干涉分波器上光程差的突变分析

用菲涅耳公式分析干涉分波器上发生的光程突变，比较各种类型干涉分波器产生光程突变的共同点和差异，这一点有利于对薄膜干涉中额外程差的选取。     

“程差法”在电磁波干涉中的应用

讨论了光波的“程差法”，及如何利用“程差法”求解电磁波干涉的有关问题．     

基于激光外差干涉术的薄膜厚度测量方法

针对光学薄膜厚度测量困难问题，提出了一种基于激光外差干涉术的薄膜厚度测量方法。采用经典迈克尔逊干涉光路，利用外差干涉原理将薄膜厚度差转换为光程差，以精密位移平台为扫描机构实现薄膜厚度的逐行扫描测量。测量系统在恒温实验条件下20 min内的漂移不超过8 nm，测量结果平均差小于1 nm，通过与椭圆偏振仪的测量结果比较，测量差值为12.97 nm，表明了该方法的可行性。     

劈尖干涉条件质疑

对有实际意义和实用价值的劈尖干涉条件,常见教材中多是计算平行光束入射在厚度局部均匀薄膜上产生的干涉条件,即相干光束入射在厚度为 e 的均匀薄膜上,在两表面的反射光束间的光程差δ=2e     

薄膜干涉条纹的可见度

在一级近似条件下，导出薄膜干涉条纹的可见度公式，人条纹可见度的角度定量分析干涉定域问题，直观地给出定域中心、定域深度随扩展光源、薄膜的劈尖角和厚度变化的规律．     

光程在光学教学中的作用

从光在单轴晶体中的传播方向引出等光程问题，为求薄膜干涉光程差、棱镜折射率等开拓了一种新思路．     

平板反射光干涉的圆环纹———个简便的课堂演示等倾干涉实验

本文介绍了物理光学薄膜干涉中的等倾干涉实验的新做法：使用激光、硫酸纸屏（或毛玻璃屏）和云母片代替汞灯、薄云母片产生干涉圆环纹，大大简化了实验条件和方法，并对光源和圆环纹的形成作了初步的理论探讨．     

薄膜干涉公式的一种推导方法

给出薄膜干涉公式的另一种推导方法．其特点是：推导过程中物理图像清晰、物理概念明确；光程概念、特别是位相差与光程差之间关系式的给出是比较自然的．     

光学综合孔径望远镜中子望远镜平行性和光程差调整的研究

光干涉技术与天文望远镜技术的结合是提高天文观测分辨率的一种有效方法.采用望远镜阵代替单个大口径望远镜来集光观测,利用最大基线的概念来等效传统光学望远镜的最大口径,很大程度上解决了单个望远镜集光能力不足、角分辨率不高的问题.然而对于光干涉来说,在应用中,只有满足:两束光的相位差δ必须相对稳定、存在相互平行的振动分量、频率相同、两光波在相遇点所产生振动的振幅相差不悬殊和两光波在相遇点的光程差(OPD)应在相干长度之内等这些条件时才能部分相干.光学综合孔径(OAS)望远镜产生干涉条纹的前提条件是子望远镜之间必须两两相干.推导了双光束光干涉的要求,并从双光束干涉的平行性和光程差的要求出发,研究并得出光学综合孔径望远镜子望远镜的平行性和光程差的要求.结合双光束干涉的恒星光干涉仪的光束平行性和光程差的调整方案,研究并得到了光学综合孔径望远镜子望远镜的平行性和光程差调整的光学方案,并讨论了该系统的改进措施.     

关于薄膜上下表面二反射光束产生附加位相差π的条件

本文较详细地讨论了薄膜干涉中光矢量平行和垂直分量产生附加位相差。的条件，并指出光矢量产生附加位相差。的条件是上述二者的综合结果．     

薄膜光学 光学薄膜参数测试

O484．5 2006065262纳米多孔氧化铝薄膜厚度的反射光谱测量方法研究=Re- search of thickness measurement of nano-porous alumina films based on reflection spectra[刊,中]/熊丹(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州(310027)),章海军…//光学仪器．—2006,28(2)．—89-92提出一种基于反射光谱的纳米多孔氧化铝(PA)薄膜厚度测量的方法。当白光照射PA薄膜时,分别从薄膜上、下表面反射的两束光线发生干涉。根据布喇格公式,若已知反射干涉光谱相邻两个极大值对应的波数差和薄膜的     

空气劈等厚条纹不等间距现象简析

空气劈等厚条纹不等间距现象简析清华大学冯志强，朱鹤年一、问题的提出在大面积超扭曲液晶（ＳＴＮ）显示器件的研究和生产过程中，盒厚从几微米到十几微米，常需控制到０．ｌｐｍ的准确度．盒厚测试仪大多采用干涉原理，分程差补偿白光条纹观测法、光源波长扫描法和动量...     

