X射线荧光光谱分析

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱法”学科的第六篇评述，它收集了国内学者１９９４年７月到１９９６年６月期间发表的在国内外刊物上的１４９篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述，内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ射线发射光谱，定量，定性和化学态分析方法，制样技术，以及在各个科学和工业领域中的应用。     

X射线荧光光谱法测定羰化反应液及催化剂中的铑

建立了以波长色散X射线荧光光谱仪直接测定羰化反应液及催化剂中铑含量的定量分析方法, 采用甲苯为溶剂的铑催化剂溶液做校准曲线标准样品, 铑质量分数测量范围为10～1000 μg/g, 在总测量时间为20 s时, 其检出限为2.2 μg/g. 15次的平行重复测试结果, 相对标准偏差为0.94%. 溶液厚度实验说明, 当溶液的厚度超过14.7 mm时可视为达到无限厚. 并将不同样品同时进行了XRF测试和原子吸收法测量, 结果一致.     

X射线荧光光谱法快速测定多金属矿中的砷

阐述了少量样品与微晶纤维素混合，直接压片成型后的测定其中的砷，采用经验系数法校正基体效应，分析范围为０．１１～３１．０３％，砷含量１６．０２％时，方法的相对标准偏差为２％，分析结果与化学法相符。     

选矿流程样品中铌和钍的X射线荧光光谱法测定

采用Ｘ射线荧光光谱法，以铑靶的康普顿散射线强度为内标，测定了铁矿石选矿流程样品中的铌和钍。方法简便、快速、准确，完全能够满足选矿工艺研究和日常生产对样品中铌和钍分析的要求。     

粉末压片-X荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量

硫是过磷酸钙中重要营养指标之一,为准确快速测定过磷酸钙中硫的含量,试验采用粉末压片-X荧光光谱法,将过磷酸钙试样充分干燥后研磨至粒度小于74 μm,采用硼酸镶边,在压力18 Mpa条件下保压30 s,制成样片。通过在过磷酸钙样品中添加不同质量的纯物质硫酸钙（质量分数范围1.52 %～17.21 %）,经过专用混匀设备混合均匀后,与试样压片相同条件下压制标准样片,作为过磷酸钙中硫的标准样品,建立硫标准曲线,曲线线性相关系数R2为0.9995,采用经验系数法校正干扰,建立了粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量的方法, 方法检出限为0.002 %。对3个不同硫含量的过磷酸钙样品采用本实验方法重复测量7次,RSD在1.4 %~3.1 %,方法精密度性好,同时用高温燃烧红外光谱法和电感耦合等离子发射光谱法对比,三者测量结果相对极差小于2.0 %,测量结果无显著性差异。此方法不需要对样品进行熔融或溶解,样品制备简单,数据准确度和稳定性好,分析效率高,适合大批量样品中硫的测定。     

X射线荧光光谱法测定平炉渣中主成分

使用3080E3型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,研磨克服粉末样品的粒度效应,理论d系数法校正基体效应的方法,建立了平炉渣样品中TFe、SiO2、MgO、Al2O3、CaO、MnO、TiO2、P2O5组分的快速测定方法。研究了制样条件,用内控标样作标准曲线,分析结果的相对标准偏差为0．23％～3．17％,满足日常分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定垃圾焚烧炉渣中主要成分

使用X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片制样,以研磨的方式克服粉末样品的粒度效应,理论α系数法校正基体效应,建立了垃圾焚烧炉渣样品中SiO2、Fe2O3、MgO、Al2O3、CaO、K2O、TiO2、P2O5八组分的分析方法.用标准化法进行强度漂移校正,用内控标样制做校准曲线,测定结果的精密度和准确度可以满足日常分析要求.     

