首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 271 毫秒
1.
介绍了高温超导薄膜制备方法(如磁控溅射、脉冲激光淀积、电子束共蒸发、化学气相沉积等)研究的进展和现状.对薄膜生长中的一些技术,如外延生长高质量的薄膜对基片的要求、常用的基片、为了减小像硅和蓝宝石一类的重要基片与高温超导薄膜间的扩散以及改善晶格匹配所采用的缓冲层技术等也作了简要的介绍,还介绍了薄膜的微波性质和用高温超导薄膜制备的微淡无源器件.  相似文献   

2.
胡大治  沈明荣 《物理学报》2004,53(12):4405-4409
利用脉冲激光淀积法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了28mol%La掺杂钛酸铅薄膜.采用不同的淀积氧气压,并分析了其对薄膜微观结构和介电性能的影响.结果表明,在2Pa左右的气压下淀积的薄膜具有好的结晶度和介电系数.在频率为10kHz时28mol%La掺杂钛酸铅薄膜的介电系数达852,并且保持了较低的损耗.同时制备了其他La掺杂浓度的PbTiO3薄膜,发现它们也有类似的特点.对此作了定性解释. 关键词: 脉冲激光淀积 PLT薄膜 气压 介电增强  相似文献   

3.
我们用熔融法制备了Ba1-xKxBiO3氧化物超导体,其超导转变温度28.5K,零电阻温度25.2K.以此为靶,用脉冲激光淀积技术,制备了Ba1-xKxBiO3超导薄膜,Tc(onset)=24.5K,Tc(R=0)=20.8K.  相似文献   

4.
本介绍我们对高温超导/铁磁多层膜样品的初步研究结果。利用准分子脉冲激光淀积方法制备了由高温超导YBa2Cu3O7薄膜与铁磁巨磁电阻材料Pr.7Sr.3MnO3薄膜组成的三夹层型和台阶边缘结型多层膜样品。对YBa2Cu3O7/Pr.7Sr.3MnO3多层膜样品输运性质测量表明样品中存在超导转变及铁磁相变。对两种多层膜样品的电阻随温度变化测量曲线进行了讨论。  相似文献   

5.
XeCl(308nm)脉冲准分子激光淀积类金刚石薄膜   总被引:9,自引:1,他引:8  
利用XeCl(308nm)脉冲准分子激光淀积技术在功率密度5×108W/cm2、室温、真空度10-3Pa的条件下,制备出不含氢成分的类金刚石薄膜,研究了类金刚石薄膜的特性及其随制备工艺条件的变化规律。研究了激光诱导的碳等离子体发射光谱,探讨了类金刚石薄膜的形成机理。  相似文献   

6.
景俊海 《物理》1990,19(6):354-355,371
本文简要介绍激光蒸发淀积高Tc超导薄膜技术的基本原理.主要工艺特点,各种激光器在制备高Tc超导薄膜中的应用及所取得的重要成果.  相似文献   

7.
我们采用脉冲激光淀积方法在(100)SrTiO3基底上制备了a-轴取向外延的YBa2Cu3O7-x薄膜.通过采用活性氧,降低氧压和淀积速率,制备出了Tc超过80K、表面平均粗糙度为4.43nm的薄膜.X-射线衍射谱表明,实验得到的YBa2Cu3O7-x外延薄膜是高度A-轴取向的.  相似文献   

8.
采用光诱导激励化学反应气氛淀积成固态薄膜,是近些年来在国际上发展极为迅速的一种薄膜生长新技术.本文介绍了光-CVD技术的基本原理及特性,以及用该技术淀积各种类型金属薄膜、半导体薄膜、绝缘性薄膜以及ш-v族化合物半导体薄膜.介绍了光-CVD技术在大规模集成电路、硅器件微加工过程中的重要应用,用光-CVD技术在低到~200℃温度下已成功地制备出~100nm厚的薄层外延单晶硅膜.  相似文献   

9.
本文对脉冲激光法(PLD)制备高温超导薄膜过程中的几个技术问题做了简要介绍  相似文献   

10.
汤海鹏  冯嘉尤 《物理》1989,18(2):81-83,109
本文介绍了新的交叉学科──分子电子学的研究范围、目标和进展,介绍了有机材料传统的形膜技术(LB膜技术)及其新进展.重点介绍了新近发展起来的ICB薄膜淀积技术的基本原理和特点,总结了用ICB 淀积技术制备有机薄膜取得的成效,展望了ICB淀积技术在有机分子材料及电子学领域中的发展方向和应用前景.  相似文献   

11.
Eu2CuO4缓冲层和YBCO超导薄膜的制备及研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文用脉冲激光淀积法在LaAlO3(100)基片上外延生长Eu2CuO4薄膜缓冲层和YBCO超导薄膜,用X射线衍射扫描分析表明ECO薄膜为c轴取向.  相似文献   

12.
脉冲激光淀积BaTiO3薄膜的介电与铁电特性   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
用脉冲激光淀积方法在SrTiO3衬底上制备了BaTiO3/YBa2Cu3O7-δ(铁电/超导)双层膜,X射线分析表明BaTiO3薄膜是高度c取向的.对BaTiO3薄膜的介电和铁电性能进行了实验研究.观察到铁电薄膜特有的电滞线和蝶型C-V曲线,薄膜呈现出较好的铁电性,在铁电随机存储等领域有重要的应用前景 关键词:  相似文献   

