋合金中各元素含量,并用α理论系数法和经验系数法相结合对基体效应进行校正。各组分校准曲线的相关系数均大于0.998,检出限为5.54～101μg/g,测定结果的相对标准偏差为0.06%～7.73%(n=9)。用该方法对3个铅铋合金样品进行分析,测定结果与参考值吻合,相对误差小于8.33%。该方法简便快捷,结果准确,能满足铅铋合金中各元素检测要求,对炉前分析具有很强的实用价值。     

X射线荧光光谱法测定平炉渣中主成分

使用3080E3型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,研磨克服粉末样品的粒度效应,理论d系数法校正基体效应的方法,建立了平炉渣样品中TFe、SiO2、MgO、Al2O3、CaO、MnO、TiO2、P2O5组分的快速测定方法。研究了制样条件,用内控标样作标准曲线,分析结果的相对标准偏差为0．23％～3．17％,满足日常分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定垃圾焚烧炉渣中主要成分

使用X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,以研磨的方式克服粉末样品的粒度效应,理论α系数法校正基体效应,建立了垃圾焚烧炉渣样品中SiO2、Fe2O3、MgO、Al2O3、CaO、K2O、TiO2、P2O5八组分的分析方法.用标准化法进行强度漂移校正,用内控标样制做校准曲线,测定结果的精密度和准确度可以满足日常分析要求.     

粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙和二氧化硅

采用粉末压片法制样,建立了波长色散X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙、二氧化硅的分析方法。由于没有国家标准样品,采用自制生石灰粉标准样品绘制工作曲线。考察了样品粒度及吸潮对分析结果的影响。实验表明,在样品粒度为74μm、压样机压力为12 MPa、压制时间为45s的制样条件下荧光计数率最稳定,在30min内测定样品效果最佳。采用α理论系数法和经验系数法相结合校正基体影响。对同一生石灰粉样品进行精密度实验,各组分的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.04%~0.43%。测定了5个生石灰粉样品,所得结果与常规化学分析方法测定值相符。     

X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼

报道了粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼,采用经验系数法校正了锶、铀等元素对钼的干扰,分段处理校准曲线使测定结果更准确,同时探讨了制样对测定结果的影响。方法精密度好(RSD为7.91%,n=11),检出限可达到0.48 μg/g。测定过程简单、快速,测定结果与化学值吻合,非常适合地质样品的批量化测定。     

熔片制样-X射线荧光光谱法同时测定石灰石及白云石中主、次、微量成分

采用熔融制样,以四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂(12:22)作为熔样体系,硝酸锂和碘化铵分别作为氧化剂和脱模剂,建立了石灰石及白云石中Ca,M g,Al,Fe,K,M n,Na,Si,Ti,P,S等11种元素的熔片制样-波长色散X射线荧光光谱法。选择石灰石、白云石有证标准物质及碳酸钙基准物质,并将其按一定比例人工配制成系列标样,建立了检测的校准样品体系。采用较大的稀释比与未知烧失量校正相结合的办法,无需对样品烧失量进行校正,简化了分析步骤。应用变化的理论α系数法校正,有效克服基体效应的影响。精密度实验表明,各组分测定结果的相对标准偏差在0.22%~9.0%(n=11)之间。选择石灰石和白云石标准物质进行准确度实验,测试结果与标示值一致。     

熔融制样–X射线荧光光谱法同时测定铀钼矿中主次成分

采用混合熔剂熔融制样,建立了同时测定铀钼矿中U,Mo,SiO_2,Fe_2O_3,Al_2O_3等的X射线荧光光谱法。以Li_2B_4O_7–LiBO_2作为熔融试剂,NH_4NO_3作为样品的氧化剂,样品与熔剂的质量比为1∶10。除使用铀矿石国家标准物质外,主要选取人工混合校准样品及历年实验室比对的铀钼矿校准样品绘制成工作曲线。采用理论系数法校正样品的基体效应,用Br Kα,Zr Kα,U Lα,Ba Lα,Zn Kα谱线扣除相应元素的谱线重叠干扰。该方法各组分测定结果的相对标准偏差均小于2.0%(n=10);用标准物质验证方法的准确度,测定值相对误差在0.00~8.00%之间,与标准值基本吻合。该法应用于生产实验中,可以满足对铀钼矿准确、快速的测量要求。     

X射线荧光光谱法同时测定矿石中铀和钍

建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量的快速分析方法。采用高压粉末制样法,对不同含量的放射性样品的压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400 MPa压力下压制,克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线的标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线的标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。     

压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中主、次及微量元素

针对土壤和沉积物中主、次及微量元素的准确高效检测要求,基于压片制样-波长色散X射线荧光光谱测定技术,采用42种土壤和沉积物标准物质作为校准标样,建立了土壤和沉积物中22种元素成分的同时测定方法。重点研究了压片制样技术存在的矿物效应和粒度效应,考察了测定次数对氯含量检测结果的影响,优化了各元素成分的测试条件,探讨了基体校应及谱线重叠干扰校正等问题。采用软件提供的多元线性回归分析模型建立了各元素分析的校准曲线,基于3倍背景信号波动的标准偏差计算出各元素的检出限范围为0.3 mg/kg~433.4 mg/kg。准确度试验结果表明土壤（GBW07403a、GBW07450）和水系沉积物（GBW07384）的测试结果与标示值基本一致。针对三个不同含量水平土壤样品的精密度试验（RSD,n=12）结果表明,各元素测定结果相对标准偏差分别在0.13%~9.06%、0.00%~9.26%和0.18%~8.26%。因此,本研究进一步明确了土壤和沉积物X射线荧光光谱测定的关键条件,方法的检出限、准确度及重复性等满足日常分析检测要求,对实验室土壤检测工作具有指导意义。     