X射线荧光光谱法测定水样中的痕量元素

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定了水样中痕量的A1、Cr、Ni、Zn、Sr、Ba、Tl、Pb。本法的测量结果与ICP和AAS的结果相近，对5．7μg/g Sr测量5次的RSD为1．2％，Sr的检出限(LLD)达到0．1μg/g。     

X-射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑中的微量元素

报道了Ｘ射线荧光光谱法直接测定电工硅钢钢屑样品微量元素的新方法,校正了样品中元素中间的基体效应影响和校正了钢屑样品的不同颗粒结构,不同几何形态及不同表面状态的影响,使钢屑样品可不经处理直接测定,操作简便。     

X荧光光谱法测定锡酸铅TDI还原型催化剂中锡和铅含量

报道了一种准确度高、分析步骤简单的锡酸铅TDI还原型催化剂中锡和铅含量的X射线荧光光谱方法（XRF）．设计制备了标准样品,研究了仪器测试条件下元素峰位的选择和背景扣除方法．结果表明：X荧光光谱法在不破坏样品的前提下完成对二氧化锡和铅含量的同时测定,重复实验10次,Pb实验相对标准偏差为0．37％;SnO2实验相对标准偏差0．61％。     

Determination of Major and Minor Elements in Granite by Inductively Coupled Plasma and X-ray Fluorescence Spectrometry

Abstract

The development and evaluation of an analytical method for the determination of major and minor elements in granite by ICP-AES and XRF are described. The method applies a standard addition method to generate calibration standards for XRF measurements by ICP-AES from samples to be analyzed. Reliable results were obtained by using simple versions of ICP and XRF, and combined with the pressed-powder pellets for sample preparation. Least squares data for parameters measured by this method vs. reported value for a granite standard reference material gave a slope of 1.002 ± 0.005 and an intercept of -0.029 ± 0.07. The coefficients of variation vary between 0.53% for the largest oxide and 8.3% for the lowest oxide.     

X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量

熔融制样X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量。用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以BaO2做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化电解锰,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱法分析电解锰中锰、硅、磷和铁含量。锰、硅、磷和铁的相对标准偏差RSD分别为0.23%、2.82%、0.31%和0.53%。与其它分析方法比较,其结果更稳定。有效消除了电解锰熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的范围内,实现了电解锰中各元素的快速准确测定。     

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定石灰石中5种氧化物含量

建立了电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定石灰石样品中5种氧化物氧化镁(MgO)、三氧化二铁(Fe_2O_3)、二氧化硅(SiO_2)、氧化锰(MnO)、三氧化二铝(Al2O3)含量的方法。先将样品与无水碳酸钠和四硼酸钠高温熔融后,再用盐酸进行消解可以很好地溶解石灰石样品。选择Mg285.21nm、Fe 238.20nm、Si 251.61nm、Mn 257.61nm、Al 396.15nm为分析谱线,采用空白校正的方法校正基体的影响。在选定的实验条件下,各元素标准曲线的线性相关系数均不小于0.999,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=6)在1.8%～2.4%,各测定元素的加标回收率也在94%～105%。按照实验方法将各元素测定结果与5种国家标准测定方法得出的结果进行比对,准确度、精密度、回收率均在理想范围内。结果表明,所建立的方法可以满足石灰石中5种元素联测的要求,并且更加快速、准确。     

X射线荧光光谱法同时测定矿石中铀和钍

建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量的快速分析方法。采用高压粉末制样法,对不同含量的放射性样品的压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400 MPa压力下压制,克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线的标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线的标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。     

能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐中主成分含量

传统的化学分析方法分析硅酸盐类矿物样品组份,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大,分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。采用国产能量色散X-射线荧光分析仪,以Li2B4O7和LiBO2作混合熔剂,NH4NO3为氧化剂,熔融制作玻璃熔片,对硅酸盐中SiO2等10个主要成分含量进行同时分析,建立了能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐主成分含量的方法,准确度和精密度均达到了规范要求,得到了较为满意的分析结果。     

X射线荧光光谱法测定石化产品中的总氯

采用能量色散X射线荧光光谱法测定石化产品中的总氯含量。采用钛靶X射线管及高分辨率硅漂移半导体检测器,在管电压10 kV、管电流0.3 mA的最佳实验条件下,氯含量在30~1 000 mg/L范围内与荧光强度呈良好的线性关系,相关系数大于0.999,检出限为6.24 mg/kg。利用该法对90#石油醚、120#溶剂油、润滑油、基础油等中的氯含量进行测试,测定结果与GB/T 18612–2011方法相一致。该方法可以作为测定石化产品总氯含量的新的试验方法。     

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%~0.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。     

X射线荧光光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。