上海5FW胶片的相对标定

介绍了利用阶梯衰减片对上海5FW胶片进行相对标定的原理、方法和操作步骤。同时对实验所得的数据处理的数学模型进行了详细的阐述,利用完善的数学模型和实验数据得到了5FW 胶片的乳剂特性曲线,最后介绍了变波长标定。     

上海5FW胶片的相对标定

 介绍了利用阶梯衰减片对上海5FW胶片进行相对标定的原理、方法和操作步骤。同时对实验所得的数据处理的数学模型进行了详细的阐述,利用完善的数学模型和实验数据得到了5FW 胶片的乳剂特性曲线,最后介绍了变波长标定。     

用网格衰减膜相对标定SIOFM—5FW软X光底片

点降焦激光等离子体发出的Ｘ射线经晶体色散形成均匀的单色Ｘ射线源，在此基础上，用单层网格作为衰减膜，得到未经衰减和经过衰减的Ｘ射线谱，对无保护膜的ＳＩＯＦ－Ｍ５ＦＷ软Ｘ光底片作了试验性的相对标定，得到了０．９１ｎｍ波长的特性曲线。     

上海软X光胶片响应的相对标定

介绍了在同步辐射源上用透射光栅对“上海”软X光胶片进行相对标定的方法,初步研究了“上海”胶片的特性,得到了在276eV和930eV两能点的胶片黑密度与相对曝光量的关系曲线;应用标定结果,计算了光栅的衍射效率。     

5FW软件X光胶片响应在同步辐射源上的实验标定

介绍了５ＦＷ软Ｘ光胶片在同步辐射源上进行响应标定的一种实验是到了５ＦＷ软Ｘ光胶片对波长为１．４７ｎｍ和４．５９ｎｍ软Ｘ光的相对响应实验曲线，并与用理论模型计算的结果进行了比较。     

超紫外波段的X射线底片相对标定

介绍X射线底片在超紫外波段(19.0～22.0nm)的相对标定方法。在LF-11激光装置上,用激光产生等离子体作为标定源,同时控制显影条件和底片类型与测X光激光时相同,标定出美国Kodak公司生产的SWR型底片特性曲线。解决了底片响应对所测X光激光增益系数的影响。结果表明,在超紫外波段,波长对特性曲线影响可不考虑。     

用平场光栅谱仪现场标定5FW X光底片

采用像散模式的平场光栅谱仪作为分光元件，点状镁激光等离子体Ｘ射线源为原始光源，获得均匀线性单色较Ｘ射线再生源，在此基础上，用多阶梯衰减膜为相对曝光强度标尺，现场标定了上海感光胶片厂生产的５ＦＷ无保护膜Ｘ光底片，给出了５．０ｎｍ～８．０ｎｍ间的底片响应特性。     

用网格衰减膜相对标定SIOFM─5FW软X光底片

点聚焦激光等离子体发出的Ｘ射线经晶体色散形成均匀的单色Ｘ射线源，在此基础上，用单层网格作为衰减膜，得到未经衰减和经过衰减的Ｘ射线谱，对无保护膜ＳＩＯＦＭ５ＦＷ软Ｘ光底片作了试验性的相对标定，得到了０．９１ｎｍ波长的特性曲线     

上海软X光胶片响应的相对标定

介绍了在同步辐射源上用透射光栅对“上海”软Ｘ光胶片进行相对标定的方法，初步研究了“上海”胶片的特性，得到了在２７６ｅＶ和９３０ｅＶ两能点的胶片黑密度与相对曝光量的关系曲线；应用标定结果。     

5FW 软X光胶片响应在同步辐射源上的实验标定

 介绍了5FW 软X-光胶片在同步辐射源上进行响应标定的一种实验方法, 得到了5FW 软X-光胶片对波长为1. 47nm 和4. 59nm 软X 光的相对响应实验曲线, 并与用理论模型计算的结果进行了比较。     

X光底片在位相对标定

本文描述了X光底片在位相对标定技术。其原理是使X射线谱经阶梯形吸收滤片透射后,对X光底片曝光,测量底片的曝光量。文中给出了标定方法和数据处理方法,而且也给出了在X光激光实验中得到的Kodak AA5底片的特性曲线。     

5FW 软X光胶片响应在同步辐射源上的实验标定

介绍了5FW 软X-光胶片在同步辐射源上进行响应标定的一种实验方法, 得到了5FW 软X-光胶片对波长为1. 47nm 和4. 59nm 软X 光的相对响应实验曲线, 并与用理论模型计算的结果进行了比较。     

“三光合一”系统用的立方棱镜二向色分光膜的研制

论述研制高反射（1．6μm）、透射（0.4～0.9μm）立方棱镜二向色分光膜、其技术关键是最大限度地减小光偏振带来的损失。探讨一般生产中可采用的减编振方法。运用G|ABCB|mG膜系结构原理，研制出ρ1.06μm＞98％，τ0.48～0.9μm＞95％，透过峰位＞98％的高效立方二向色分光棱镜。如再增加膜层教，可使τ1.06μm＜0．2％，基本解决了该类立方棱镜的消偏振难题。