对Kodak—SWR底片在软X光波段的绝对标定

运用透射光栅光谱仪，对线聚焦高功率激光辐照到锗靶上产生的软Ｘ光激光进行光谱记录，利用衍射谱的对称性和已经绝对标定过的Ｋｏｄａｋ－１０１底片来完成对Ｋｏｄａｋ－ＳＷＲ底片的绝对标定。     

X光胶片响应曲线的实验标定

介绍了天津ⅢX光胶片在北京同步辐射源3W1B装置上进行绝对响应标定的一种实验方法。实验中采用快门控制曝光时间,标准探测器记录积分光强,从而得到胶片接收到的绝对光强,并用黑密度计扫描胶片得到光学黑密度。数据处理中通过对快门响应的标定和对光源分布不均匀性的处理来减小光强的不确定度。实验得到了胶片在1 keV和1.5 keV两个能点绝对光强与黑密度之间的绝对响应实验数据,并用Henke的理论公式拟合得到绝对响应曲线。     

X光胶片响应曲线的实验标定

 介绍了天津ⅢX光胶片在北京同步辐射源3W1B装置上进行绝对响应标定的一种实验方法。实验中采用快门控制曝光时间,标准探测器记录积分光强,从而得到胶片接收到的绝对光强,并用黑密度计扫描胶片得到光学黑密度。数据处理中通过对快门响应的标定和对光源分布不均匀性的处理来减小光强的不确定度。实验得到了胶片在1 keV和1.5 keV两个能点绝对光强与黑密度之间的绝对响应实验数据,并用Henke的理论公式拟合得到绝对响应曲线。     

亚千X光能谱仪响应曲线实验标定

介绍了在高强度带电粒子激发Ｘ射线光源装置上标定亚千Ｘ光能谱仪的总响应，给出了Ｘ射线二极管（铝阴极）的灵敏度的绝对标定值以及作为高能截止分光元件镍平面镜的反射率，并与国外理论值和实验值进行了比较。     

X射线胶片的脉冲光源响应标定

用ＬＦ－１１激光装置的１．０６μｍ脉冲激光加热Ｃｕ靶产生的Ｌ－壳层线辐射作脉冲Ｘ射线源，在曝光量为（０．０１～１０）－７Ｊ·ｃｍ－２范围内，标定了ＫＯＤＡＫＡＡ－５，ＫＯＤＡＫＳＷＲ和ＵＦＳＨ－Ｏ软Ｘ射线胶片的响应曲线，并与用连续光源标定的进行了对比．结果表明，这三种ｘ射线胶片，在强脉冲光源曝光条件下，都存在着胶片响应互易律失效问题，过去用连续光源标定的响应曲线，在激光等离子体诊断实验中，已经不能采用．     

激光光源粒子计数器响应曲线对粒子折射率敏感度及多值性的分析

采用激光作光源的光学粒子计数器(L_OPC)克服了白炽灯作光源时使用寿命短、发光强度不稳定、需要经常标定的缺点,但激光波长的单一也带来了一些问题,如响应曲线对折射率敏感度的变化和多值性等问题。利用Mie散射理论,通过数值模拟实验,对L_OPC的这些问题进行了分析,提出了L_OPC实验样机的设计参数。     

用网格衰减膜相对标定SIOFM—5FW软X光底片

点降焦激光等离子体发出的Ｘ射线经晶体色散形成均匀的单色Ｘ射线源，在此基础上，用单层网格作为衰减膜，得到未经衰减和经过衰减的Ｘ射线谱，对无保护膜的ＳＩＯＦ－Ｍ５ＦＷ软Ｘ光底片作了试验性的相对标定，得到了０．９１ｎｍ波长的特性曲线。     

用网格衰减膜相对标定SIOFM─5FW软X光底片

点聚焦激光等离子体发出的Ｘ射线经晶体色散形成均匀的单色Ｘ射线源，在此基础上，用单层网格作为衰减膜，得到未经衰减和经过衰减的Ｘ射线谱，对无保护膜ＳＩＯＦＭ５ＦＷ软Ｘ光底片作了试验性的相对标定，得到了０．９１ｎｍ波长的特性曲线     

超紫外波段的X射线底片相对标定

介绍X射线底片在超紫外波段(19.0～22.0nm)的相对标定方法。在LF-11激光装置上,用激光产生等离子体作为标定源,同时控制显影条件和底片类型与测X光激光时相同,标定出美国Kodak公司生产的SWR型底片特性曲线。解决了底片响应对所测X光激光增益系数的影响。结果表明,在超紫外波段,波长对特性曲线影响可不考虑。     

