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讨论了4种用于描述加速寿命试验中失效分布参数和环境条件之间关系的失效物理模型。针对阿伦尼斯模型,探讨了加速寿命试验中的参数估计方法,构建了参数的极大似然估计(MLE)方程组,解得加速寿命试验中失效分布参数的MLE值,进而通过转化,借助于标准正态分布表获得其寿命指标的近似值,并通过一个实例介绍了其具体应用。 相似文献
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研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验.首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息. 相似文献
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温度步进应力加速寿命试验研究 总被引:7,自引:1,他引:7
提出了一种温度步进威力加速寿命试验的方法,并分别基于阿伦尼斯模型、基本GM(1,1)模型、残差修正GM(1,1)模型对温度步进应力条件下特征寿命的点估计进行了讨论,最后用3种不同的方法对给出的实例进行了求解,说明了该方法在工程应用上的可行性和有效性。 相似文献
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片式多层陶瓷电容器(MLCC)是一种储能元件,是光通信设备中使用最广、用量最大的电子元件,广泛地应用于隔直、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换和控制电路等方面。伴随着光通信、终端设备市场的发展,客户对MLCC在不同应用条件下的工作寿命预估的需求越来越强烈。为了解不同厂商相同规格的MLCC在相同应用条件下的可靠性水平差异,基于阿伦纽斯模型模拟实际使用过程中的电应力和高温应力的作用,按照电压加速系数与温度加速系数来设计实验并推算出MLCC的使用寿命。 相似文献
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L波段Si微波脉冲功率晶体管射频加速寿命试验 总被引:2,自引:1,他引:2
Si微波功率器件应用十分广泛,其可靠性直接影响使用设备的性能.以L波段Si微波脉冲功率晶体管为例,提出了一种基于Arrhenius模型的Si微波功率晶体管可靠性寿命评价方案.采用L波段Si微波脉冲功率晶体管在射频脉冲工作条件下(f=1.3 GHz,Pin=40 W,TW=150 μs,D=10%)进行了壳温为200℃的高温加速老化试验,应用Arrhenius模型对试验结果进行了分析和计算.推导得出了L波段Si微波脉冲功率晶体管在室温(25 ℃)工作条件下的平均寿命为6.2×106 h. 相似文献
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基于LSM的红外LED加速寿命试验数据的统计分析 总被引:1,自引:0,他引:1
利用最小二乘法(LSM)完成了红外发光二极管(LED)恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析,并自行开发了可视界面和通用性强的寿命预测软件.数值结果证实了红外LED的寿命服从对数正态分布以及加速寿命方程完全符合逆幂定律,并精确地计算出预测该器件寿命所用到的关键性参数,从而使其在很短的时间(1000h)内估算寿命成为可能. 相似文献
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提出一种新的设计思路,采用数字激光驱动芯片MAX3669来设计一种用于光纤直放站的模拟光发射模块,解决了模拟光发射模块设计中LD驱动和自动光功率控制APC等技术难点,提高了模块的稳定性和集成度,测试结果显示模块的各项指标满足行业规定的标准。 相似文献
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LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了一种关于发光二极管(LED)可靠性评估的加速寿命试验设计方法。通过这个方法,在针对LED的性能退化现象和运行不稳定问题进行加速试验设计时,可以在已知目标可靠度和置信度的前提下,定量地确定满足可靠性要求的试验用样本量、加速应力水平以及试验时间。同时,用于发光二极管加速寿命试验的基本设计思想,可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。 相似文献
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