共查询到20条相似文献,搜索用时 125 毫秒
1.
2.
薄透镜焦距测量中的误差及处理 总被引:1,自引:0,他引:1
薄透镜焦距测量中的误差及处理朱林彦,杨周琴(太原工业大学030024)测量薄透镜焦距常用的方法有三种,即自准直方法,物距像距法和共轭法(二次成像法).由于成像关系上的一些近似和仪器的原因,这三种方法的测量误差都较大.尽管测量数据比较集中,但三种方法测... 相似文献
3.
测量薄透镜焦距的方法很多,本文通过其中常用的两种,即物距像距法和二次成像法(又称贝塞尔法),测凸透镜焦距的实际测量及误差计算,来评价该实验结果的好坏。一、物距像距法测量凸透镜焦距 1.由凸透镜公式(图1)式中u为物距(AB),v 相似文献
4.
光学实验中,薄透镜焦距的测量是最基本的实验,常用的测量方法有:物距与像距法(简称为物像法),透镜二次成像法、自准直法、辅助透镜成像法、准直光管法等.除了自准直法和准直光管法外,无论使用哪种方法,都必须要直接测定像距.虽然从理论上说,物距和像距都可以近似地用从透镜光心算起的距离来代替而不必考虑透镜本身的厚度,因而测出的焦距一般较为准确,但由于视差、景深等因素的影响,使得在实验过程中难以准确地确定像的位置,故而使得实际的测量结果相当不准确. 相似文献
6.
7.
8.
9.
10.
自准法测凸凹薄透镜焦距的光路图如下.该方法简单易行,物理图象清晰,不失为薄透镜焦距测量的好方法.原则上,作反光用的平面镜M和待测透镜之间的距离不大影响成像的清晰度,但平面镜过远会因反射成像时对其法线方向要求变严而使成像变暗.因此,一般认为为使成像亮度较高,测凹透镜焦距时,应尽量使平面镜M高物屏P近一些,凸透镜L;高物屏P的距离以凸透镜焦距的2倍为宜.实验表明这种选法可能会在物屏P上出现干扰像,即不是经平面镜M反射的光形成的等大倒立的实像,结果使约15%的学生产生错误测量.即使是自准法测凸透镜焦距,也往… 相似文献
11.
12.
13.
14.
结合几何原理和激光光源的特性,提出一种应用凸透镜实物成虚像情况下简便测量凸透镜焦距的方法,该方法可以作为大学生的设计性、探究性和创新性的实验项目。 相似文献
15.
为了实现对薄膜和镀层材料厚度的微区无损分析,利用多毛细管X光会聚透镜和多毛细管X光平行束透镜设计并搭建了普通实验室X射线光源的共聚焦微束X射线荧光测厚仪,对该共聚焦测厚仪的性能进行了系统表征。利用该测厚仪测定了厚度约为25μm的Ni独立薄膜样品和压于硅基表面厚度约为15μm的Ni薄膜样品厚度,对应它们的相对测量误差分别为3.7%和6.7%。另外,还对厚度约为10μm Ni薄膜样品的厚度均匀性进行了测量。该共聚焦测厚仪可以对样品进行微区深度分析,并且具有元素分辨能力,从而使得该谱仪可以测量多层膜样品不同层的膜厚,在薄膜和镀层厚度表征领域具有潜在的应用。 相似文献
16.
17.
针对透镜焦距测量实验中由焦深引起的测量误差,改进了透镜焦距测量实验中的物屏。用此屏测量薄凸透镜的焦距可改善成像焦深现象,同时减小实验所得焦距的离散性。 相似文献
18.
针对物距像距法测量凹透镜焦距的实验现象进行了理论分析,加深了对成像规律的理解,并提出了减小视觉实验误差的方法:凹透镜尽量靠近虚物,减小清晰成像的范围。本文对凹透镜测焦距的实验有一定的指导意义。 相似文献
19.
焦距是光学透镜和光学仪器的重要光学特性参数。焦距值测量的准确性直接影响光学仪器的质量和军用光学仪器的性能发挥。因此,对测量焦距的仪器如焦距仪或光具座的精度标定工作就是极重要的问题。当前,最科学、最经济、最行之有效的方法就是研制出一套焦距标准透镜,对测量焦距的仪器进行精度标定。本文介绍了焦距标准透镜设计原则,标定焦距标准透镜所采用的一种高精度方法,并例举了其中一对焦距标准透镜最后精度标定的结果 相似文献
20.
介绍采用Fourier术测量透镜焦距的方法,通过测量Fourier变换面上功率谱的分布,计算出透镜焦距。文中对测量原理进行了理论分析,导出了焦距计算公式并给出了实验结果,同时对功率谱分布的探测方法进行了探讨。 相似文献