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用晶体旋光法测量液晶薄层的预顺角，文献[1]介绍了测出光强透过率曲线T(i)，据“对称”极值点ix由a=1/2Arcsin 2nosinix/(nx no)[(n^20-sin^ix)的平方根]计算出α。 相似文献
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向列液晶表面锚定量表征基板表面取向效果的关键参数，也是研究液晶分子表面取向排列机理的重要信息，描述向列液晶的表面锚定能首先要准确地理解对基板-向列液晶界面的宏观处理和微观处理的差异，其次要明确吉布斯(Gibba)分界面的意义，它同表面锚定能与预倾角的热力学性质是同等重要的。向列液晶的表面锚定能可分为极化表面锚定能和方位表面锚定能两大类．人们已经采用多种实验技术从宏观上测试了向列液晶的表面锚定能，本文以热力学理论为基础．探讨了向列液晶表面锚定能的物理意义，并且以Freederickss转变、高电场技术为例分析了极化表面锚定能的测试原理，以高磁场、Cano劈技术为例分析了方位表面锚定能的测试原理，最后用Cano劈技术给出了我们对外推长度的实难测试结果．并估算了液晶的表面锚定能的量级。 相似文献
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在最近几年用波导技术测量在一薄层液晶中的光学特性已引起越来越多人们的兴趣和关注。采用这方法可以测量在一个铁电液晶盒中，铁电液晶分子指向矢的变化和排列状况。 相似文献
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本文介绍了SHG法测量基板表面液晶分子排列状态的基本原理，实验装置及实验中应注意的问题，讨论了主要的实验结果。 相似文献