分束比对迈克尔孙干涉仪条纹可观测性影响的研究

根据波动光学理论给出了分束比与光强对比值之间关系,在人眼光强对比值探测极限限制下,研究了分束比与迈克尔孙干涉仪条纹可观测性之间关联,研究结果表明,当分束比低于0.005 9时,干涉条纹将不可用眼辨认.该结果不但可以为大学物理实验教学中分析迈克尔孙干涉仪条纹可观测性提供指导,而且也可用于设计高条纹观测性迈克尔孙干涉仪.     

利用迈克尔孙干涉仪测定液体折射率

介绍一种用迈克尔孙干涉仪测定液体折射率的简单可行的方法。     

迈克尔孙干涉仪的应用研究

在近代物理学和近代计量科学中,迈克尔孙干涉仪作为一种精密光学仪器,得到了广泛应用.本文主 要介绍了迈克尔孙干涉仪在测量全息干板厚度、弹光系数、隐失场等方面的应用.     

利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数

利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数杨蓉，朱桂荣，屠传士（苏州大学物理系２１５００６）精密测量长度常用的方法是将待测长度和激光波长作比较，通过干涉条纹计数求待测长度．利用迈克尔孙干涉仪得到干涉图，用感光元件把光学信号变成电信号并与其他电子...     

迈克耳孙干涉仪实验中干涉条纹方程的推导和模拟

通过对迈克耳孙干涉仪干涉原理和干涉光路的分析,得到了接收屏上的各级干涉条纹方程,在此基础上对干涉条纹的形状进行了模拟和讨论.     

新型抗干扰迈克尔孙干涉条纹自动计数仪

介绍了一种迈克尔孙干涉条纹自动计数仪,该装置具有良好的稳定性和很强的抗干扰能力.     

利用透射光栅寻找迈克耳孙干涉仪的白光干涉条纹

介绍了借助透射光栅调整迈克耳孙干涉仪的白光干涉条纹的方法和原理，并讨论了其中的有关现象．     

迈克尔孙干涉仪测长的校正

讨论了非点光源及光源中心不在光轴上时，用迈克尔孙干涉仪测长所引起的样正量。     

迈克耳孙干涉仪非定域干涉条纹分析

针对迈克耳孙干涉仪实验调节过程中经常会出现椭圆、双曲线等非圆形二次曲线条纹的现象,本文基于点光源条件下非定域干涉的原理,推导出了干涉条纹满足的曲线方程,分析了不同条件下干涉条纹的形状,发现观察屏上可呈现圆、椭圆、抛物线、双曲线和直线5种类型的干涉条纹.基于理论结果进行了数值模拟和实验验证,数值模拟结果和实验结果吻合较好.     

玻片厚度对迈克耳孙干涉仪干涉条纹的影响

探讨了在迈克耳孙干涉仪反射镜M2前加入不同厚度的玻片,对干涉条纹级数变化的影响. 实验表明,对于不同的反射镜M2到透镜的距离,改变反射镜M2前玻片的厚度,存在干涉条纹的疏密变化从不断陷入变为不断冒出的临界位置. 通过实验得出了临界位置与两反射镜间距的关系.     

改进型迈克耳孙干涉仪

采用分光梭镜代替迈克耳孙干涉仪中的分束镜和补偿板，不仅消除了杂散光斑，且简化了仪器的结构．     

In-fiber integrated Michelson interferometer

A novel fiber-optic in-fiber integrated Michelson interferometer has been proposed and demonstrated. It consists of a segment of two-core fiber with a mirrored fiber end. The sensing characteristics based on the two-core fiber bending, corresponding to the shift of the phase of the two-core in-fiber integrated Michelson interferometer, are investigated.     

A double-passed Michelson interferometer

A method is described for double-passing a Michelson interferometer to obtain immunity to tilting of the mirror. Such an instrument is of interest for length and distance measurement.     

迈克耳孙干涉仪的数字化设计

使用硅光电晶体三极管作为光干涉条纹传感器,采用变间隙动极板电容传感器代替传统微距测量的设计方案,利用单片机对干涉条纹进行计数并自动测量反射镜的微小位移,实现了迈克耳孙干涉仪的数字化测量.制作了检测系统及电路,完成系统的软件设计.He-Ne激光波长的测量实验结果表明,采用该方案能够缩短测量时间,提高测量精度.     

