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1.
《中国无机分析化学》2014,(2)
目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S的方法。采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标准样品,采用经验系数法进行基体校正,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%1.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。 相似文献
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目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S的方法。采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标准样品,采用经验系数法进行基体校正,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%~1.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。 相似文献
3.
X射线荧光光谱法测定钢中的有害元素 总被引:3,自引:0,他引:3
采用X射线荧光光谱法测定钢中有害元素P.S.AS.Pb.Zn.Sn的含量,实现了钢中有害元素P.S.AS.Pb.Zn.Sn含量的在线分析。各待测成分的分析范围为:P0.0042%~0.047%.S0.0094%~0.073%.AS0.011%~0.092%.Pb0.0012%~0.087%.Zn0.0005%~0.011%.Sn0.0093%~0.095%。用该方法对标准样品进行测定。测定结果与标准值基本一致,测定结果的相对标准偏差为1.08%~1.90%(n=10)。 相似文献
4.
钟华 《理化检验(化学分册)》2003,39(8):458-459,461
采用类型校正法消除了光谱法与红外吸收法在测定重轨钢中碳含量时的系统误差。结合金相低倍组织检验,分析了光谱法在重轨腰部碳分析结果异常偏高的原因,并建立了相应的分析方法。该方法已用于重轨钢样的均匀性检验中,取得了良好的效果。 相似文献
5.
应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定.采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998.考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%. 相似文献
6.
工业萃取剂 P2 0 4 和 P350 的主要成分分别为二 -( 2 -乙基己基 )磷酸 ( D2 EHPA)和甲基膦酸二 - ( 1 -甲基庚酯 ) ( DHMP) ,两者的结构式如下 :( CH2 ) 3CH3 CHC2 H5CH2OPOOHOCH2CHC2 H5( CH2 ) 3CH3( CH2 ) 5CH3 CHCH3OPOCH3OCH-CH3( CH2 ) 5CH3( D2 EHPA) ( DHMP)从以上的结构式可知 ,D2 EHPA为酸性磷类萃取剂 ,DHMP为中性膦类萃取剂。由于 P2 0 4 和 P350 具有良好的协萃效应 ,因而在湿法冶金工艺中两者常互为协萃剂组成协萃体系用于金属离子的萃取分离。P2 0 4 和 P350 单一组… 相似文献
7.
本文介绍X-射线荧光光谱分析石墨中15个杂质元素的方法。首次提出用化探标样按不同比例稀释在石墨粉中研制标准样品。以纤维素作粘结剂直接粉末压片,本法适用于石墨精矿和石墨产品的分析。 相似文献
8.
X射线荧光光谱法快速测定黑铜中的铜、砷、锑、铋、铅、镍、锌和锡 总被引:1,自引:0,他引:1
建立X射线荧光光谱法快速测定黑铜中的铜,砷,锑,铋,铅,镍,锌和锡等多种元素含量的方法。采用自制的黑铜样品作为标准样品建立标准工作曲线。实验确定了样品加工时最佳的铣样速度及谱线重叠干扰的校正方法,并用理论影响系数校正基体干扰。试验结果表明,各元素的工作曲线线性关系较好,线性相关系数均大于0.996。各元素的检出限在17~47μg/g之间。测定结果的相对标准偏差为0.038%~2.73%(n=7)。两个样品的测定结果与标准分析方法的测定结果相符。该方法具有较好的准确度和精密度,分析速度快,能满足炉前快速分析的需要。 相似文献
9.
对36种沐浴剂的pH进行了测定研究。测定结果表明,这些沐浴产品的pH稍有差异,但都呈弱酸性,而且这些沐浴剂的pH随温度升高有增大的趋势。 相似文献
10.
建立快速测定铅铋合金中铅、铋、金、银、铜、砷、锑、锡、碲含量的X射线荧光光谱法。采用自制的铅铋合金样品作为标准样品,用台式车床制样,用X射线荧光光谱法快速测定铅铋合金中各元素含量,并用α理论系数法和经验系数法相结合对基体效应进行校正。各组分校准曲线的相关系数均大于0.998,检出限为5.54~101μg/g,测定结果的相对标准偏差为0.06%~7.73%(n=9)。用该方法对3个铅铋合金样品进行分析,测定结果与参考值吻合,相对误差小于8.33%。该方法简便快捷,结果准确,能满足铅铋合金中各元素检测要求,对炉前分析具有很强的实用价值。 相似文献
11.
