GaP:N LED中深能级对退化特性的影响

本文用深能级瞬态谱(DLTS)研究了GaP:N LED''s老化过程中深能级的变化。老化条件为:在正偏直流I=800mA下室温老化约650小时。发现GaP:N LED在老化前只存在两个能级△Ex和△Ea,而在老化的过程中观察到一个新能级△Eb逐渐形成。结合老化前后测量的LED''s发光光谱、光通、C-V特性及CLI、EBIC和SEI结果,讨论了深能级在GaP:N LED老化过程中对发光效率和退化特性的影响,认为△Eb是限制GaP:N LED发光效率及退化特性的无辐射复合中心。     

用瞬态电容谱法研究GaAs1-xPxLED深能级及其对发光的影响

本文利用瞬态电容潜(DLTS)法测量了不同效率的GaAsxPxLED的深能级浓度、深度、俘获截面.发现效率高LED仅有一个明显的电子深能级△En=0.15eV和一个很弱的△En=0.33eV电子深能级,它们的俘获截面都小于1.5×10-14cm2,总的能级浓度小,约为1.4×1015cm-3.效率差的两只LED一般除有两个以上的电子能级还有两个空穴能级,它们的俘获截面甚至大到2.2×10-12和1.3×10-13cm2;从DLTS图还可以发现谱峰高而宽,说明杂质浓度大,总浓度分别为6.3×1015cm-3和3.4×1015cm-3.讨论了深能级对发光效率的影响.     

Ga1-xAlxAs LED深能级对其发光效率的影响

本文用DLTS法测量了发光效率不同的三只Ga1-xAlxAs LED的深能级浓度.深度和俘获截面,并计算出电子和空穴的寿命,同时测量了它们的发光光谱和光通.从发光效率正比于载流子寿命的观点出发,分析了实验结果.表明1*与3*LED发光效率比R1大致等于它们的寿命比Rτ,但2*与3*却差别很大,文中从光谱角度作了一些分析,差值有所改进.从载流子寿命分析,找出了△Em=0.28、0.33与0.32eV三个能级是分别影响三个LED效率的主要能级。指出了8800Å的红外峰是使发光效率降低的另一个原因,它可能起因于外延层与村底界面处GaAs的带间复合和通过杂质的复合,要得到高效的LED必须制备出好的Ga1-xAlxAs与GaAs界面,应尽可能使红外峰减少.实验表明,效率高的LED仅有一个深能级(0.28eV),在室温下视察不到明显的红外峰。     

有源层掺杂剂对Ga1-xAlxAs/GaAs双异质结发光管特性的影响

本文研究了由液相外延技术生长的GaAIAs/GaAs双异质结材料制成的发光管,有源层掺杂剂对器件特性的影响结果表明,器件结构和器件制作工艺相同的GaAIAs/GaAs发光管,有源层掺Si可获得较大的光输出功率,而频响特性<15MHz,波长在8700Å以上;对有源层掺Ge器件,光输出功率低于掺Si器件,而频响特性则>15MHz,波长可控制在8200Å~8500Å.深能级测量表明二者有不同的深能级位置,对掺Si(氧沾污)器件,Ec-ET≈0.29eV,而掺Ge器件ET-Ev≈0.42eV.两种掺杂剂对有源层暗缺陷的影响尚无明显区别.     

光电容法研究电子辐照GaP中的深能级

本文提出含多个深能级响应的光电容瞬态分析方法:在不考虑各能级之间电子、空穴跃迁的条件下,可出“多指数过程分离法”,将总的瞬态过程分离为各能级上指数型瞬态过程之和.运用这一方法,对lMeV(4×1015cm-2电子辐照GaP LED进行了定态和两种注入条件的瞬态光电容测量,观察到H1、H2、H3三个空穴能级(0.51、0.75、1.15eV)和E1、E2、E3、E4四个电予能级(0.68、0.84、0.89、1.01eV),并得到各能级的光离化截面谱.外量子效率及发射谱测量结果表明;电子辐照引入的深能级(H1-H3,E1-E4)表现出无辐射复合中心的性质.     

锗的正电子表面态的测量研究

通过测量低能正电子入射到锗(Ge)靶的电子偶素产额随靶温度的变化,测定了在真空度为1.33×10^－4Pa时锗的正电子表面态的束缚能E_b=2.2eV;Ps形成的激活能E_a=0.2±0.01eV.讨论了高真空与超高真空条件下E_b,E_a的变化.     

Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体合金组分的电解液电场调制反射(EER)光谱测量

观察了一系列Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体合金GaAs1-xPx和AlxGa1-xAs样品的电解液电场调制反射光谱(EER)与合金组分参数X的关系.在临界点能量及其相关的自旋“轨道分裂Eg0,△0,Eg1,△1的计算中,采用了”三点调整法”.按照文献给出的公式,从Eg0的值求得所有GaAs1-xPx样品的组分.由此,通过最佳拟合法碍到[Eg0+△0](x)、Eg1(x)、(Eg1+△1)(x)的经验公式均为抛物线型的.在GaP(X=1)的情形中,明确地测得△1的值约为0.19eV,这与△1:△0比值的“2/3规则”有显著的偏离.本文还说明了,对半导体合金组分的光电压法测定中常用的线性型Eg0(x)假设,有必要进行二次项修正.     