上海软X光胶片响应的相对标定

介绍了在同步辐射源上用透射光栅对“上海”软X光胶片进行相对标定的方法,初步研究了“上海”胶片的特性,得到了在276eV和930eV两能点的胶片黑密度与相对曝光量的关系曲线;应用标定结果,计算了光栅的衍射效率。     

航空胶片的X射线标定

利用光谱扩展的荧光型软X射线单色光源产生的多条谱线,通过时间递增和光强递增的方法首次标定了国产高速航空胶片在软X射线和超软X射线波段的响应特性,给出了这种胶片的响应特性曲线即光学密度与曝光量的关系和相对光谱灵敏度曲线.     

0.5—10nm软X射线标定光源的研制

本文描述一个用于标定弯晶谱仪的软X射线(0.5—10nm)光源系统。当阳极靶材料为铁、碳和硼时,相应的分别采用KAP、OHM和LS晶体可以得到铁L.(1.76nm)、碳K.(4.47nm)和硼K.(6.76nm)单色光,实验上测量了这三种单色光亮度随阴极发射电流的变化。     

5FW 软X光胶片响应在同步辐射源上的实验标定

 介绍了5FW 软X-光胶片在同步辐射源上进行响应标定的一种实验方法, 得到了5FW 软X-光胶片对波长为1. 47nm 和4. 59nm 软X 光的相对响应实验曲线, 并与用理论模型计算的结果进行了比较。     

5FW 软X光胶片响应在同步辐射源上的实验标定

介绍了5FW 软X-光胶片在同步辐射源上进行响应标定的一种实验方法, 得到了5FW 软X-光胶片对波长为1. 47nm 和4. 59nm 软X 光的相对响应实验曲线, 并与用理论模型计算的结果进行了比较。     

1～1000keV能区X射线闪烁探测器灵敏度的标定

本文介绍利用六种标准X光同位素源和亚千电子伏X光源，采用直流法对XP 1110(或XP1115)光电倍增管与NaI(T1)闪烁体装配成的闪烁探测器在1～1000keV能区范围内的灵敏度进行标定，给出了在三种不同的高压下，不同厚度的新旧两种NaI晶体配制：XP1110或XP1115闪烁探测器的标定结果，且给出了这些结果的灵敏度曲线。文章对利用质子激发铝靶国内首次产生的1.5keV的X光作为光源对该闪烁探测器低能道的灵敏度标定，作了简要介绍。文章还对用氮灯作为光源模拟激光打靶对该探测器的幅值线性和积分线性进行了探讨。     

UFsh—O软X光胶片在质子荧光源上的绝对刻度

介绍在Ｋ—４００质子加速器上，以质子激发低Ｚ材料产生的内壳层荧光（波长０．５０～６．８ｕｍ）作为光源绝对刻度ＵＦｓｈ—Ｏ软Ｘ光胶片．给出了该种胶片的三维黑密度曲线并对结果作了讨论．     

一种新型多元素X射线荧光分析仪的研制

新研制的一种用于建材的新型多元素Ｘ射线荧光分析仪与传统的技术方案不同，采用了小功率Ｘ光管激发，薄铍窗正比计数管探测，在低号元素Ａｌ、Ｓｉ的测量方面，具有特色。并简要介绍了仪器的工作原理、组成、技术指标及工业应用效果。     

XRD灵敏度在同步辐射源上的绝对刻度

 在BEPC同步辐射的3B1束线上，利用多层镜分光，获得了单色性较好，强度较高的软X光光源。采用美国进口的AXUV-100Si光二极管作为二级标准，对XRD探测器和滤片进行绝对刻度，获得了各种阴极XRD的灵敏度，其结果与LLNL的实验结果吻合，并对实验结果作了分析。     

ACCURATE DETERMINATION OF FILM THICKNESS BY LOW-ANGLE X-RAY REFLECTION

A modified Bragg law for straightforward determining the film thickness by low-angle X-ray reflection was derived based on the geometrical optical theory. We showed that this modified Bragg law and its inference formulae could be used to accurately determine the thickness of the monolayer or multilayer film. Furthermore, the modified Bragg law for determining the superlattice period presented earlier by others can be derived from the above modified Bragg law. The similar inference formulae were also given. The precision in determining the film thickness and/or superlattice period by the above formulae was discussed.