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利用直接耦合的激光器放大器对,观察了弱信号机制下Fabry-Perot的半导体激光放大器的光放大.测量了放大器增益随放大器注入电流的变化关系,并将实验结果同理论模型相比较,发现理论和实验是一致的.把F-P放大器看作是一个光电探测器,通过测量放大器的短路光电流,得到了激光器同放大器之间的耦合效率. 相似文献
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在横向泵浦脉冲染料激光器中,虑及染料激发态在激光波长处的吸收,根据稳态运转转条件,应用极值原理,给出其最佳增益与染料长度的关系式。 相似文献
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以行波放大器速率方程为基础,采用传输矩阵方法,对行波放大器的增益饱和特性进行了理论研究,讨论了增益饱和特性对电流注入水平,腔面反射率的依赖关系,以及俄歇复合过程在行波放大器增益放大的作用,虽然俄歇复合过程可能提高饱和光强,但它会降低量子效率及非饱和增益,对器件的实际工作特性没有益处。 相似文献
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用随时间变化的氙灯辐射光谱模型,建立了组合式钕玻璃片状激光放大器动态增益特性的模拟程序,实现了从氙灯放电到引出激光的全过程动态模拟,可用于片状激光放大器的优化设计.研究了:1)放大器在不同的抽运条件下水平方向的增益均匀性,当氙灯爆炸系数比较高时,自发辐射放大优先使片的边缘产生消抽运作用,增益分布变得不均匀,通光口径的中央处增益较大;2)片厚度和掺杂浓度对增益性能的影响,在相同的抽运条件下,储能通量由片厚度与掺杂浓度的乘积决定,给出了储能通量和小信号增益随片厚度与掺杂浓度的乘积的变化关系
关键词:
钕玻璃激光放大器
储能密度
增益特性 相似文献
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通过激光放大器获得高功率的激光输出时,增益材料的损伤特性决定了激光器的使用寿命。以激光二极管(LD)端面泵浦的单片钕玻璃激光放大器为例,对泵浦过程增益材料内部的光场特性和热效应引起的端面应变进行了研究。结合电子增殖理论,建立了一个激光增益材料场致损伤特性分析模型。研究了增益材料内部的雪崩电离速率和多光子电离速率的变化规律,并根据临界自由电子数密度确定了材料发生损伤的具体位置。研究结果表明,激光增益材料发生损伤的位置受到信号光初始光强值、脉冲宽度和泵浦光功率密度影响。当初始光场能量一定,脉冲宽度从10 ns增加到13 ns时,损伤点向入射端方向移动大约14 mm。泵浦光功率密度越大,端面热效应越明显,材料更容易发生损伤。 相似文献
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为满足半导体光放大器(SOA)在光纤到户FTTH系统接入网中的广泛应用,提出了基于光纤光栅外腔反馈型GC-SOA结构的全光增益机制,窄线宽激光光源经可变衰减器、隔离器和光纤光栅注入到SOA中,SOA的输出光经隔离器和光纤光栅送至光谱分析仪,通过光纤光栅反馈输入SOA形成钳制激光。对GC-SOA的阈值特性、增益特性及开关特性进行分析,结果表明:当注入电流小于GC-SOA的阈值电流时,增益随注入电流的增加而增加;当注入电流大于GC-SOA的阈值电流后,其增益不再随注入电流的变化而变化,实现了SOA的增益稳定,使SOA的饱和输出功率得到了提高。
相似文献9.
为满足半导体光放大器(SOA)在光纤到户FTTH系统接入网中的广泛应用,提出了基于光纤光栅外腔反馈型GC-SOA结构的全光增益机制,窄线宽激光光源经可变衰减器、隔离器和光纤光栅注入到SOA中,SOA的输出光经隔离器和光纤光栅送至光谱分析仪,通过光纤光栅反馈输入SOA形成钳制激光。对GC-SOA的阈值特性、增益特性及开关特性进行分析,结果表明:当注入电流小于GC-SOA的阈值电流时,增益随注入电流的增加而增加;当注入电流大于GC-SOA的阈值电流后,其增益不再随注入电流的变化而变化,实现了SOA的增益稳定,使SOA的饱和输出功率得到了提高。 相似文献
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根据锁定放大器的工作原理,提出了利用锁定放大器检测微弱信号的实验方法。并指出了影响测量的几个参数。 相似文献
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提出测量光学系统单色光畸变的一种新方法,采用的是造价低廉、制作简便的非线性全息光栅作标准多平行光束发生器。通过两个测量实例,分析测量误差,对相关问题进行讨论。最后提出角畸变测量的概念及提高测量精度的途径。 相似文献
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自参考激光剪切干涉法测量透镜焦距的实验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文在改进的激光平板剪切干涉法基础上,提出了测量透镜焦距的一种新的实验方案。此方案根据透镜节点特性,以两组干涉条纹的平行作为判据,测量过程简便且精度较高。 相似文献
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一种测量透镜单色焦距的新方法 总被引:1,自引:0,他引:1
根据单狭缝衍射原理,提出了一种测量透镜单色焦距的新方法。结合光电扫描技术,使该方法既可适合于可见光区,又可用于不可见光区的测量,同对,可获得较高的测量精度。 相似文献
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分子的荧光寿命,通常可用脉冲荧光法进行测量。若荧光寿命接近或小于仪器响应时间时,则观测到的荧光衰变曲线是真实的荧光衰变曲线与仪器响应函数卷积的结果。为此须采用解卷积方法来求得荧光寿命。解卷积运算不仅其计算过程繁重,而且计算结果受检测仪器响应函数的准确度的影响很大。 本工作提出一种新的测量荧光寿命的方法。该方法是根据观测的荧光衰变曲线的峰值所对应的时间tmax随荧光寿命的增大而单调地变大的关系,选用一些已知寿命的荧光物质作为标准样品,测量标准样品的tmax~τ关系曲线,然后测量待测样品的tmax,据此求出荧光寿命τ。这种方法简便、准确可毋须进行解卷积运算。 相似文献