X射线荧光光谱法测定铜精矿中砷、铅和镉 总被引:1,自引:0,他引:1
铜精矿是国家重要资源性商品,砷、铅和镉属于铜精矿产品中的有害元素,国家质量监督检验检疫总局、商务部、国家环保总局联合发布的第49号公告,以及国家强制性标准GB 20424—2006规定了铜精矿产品中所含有害元素的限量。目前,砷、铅和镉等元素的分析通常采用火焰原子吸收光谱法、滴定法、氢化物发生-原子荧光光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)等,上 相似文献
12.
选矿流程样品中铌和钍的X射线荧光光谱法测定 总被引:3,自引:0,他引:3
采用X射线荧光光谱法,以铑靶的康普顿散射线强度为内标,测定了铁矿石选矿流程样品中的铌和钍。方法简便、快速、准确,完全能够满足选矿工艺研究和日常生产对样品中铌和钍分析的要求。 相似文献
13.
设计合成四碘代双酚A(IBPA)作为扩链剂,以聚丁二酸丁二醇酯(PBS-OH)为软段、异佛尔酮二异氰酸酯(IPDI)和IBPA为硬段,通过偶联反应获得一种新型X-射线聚氨酯显影材料.红外光谱和核磁共振氢谱确定所合成碘代聚氨酯(I-PUs)的结构与组成,并用示差扫描量热法,热重分析,X-射线衍射仪和临床X-射线仪评价不同IBPA含量的碘代聚氨酯的热性能、结晶性和显影效果.结果表明,碘代扩链剂IBPA较高含量的引入对聚合物的热稳定性有一定的影响,并促使聚氨酯由结晶态向非晶态转变.引入IBPA对聚氨酯的显影效果有很好的促进增强作用,聚氨酯材料及微球均具有较好的X光显影效果.噻唑蓝比色法(MTT)评价细胞毒性证实制备的较高碘含量的聚氨酯材料均无细胞毒性,是一种很好的血管栓塞剂材料. 相似文献
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马景治 《中国无机分析化学》2018,8(6):42-45
采用粉末压片制样,利用岛津1800型X 射线荧光光谱分析仪,对石灰石、白云石等灰岩类标准物质拟合校准曲线,建立了 X 射线荧光光谱法(XRF)同时测定石灰石、白云石样品中主次量组分(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、MnO、P)的快速分析方法。通过试验确定了样品粒度要达到74μm以下,30t压力下制片。通过灼烧减量对SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO 含量进行校正,根据其含量与强度的对应关系绘制校准曲线,采用经验系数法可减小元素间的增强-吸收效应。对灰岩类试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差 RSD<2%;对石灰石和白云石标准样品和实际样品进行准确度考察,测定值与标准推荐值或传统方法的测定值一致。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定不同类型分子筛中氧化物的含量 总被引:1,自引:0,他引:1
分子筛是催化裂化催化剂中重要的活性组分.产品中Na2O、Al2O3、SiO2、RE2O3,等元素氧化物的含量将直接影响分子筛的质量和性能.通过对方法准确度和精密度的考察,表明X射线荧光光谱法(XRF)测定分子筛中重要元素氧化物的含量,准确度高,重复性好,是一种高效、快速、能有效指导企业生产的分析方法. 相似文献
17.
察尔汗盐湖是我国目前最大的可供大规模开采的钾资源地,浮选钾肥是察尔汗盐湖中各生产厂家最主要的产品之一。浮选钾肥中各元素的测定通常采用化学法、原子吸收光谱法(AAS)和电感耦合等离子体原子发射光谱法(1CP-AES)等,这些方法存在试样处理繁琐、费时费力、分析速度慢等缺点,因此建立一种行之有效的、元素分析范围广的快速分析方法非常必要。本工作采用粉未压片法制 相似文献
18.
X射线荧光光谱法测定洗衣粉中硅、铝、磷、硫的初步研究 总被引:2,自引:0,他引:2
用X射线荧光光谱法测定了洗衣粉中硅,铝,磷,硫的含量,并与化学法进行了比较。结果表明,本法样品处理简单,分析速度快,可用于快速确定洗衣粉的化学成分。 相似文献
19.
《中国无机分析化学》2017,(3)
X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。 相似文献
20.
X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。 相似文献