X射线荧光光谱法快速测定黑铜中的铜、砷、锑、铋、铅、镍、锌和锡

建立X射线荧光光谱法快速测定黑铜中的铜,砷,锑,铋,铅,镍,锌和锡等多种元素含量的方法。采用自制的黑铜样品作为标准样品建立标准工作曲线。实验确定了样品加工时最佳的铣样速度及谱线重叠干扰的校正方法,并用理论影响系数校正基体干扰。试验结果表明,各元素的工作曲线线性关系较好,线性相关系数均大于0.996。各元素的检出限在17~47μg/g之间。测定结果的相对标准偏差为0.038%~2.73%(n=7)。两个样品的测定结果与标准分析方法的测定结果相符。该方法具有较好的准确度和精密度,分析速度快,能满足炉前快速分析的需要。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定铌铁合金中 铁、铌、硅、铝、磷

为提高铌铁合金检验效率,替代繁琐的化学湿法分析,采用粉末压片制样,利用X荧光光谱法对铌铁合金中Fe、Nb、Si、Al、P 5种主要成分进行测定。选用定值过的生产样品作为内控标准样品,主要研究制样细节对分析结果的影响,确认合适的试样粒度和压片参数,通过曲线拟合建立校准曲线。测定结果与化学湿法和电感耦合等离子体原子发射光谱法测定结果比较,各组分精密度相对标准偏差为0.48%～1.9%,准确度满足国标分析要求。     

粉末压片-能量色散X射线荧光光谱法测定基夫赛特直接炼铅炉渣中的主要组分

采用粉末样品直接压片法,使用自制校准样品在布鲁克S2RANGER EDX光谱仪上通过各种基体干扰校正手段,建立了基夫赛特直接炼铅炉渣中Pb,Zn,Cu,Fe,SiO2,CaO的测定工作曲线,并考察了样品粒度、制样条件对结果的影响以及考核了压片精度和方法准确度。方法简便快捷、精密度高、准确度满足主产工艺指标要求。     

毛细管色谱测定工业糠醇含量

通过对工业糠醇各组分相对重量校正因子和样品进样区间的研究，建立了一种用毛细管气相色谱测定工业糠醇的方法。该方法准确、简便、快速，适用于糠醇生产企业质量控制及检测部门日常检测。     

高压覆膜制样X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素

采用新的制样技术——高压(1800 kN)覆膜(3.6μm Polyester Film)制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分。该制样技术对高硅锌矿石GBW07237(SiO282.95%),不加黏结剂,也能制出理想的样片。测定结果显示1800 kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400 kN制备的样品有所改善。15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等成分。实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素。高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道。     

熔融制样-X-射线荧光光谱法测定伟晶岩中主次量组分

建立X-射线荧光光谱法测定伟晶岩中主次量组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MnO、P2O5的快速分析方法.在优化的实验条件下,采用国家标准物质和自制标准样品建立标准工作曲线,并用基体校准一体回归方程进行谱线重叠干扰和基体效应校正.各元素线性相关系数均大于0.9995,检出...     

一种简易的回归分析方法

目前在分析工作中所使用的定量分析方法,一般都是相对分析法,在进行未知试样的定量分析之前,先要用已知含量的标准建立校准曲线,或者用被测试样以标准加入法建立校准曲线,然后依据校准曲线内插或外延求得试样中欲测组分的含量。校准曲线(统计上又称为回归线)建立得正确与否及其正确的程度将     

不同前处理制样方法对钢中氧、氮测定结果的影响

讨论了不同物理和化学制样方法对钢中氧、氮测定结果的影响。试验结果表明,物理制样采用锉刀打磨样品表面后剪切,再用乙醚清洗除去油污;化学制样先用20%盐酸溶液溶解样品表面氧化层,再用滴加了4滴30%过氧化氢的10%草酸溶液浸泡,取出后依次用水、无水乙醇浸洗,风干。用以上两种方法制样,钢标准样品中氧、氮含量测定值与标示值一致。在测定钢中氮含量时,可用乙醚清洗后直接测定,以缩短检测周期和减轻劳动强度。该研究结果可用于指导钢样品中氧、氮含量测定时样品的处理。     

高频红外吸收法快速测定硫精矿中硫

近年来随着高频碳硫仪的快速发展,高品位的硫检测技术又有了新的技术突破,因此,本文采用国家标准硫铁矿样品建立标准工作曲线,结合内控管理样品校正该曲线,建立了高频红外碳硫仪快速测定硫精矿中高品位硫的分析方法。文中对样品粒度、称样量、灼烧时间和助熔剂的选择进行了讨论,经过11次试验测定的精密度为0.39% 。以不同人员多次采用化学法(空气燃烧中和法-氢氧化钠滴定)检测结果为比对依据,通过试验对比,绝对误差可以控制在0.60% 以内,完全能够满足硫精矿工业生产的快速分析需要。