迈克耳孙干涉仪实验的误差探讨

根据迈克耳孙干涉仪的机械结构,分析了仪器误差的5个分量,确定了迈克耳孙干涉仪的仪器误差,分析了迈克耳孙干涉仪由于调节不当而产生的误差,提出了减小这类误差的方法,分析了振动对光波波长测量的影响,设计出了一种简易防震台,能明显减小震动的影响.     

基于迈克耳孙干涉仪的自相关仪

根据大学物理光学中迈克耳孙干涉仪的基本原理,设计实现了基于迈克耳孙干涉仪的自相关仪.分析了利用自相关仪的干涉自相关进行超短激光脉冲测量的原理;进行了实验测试,实现了对超短激光脉冲时间宽度的测量.     

高灵敏度的量子迈克耳孙干涉仪

迈克耳孙干涉仪不仅可以用来研究物理学的基本问题,而且能够用于精密测量,比如引力波信号的测量.因此,构建高灵敏度的迈克耳孙干涉仪是实现微弱信号测量的关键.目前,人们利用压缩态可以降低迈克耳孙干涉仪的噪声;通过光学四波混频过程能够放大马赫·曾德尔干涉仪中的相位信号,从而提高干涉仪的信噪比和灵敏度.本文研究了一种用于高灵敏度相位测量的量子迈克耳孙干涉仪.在迈克耳孙干涉仪中,利用非简并光学参量放大器取代干涉仪中的线性光学分束器;并且将压缩态注入干涉仪的真空通道,可以得到高信噪比和高灵敏度的干涉仪.由于存在不可避免的光学损耗,分析了迈克耳孙干涉仪内部和外部的损耗对相位测量灵敏度的影响.通过理论计算研究了干涉仪的相位测量灵敏度随系统参数的变化关系,得到了高灵敏度的相位测量量子迈克耳孙干涉仪的实现条件,为用于精密测量的干涉仪的设计提供了直接参考.     

基于数字全息技术的迈克尔逊干涉仪设计与应用

传统的迈克尔逊干涉仪只能简单地呈现光的干涉图像,并不能生动体现光的波动特性及其形貌特征,且测量过程繁琐。针对这些问题,提出了一种基于数字全息技术的新型迈克尔逊干涉仪实验装置。该装置采用2个CCD相机代替传统迈克尔逊干涉仪中的平面反射镜,并引入与球面光相干的平面参考光与球面光发生干涉,利用数字全息技术直接获取2个CCD记录面上的球面光复振幅信息,然后通过最小二乘拟合获取球面波参数,并对球面光复振幅进行解调得到居中后的球面光复振幅,最后通过数字干涉的方法实现两球面光的干涉。实验结果表明,该装置能实时生动地显示入射球面光的三维图像和两球面光的干涉图像,同时根据拟合得到的参数能便捷地测量透明等厚介质的折射率,实验中测量了3种不同材料的折射率,其误差均能控制在±5%以内,有较高的测量精度。     

A Michelson interferometer using electron waves

An electron interferometer of the Michelson type is realized. Monoenergetic 25 keV electrons emitted from a line source 1000 Å in width are deflected by 90 ° in a magnetic Castaing prism and reflected on two mirrorsM ₁ andM ₂ held at a potential ΔU _m negative with respect to the cathode. In the experiment the mirrors are represented by height differences on the surface of an silvered glass plate. The reflected electrons are once more deflected by the magnetic prism behind which the coherent partial beams 1 and 2 reflected on the mirrorsM ₁ andM ₂, respectively, are superimposed using an electrostatic biprism to form two-beam interferences. The observed fringe shift indicates a phase shift due to differences in height between the equipotentials reflecting the partial beams 1 and 2. It is estimated that path differences less than the electron wavelength of 0.08 Å can be observed.     

A Michelson interferometer for astronomical applications

A Michelson interferometer is described which is suitable for absolute flux measurements in the far-infrared. We discuss the problems related to the calibration of the instrument, the evaluation of its efficiency, and the mathematical filtering of the interferograms.