CdTe太阳电池中起因于Cu的深能级

在CdTe太阳电池中,易引入并形成Cu深能级中心. 本文采用深能级瞬态谱测试法研究了ZnTe背接触和石墨背接触CdTe太阳电池的部分深能级中心. 研究中运用密度泛函相关理论,分析闪锌矿结构CdTe,Cd空位体系和掺Cu体系的电子态密度,计算得出T_d场和C_3v场下Cu²⁺ d轨道的分裂情况. 计算结果表明,CdTe太阳电池中的E_v+0206 eV和E_v+0122 eV两个深中心来源于Cu替代Cd原子. 计算结果还表明,掺入Cu可降低CdTe体系能量.     

高山5500米超高能宇宙线强子特性的研究

利用乳胶室对高山(5500米)宇宙线强子特性进行了研究. 实验给出E_h=2~20TeV能区中强子簇射的微分能量谱指数β=(2.98±0.49), 簇射的垂直流强J(E_h≥3TeV)=(400±50)m)²﹒year﹒sr, 强子在大气中的衰减长度Λ=(104±16)g/cm², 强子和铅的平均核作用长度λ_h=(15.3±3.0)cm, 介子和铅的平均核作用长度λ_m(18.6±4.7)cm, 以及5500米高度的介子流强、核子流强的比例ε=(1.0±0.4).     

双异质结AlxGa1-xAs/GaAs发光管中与氧有关能级的测量

用DLTS和单次脉冲瞬态电容技术研究了液相外延生长的双异质结AlxGa1-xAs/GaAs发光管,掺Si的n-Al0.05Ga0.95As有源层中的深能级。着重分析了一个与氧有关的电子陷阱,其发射激活能为EC-ED=0.29eV。我们发现该电子陷阱随正向注入脉冲宽度tp的增加DLTS峰向低温移动,即在确定的温度下发射率随tp的增加而增加。用DLTS首次测得该能级的俘获瞬态谱,发现俘获峰随反向撤空脉冲宽度tR的增加向低温端移动,即在确定的温度下俘获率随tR的增加而增加,并且俘获激活能从△Eσ=0.28eV变化到0.26eV,用位形坐标图讨论了引起变化的原因。     

深能级对AlGaInP/GaAs异质结双极晶体管性能的影响

用深能级瞬态光谱和光致发光(PL)方法研究了AlGaInP/GaAs异质结双极晶体管(HBT)发射区AlGaInP中的深能级.得到了两个深能级,分别为E_c-E_t1＝0.42eV和E_c-E_t2＝0.59eV,其复合截面为σ_n1＝6.27×10^-17cm²和σ_n2＝6.49×10^-20cm². 关键词：     

High-Efficiency ZnCdSe/ZnSSe/ZnMgSSe Green Light-Emitting Diodes

Green light-emitting diodes (LEDs) were fabricated employing a ZnCdSe/ZnSSe triple quantum-well (TQW) active region surrounded by ZnMgSSe cladding layers grown on an n-type (100) GaAs substrate by molecular beam epitaxy (MBE). A 3.5 mW pure green emission was observed for the surface-emitting LED device at a peak wavelength of 513.3 nm (2.415 eV) with a spectral half-width of 11.7 nm (55 meV) under a 20 mA (4.6 V) direct current at room temperature (25°C). These correspond to an external quantum efficiency of 7.2%, a power conversion efficiency of 3.8%, a luminous current efficiency of 66 lm/A, and a luminous efficiency of 14 lm/W.     

Optical,photoelectric and electric properties of single-crystalline Sb2Se3

Measurements of absorption coefficient in the region of the absorption edge, of spectral distribution of photoconductivity and dependence of electrical conductivity upon temperature on Sb₂Se₃ single crystals are given. The absorption of light was proved to correspond to indirect forbidden transitions. The value of optical gapE _g ^opt =(1·11±0·02) eV forE a andE c was determined. From photoconductivity and conductivity measurements the values of the gaps areE _g ^opt =1·11 eV andE _g ^el =1·04 eV. The anisotropy of the electrical conductivity parallel and perpendicular to the cleavage plane is 2·2.     

A study of deformation-produced deep levels inn-GaAs using deep level transient capacitance spectroscopy

Deformation-produced deep levels, both of electron and hole traps, have been studied using deep level transient capacitance spectroscopy (DLTS) for an undopedn-type GaAs (HB grown) compressed at 440°C. Concentrations of two grown-in electron trap levels (E _c −0.65eV andE _c −0.74eV) and one grown-in hole trap level (E _v +∼0.4eV) increase with plastic deformation, while that of a grown-in electron trap level (E _c −∼0.3eV) decreases in an early stage of deformation. While no new peak appeared in the electron trap DLTS spectrum after plastic deformation, in the hole trap DLTS spectrum a broad spectrum, seemingly composed of many peaks, newly appeared in a middle temperature range, which may be attributed to electronic energy levels of dislocations with various characters.