X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S

目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S的方法。采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标准样品,采用经验系数法进行基体校正,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%¹.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。     

光谱法快速测定半钢发热剂中Si、P、S的方法研究

目前,国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法,只能根据组分范围分别检测各个组分,不仅耗时而且大量化学试剂对环境造成污染。故研究半钢发热剂全组分快速测定方法。文章采用粉末压片制样,研究其制样条件,包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其他方法定值提供的检测样品,作为X-射线荧光光谱法内控标样,文章中基体校正采用经验系数法,通过解谱拟合建立校准曲线,校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好,各元素的相对标准偏差在0.15%-1.3%。准确度满足生产需求,实验方法可用于公司快速检测半钢发热剂化学组分。     

X-射线荧光光谱法测定加氢催化剂中钼和钴

使用X—射线荧光光谱仪，采用人工合成标样，粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法，建立了加氢催化剂中钼、钴含量的测定方法，测定范围MoO3：4．0％～24．0％，CoO为1．0％～8．0％。该方法不仅快速、简便，而且准确度和精密度较好，测定MoO3和CoO的相对标准偏差均小于1％，满足了科研和工业生产的需要。     

X-射线荧光光谱法快速测定电池填料中硫酸钡

在碱性电池中 ,其填料组成为二氧化锰、石墨、硫酸钡和 370g·L- 1氢氧化钾溶液。其生产工艺要求硫酸钡含量应在 1.6 %± 0 .2 %范围 ,但要求样品制备完成后其中硫酸钡含量测定的时间不能超过4h。即硫酸钡含量测定完成时间是选择分析方法的关键 ,显然用经典化学法不能满足上述对时间的要求。用X 射线荧光光谱法对上述样品的分析不超过 1.5h ,并且误差范围也可以满足要求。1　仪器与试剂岛津VF 32 0X 射线荧光光谱仪压片机 (日本岛津 )SRJX 4 15箱式电阻箱 (天津科学器材设备厂 )2 0 1型电热恒温干燥箱 (天津市实验仪器厂 )硫酸钡 (A .…     

能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐中主成分含量

传统的化学分析方法分析硅酸盐类矿物样品组份,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大,分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。采用国产能量色散X-射线荧光分析仪,以Li2B4O7和LiBO2作混合熔剂,NH4NO3为氧化剂,熔融制作玻璃熔片,对硅酸盐中SiO2等10个主要成分含量进行同时分析,建立了能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐主成分含量的方法,准确度和精密度均达到了规范要求,得到了较为满意的分析结果。     

X射线荧光光谱法测定钢中的有害元素

采用X射线荧光光谱法测定钢中有害元素P.S.AS.Pb.Zn.Sn的含量,实现了钢中有害元素P.S.AS.Pb.Zn.Sn含量的在线分析。各待测成分的分析范围为：P0.0042％～0.047％.S0．0094％～0.073％.AS0.011％～0.092％.Pb0.0012％～0．087％.Zn0．0005％～0．011％.Sn0．0093％～0．095％。用该方法对标准样品进行测定。测定结果与标准值基本一致,测定结果的相对标准偏差为1．08％～1．90％(n=10)。     

X射线荧光光谱法快速测定钢基中锰元素

应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定.采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998.考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%.     

X射线荧光光谱法快速测定生铁中硅锰硫磷钛

高炉生铁化验项目为硅、锰、硫、磷、钛五元素，其中硅、锰、硫、磷是基本分析元素，钛是高炉使用后期为了护炉加入钛球而需要分析的元素。自进行X射线荧光光谱仪测定生铁试验以来，由于受高炉冶炼影响，一时无法收集到所需的样品，作者采用自制样品先建立一条基本曲线，用于日常分析，然后在仪     

X-荧光光谱法测定硅铝钡合金中硅铝钡

硅铝钡合金是炼钢常用的脱氧剂 ,主要成分为硅、铝、钡、铁。目前常用的分析方法为化学法 ,分析时间长 ,而且操作繁琐。为此 ,本法对X 荧光光谱粉末压片法进行了研究 ,结果满意 ,而且分析速度快 ,操作简便。1　试验部分1.1　主要仪器与测定条件瑞士产ARL980 0型XRF XRD结合式光谱仪 ,铑钯端窗式X射线管 ;奔腾ⅡWIN 98计算机。日本产MP 5 0型压片机 ,最大压力为 5 0t。仪器测定条件见表 1。表 1　仪器测定条件Tab .1　Workingconditionoftheinstrument分析线Analyticalspectralline晶体Crystal探测器Detector管压Tubepressure(U/kV…     