13.
超短脉冲准分子激光淀积类金刚石薄膜的实验研究   总被引:9,自引:0,他引:9  
利用KrF超短脉冲激光器开展了超短脉冲激光淀积金刚石薄膜实验研究,薄膜生长速率0.02nm/pulse,厚度0.5-0.6μm,显微硬度55GPa,光学透过率优于90%,采用等离子本的时间-空间分辨的发射光谱技术,给出了等离子体的粒子成份以及等离子体的时间-空间的演化图像,以及在不同激光参数条件下等离子体特性的变化,发现超短脉冲激光的等离子体有能量高、持续时间短(高通量)的特点,适合类金刚石薄膜的  相似文献   

14.
我们对高温超导YBa2Cu3O7(YBCO)薄膜样品在超导转变温区微波表面电阻RS随温度变化的初步测量结果.利用介质谐振器方法,分别测量了由镀银高纯铜标准试样和脉冲激光淀积方法制备的高温YBCO超导薄膜为下底板的谐振器品质因素随温度变化的数据.通过对镀银高纯铜标准试样和RS为零的谐振器数据分析,得到谐振器参数随温度变化的曲线.由有高温YBCO超导薄膜组成的谐振器Q值随温度变化数据得到YBCO薄膜样品超导转变温区微波表面电阻的变化.讨论了YBCO超导薄膜的微波表面电阻测量结果.  相似文献   

15.
本文利用脉冲准分子激光在LaAlO3单晶基片上淀积了YBCO和Zr/Ti为94/6的PZT铁电薄膜,并通过高频溅射将Pt蒸镀在PZT薄膜上作为上电极;用X射线衍射表征了该多层膜的晶相结构,测量了PZT的铁电性能和介电特性,讨论了PZT/YBCO薄膜的制备工艺,以及工艺条件对晶相结构和薄膜性能的影响.  相似文献   

16.
新型物理喷束淀积技术制备富勒烯薄膜   总被引:2,自引:1,他引:1  
王德嵘  柯国庆 《光学学报》1996,16(6):83-786
建立了一套新型物理喷束淀积装置,并且成功地进行了薄膜制备工作,所制备的薄膜包括C60,C70,PVK,PVK/C60等薄膜,并测量了物理喷束淀积技术制备得的C60薄膜,PVK/C60混合膜的吸收光谱,荧光光谱,时间分辨率荧光光谱,与C60等薄膜的高真空蒸发膜的相应光谱进行了比较,结果表明,物理喷束淀积可以制备具有很好质量的高抗光损伤薄膜,薄膜的荧光衰减特性与蒸发膜有很大差别。采用该法制备的PVK/  相似文献   

17.
Au/PZT/BIT/p-Si异质结的制备与性能研究   总被引:2,自引:2,他引:0       下载免费PDF全文
采用脉冲激光沉积(PLD)工艺,制备了以Bi4Ti3O12(BIT)为过渡阻挡层的Au/PZT/BIT/p-Si异质结.研究了BIT铁电层对Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)薄膜晶相结构、铁电及介电性能的影响,对Au/PZT/BIT/p-Si异质结的导电机制进行了讨论.氧气氛530℃淀积的PZT为多晶铁电薄膜,与直接淀积在Si基片上相比,加入BIT铁电层后PZT铁 关键词: 铁电薄膜 异质结构 脉冲激光沉积(PLD)  相似文献   

18.
利用等离子体增强化学气相淀积技术,在绝缘氮化硅(SiNx)衬底上制备超薄非晶硅(aSi:H)薄膜,通过超短脉冲激光辐照与准静态常规热退火技术处理,制备出高密度、均匀纳米硅(ncSi)量子点.使用原子力显微镜对处理前后样品的表面形貌进行了研究,发现激光辐照能量密度增加的同时,所形成的ncSi尺寸也随之增加.在合适的能量密度范围内,可以得到面密度大于10.11cm^2、尺寸分布标准偏差小于20%的10 nm ncSi量子点薄膜,表明所制备的ncSi量子点具有较好的均匀性及较高的面密度.同时,对ncS i量子点 关键词: 纳米硅 激光诱导 尺寸分布  相似文献   

19.
用类金刚石碳掩膜制备LaAlO3台阶衬底   总被引:1,自引:1,他引:1  
我们用脉冲激光淀积(PLD)方法在LaAlO3(LAO)衬底上生长了类金刚石碳(DLC)膜,并以此作为掩模,制备了台阶衬底.SEM分析表明,制备的台阶衬底具有陡直的台阶角度(大于700).我们用这样的台阶衬底制成了YBCO台阶结并测量了结的基本特性,结果表明,结有较好的高频特性.  相似文献   

20.
马玉蓉  郭骅  方容川 《光学学报》2000,20(11):565-1569
用YAG脉冲激光轰击真空室内的石墨靶,可以形成包含碳素的激光等离子体,并在硅或石英衬氏上淀积形成某种类型的碳膜。用光学多道分析仪原位测量了激光等离子体的发射光谱,给出反应空间可能存在的反应基团有碳原子、碳离子、碳分子等,用拉曼光谱研究了薄膜的结构,证明所形成的薄膜为类金刚石膜,并得出碳原子和碳离子与薄膜的类金刚石结构有关。制备过程中,氢的参与有利于薄膜中金刚石成分的形成。空间分辨的原位激光等离子体发射光谱表明,在反应空间存在薄膜形成的最佳位置。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号