可调光程的差分偏振成像系统及其特性研究

基于Wollaston棱镜角剪切和Savart偏光镜横向剪切组合的可调光程的差分偏振干涉成像光谱系统,不仅可同时获取目标正交偏振分量的干涉图和二维空间图,而且可以通过调整Savart偏光镜的厚度,得到不同光程差下正交偏振分量的干涉图像。该系统的显著特点是正交图像的同时获取和光程的实时改变。描述了可调光程的差分偏振干涉成像光谱系统结构、理论原理,推导出了干涉强度表达式。详细分析了可调光程的Savart偏光镜(MSP)和可调光程的宽视场型Savart偏光镜(MWSP)的光程差及横向剪切量的变化范围。通过两种偏光镜之间的对比可得光程差差别甚微但MWSP剪切量较大,且变化量比MSP高50%。这为以后选择Savart偏光镜类型提供了重要依据。     

掠入射法测量液体折射率实验现象分析

掠入射法是基于全反射定律,采用几何光学原理来测量液体折射率的一种方法.文中对掠入射法测量透明液体折射率实验中出现的干涉条纹进行了定量分析,认为在分光计望远镜中观察到的干涉条纹是光线进入辅助透镜和直角棱镜间被测薄液膜干涉形成的,通过定义干涉条纹疏密度,对于薄膜引起的光程差与干涉明纹(或暗纹)间距两者间的关系进行讨论,其讨论的结果与实验结果一致.     

频率扫描干涉法绝对测距中运动误差的补偿研究

在频率扫描干涉法绝对距离测量过程中,目标的运动会对测量结果引入误差,经推导发现运动误差与激光扫频终点频率以及扪频过程中的光程差位移量有关.前者可直接通过高精度波长计测量,对于后者,提出了外差干涉频分复用技术,设计了一种新的频率扫描距离测量干涉仪,可同时实现目标绝对距离和光程差位移量的测量,通过剔除与扫频终点频率和光程差...     

基于Mathematica的牛顿环干涉与折射率关系的讨论

为针对牛顿环上下表面及干涉膜折射率的大小关系,讨论对应光程差的表达式。利用Mathematica软件模拟光强分布和条纹干涉图样,形象直观地得到折射率的大小关系对应的干涉图样变化。研究结果对于全面正确理解半波损失、额外光程差具有很好的指导意义,同时对于理解不同折射率的干涉图样变化更加形象直观。     

单层增透膜的反射光强问题

推导出单层透明薄膜干涉的反射光强公式,由此公式得到光强为零的条件．     

对牛顿环实验中不等精度测量数据的处理

据笔者了解，目前各高等院校对牛顿环实验的数据，基本上都是在假设干涉条纹为均匀分布条件下，应用逐差法来处理，并在此基础上分析误差”‘、”’．本文对牛顿环实验中不等精度测量的数据用最小二乘法给出了较为合理的处理．一、牛顿环实验是不等精度测量大家知道，在牛顿环实验中，反射光第k级干涉暗纹半径满足关系其中，R为待测透镜的曲率半径，A为人射单色光波长．公式表明了与成正比，有即干涉条纹随级数的增大愈来愈密，愈来愈细．因此，该测量是非线性不等精度测量．二、用还差法处理数据存在的问题在用逐差法处理数据时有公式表明…     

基于FFT的薄膜厚度干涉测量新方法

在研究二维FFT法进行干涉测试基本原理的基础上,提出一种基于二维FFT的薄膜厚度测量新方法。利用搭建的泰曼-格林型干涉系统,用CCD接收、采集卡采集,可获得被测膜层的干涉条纹图像。编制算法处理软件,可实现对干涉条纹图中薄膜边缘识别、区域延拓、滤波、波面统一等的处理,从而获得带有薄膜信息的面形分布,实现对薄膜样片厚度的自动化测量。研究结果表明：所测薄膜厚度的峰谷值为0．2562,均方根值为0．068λ,说明采用基于FFT的薄膜厚度干涉测量新方法测量薄膜厚度具有较高的精度。     

薄膜干涉条纹的定域

在光学教科书甚至光学专著①中,关于薄膜干涉条纹定域在膜上或膜附近的道理,似乎都没说清楚。本文对此问题作一分析。 1.干涉条纹定域问题的提法 条纹定域是双波场干涉②中提出的,多波场干涉中并无此问题。 对于任何一个双皮场干涉装置,如果是点光源,则到处的干涉条纹对比度皆为1,不存在定域问题。 所以,干涉条纹定域问题是在扩展光源的双波场干涉中提出的。此问题的提法可这样叙述:对于给定的扩展光源和双波场干涉装置,求满足下述条件的空间点p之集合,对于这样的P点,光源上任何两个点Sm和Sn所对应的光程差之差皆不大于λ/4;P点之集合构成…