X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

应用X-射线荧光光谱法测定了氧化铝中11种杂质成分（SiO2，Fe2O3，Na2O，K2O，CaO，TiO2，P2O5，ZnO，V2O5，Ga2O3，Cr2O3）。试样用四硼酸锂和偏硼酸锂作混合熔剂融熔制成玻璃状片形熔块。通过在高纯氧化铝中加入一定量的上述11种元素的纯氧化物配制成中间标准样品，并用此中间标准样品和纯氧化铝作为空白试样组成高、低标，制备了校正曲线。又用此中间标准样品与纯氧化铝按一定比例配制控制样品对分析过程进行质量控制。对所提出方法的精密度进行了考核，结果表明以上11种杂质成分测定结果的RSD值均小于10％。用4种标样对此方法的准确度进行验证，结果表明所得测定值与已知值之间的误差均符合标准规定。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定铌铁合金中 铁、铌、硅、铝、磷

为提高铌铁合金检验效率,替代繁琐的化学湿法分析,采用粉末压片制样,利用X荧光光谱法对铌铁合金中Fe、Nb、Si、Al、P 5种主要成分进行测定。选用定值过的生产样品作为内控标准样品,主要研究制样细节对分析结果的影响,确认合适的试样粒度和压片参数,通过曲线拟合建立校准曲线。测定结果与化学湿法和电感耦合等离子体原子发射光谱法测定结果比较,各组分精密度相对标准偏差为0.48%～1.9%,准确度满足国标分析要求。     

分子荧光光谱法测定食品接触材料中荧光增白剂

建立了分子荧光光谱法对荧光增白剂的定性和定量测定方法。对14种荧光增白剂通过进行激发波长和发射波长的扫描确定了其最大激发波长和最大发射波长,可结合进行荧光增白剂定性判断,并以三种常用的二苯乙烯型荧光增白剂VBL、BA、CXT为例,通过其迁移建立了定量测定荧光增白剂含量的方法。结果表明,三种荧光增白剂在0~1.0μg/mL范围内线性关系良好(相关系数r^2>0.999),检出限均为2.3μg/g,加标回收率均为92.9%~106%,相对标准偏差均小于5%,方法能有效满足食品接触材料样品中荧光增白剂的测定。     

X-荧光光谱法在测定有机物或高分子中金属及若干种非金属元素含量中的应用

本文讨论了用X-荧光光谱法测定高分子络合物中稀土金属元素的含量,有机物中的磷含量及合硅交联树脂中的硅含量。本法具有简便,用量少,又可减少化学法污染环境等优点。这是将X-荧光光谱法扩大用于有机物及高分子成分分析领域的新方法。     

X射线荧光光谱法测定高含量有机碳样品中的钾、钠、钙、镁、硅、铝、铁、钛、锰、磷

通过事先对有机碳含量较高的样品于1000℃ 下灼烧2 h,计算其烧失量,再将灼烧后的样品经Li2 B4 O7(67％)和LiBO2(33％)的混合熔剂熔融制样后,经X射线荧光光谱仪测定,能够有效地去除因有机质含量高导致的分析结果的偏差,总体的平均相对误差从11.1％ 减少到了4.5％,而且较湿法化学分析节省时间.分析结...     

X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量

熔融制样X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量。用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以BaO2做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化电解锰,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱法分析电解锰中锰、硅、磷和铁含量。锰、硅、磷和铁的相对标准偏差RSD分别为0.23%、2.82%、0.31%和0.53%。与其它分析方法比较,其结果更稳定。有效消除了电解锰熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的范围内,实现了电解锰中各元素的快速准确测定。     

电磁感应加热与原子荧光光谱联用测定海产品中的无机汞和有机汞

研制了电磁感应加热装置和磁感应加热柱,并将其应用于有机汞的在线氧化。与冷蒸汽发生-原子荧光光谱法联用,在线测定了海产品中的无机汞和有机汞。样品溶液与K2S2O8在线混合后流经磁感应加热柱,在较低功率(15W)时快速升温将有机汞氧化为无机汞,测定总汞含量;加热柱为室温时,测定无机汞含量,二者之差为有机汞。对各种实验参数和干扰情况进行了详细研究。无机汞的检出限为0.036μg/L;样品分析精密度(RSD)为2.4%(n=11);有机汞的检出限为0.043μg/L,样品分析精密度(RSD)为3.6%(n=11)。     

血清中碘海醇的X射线荧光光谱测定法

报道以 Br作为内标、滤纸片浸泡制样 ,测定血清中碘海醇的 X射线荧光光谱( XRF)分析方法。方法简便、快速。检出限可达 8.8μg/m L,相对标准偏差为 3.0 9% ,是检测血清中低浓度碘海醇的较为理想的检测方法     

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶薄带中Si,B,Fe的含量合金薄带中硅硼铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4~0.5%,1.3~4.2%和0.2~0.4%。本方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和ICP-AES的测定值吻合较好。本方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。