二元合金成份的无标样X光能谱定量分析

一般用电子探针对合金成份进行定量分析时都用标样进行对比。本文提出了一个不用标样的二元合金成份的定量分析方法。利用扫描电子显微镜-X光能谱分析装置同时测定二元合金(Cu-Ga,GaAs)中二元素的K_a光子数比值后,由简化的入射电子能量损失公式和X光激发截面公式并考虑了二次荧光效应后,可计算出二元合金的成份。当入射电子的过电压保持在2—3时,得到和实际成份一致的结果。利用上述简化模型对文献中不同纯元素特征X光的“仪器灵敏度”进行了计算和讨论。关键词：     

二元化合物成分的X射线能谱无标样定量分析

常规的X射线能谱无标样定量分析采用Russ法。最近吴自勤等人又提出X射线能谱无标样定量分析的直接法。本文仍采用直接法,但吸收了Russ法中的优点。用常规的ZAF修正中使用的物理公式,推出X射线能谱另一种无标样定量分析的方法,它更便于计算。对NaCl,NaI,KCl,AgI,ZnS和GaAs样品的实验分析,证明用本文方法的分析结果优于用Russ法的分析结果。特别是对含有低原子序数元素的样品更为明显。关键词：     

多元合金的无标样X光能谱定量成分分析

本文将文献[1]和[2]的二元合金直接无标样法加以推广,应用于不含超轻元素的多元合金(包括七元、八元钢样,其中有两至三种元素的含量在0.25—1.0％之间)。与Russ等的间接无标样法程序相比较,总的说来准确度有所提高,分析速度也更快,在速度约为每秒13万次的计算机上(内存约需12K)计算八元合金的成分,仅需约10sec的时间。将多元合金的计算方法用到NaCl等二元合金,结果较前有所改善。关键词：     

X荧光能谱法测定合金结构钢标样中五个元素

本文提出Ｘ荧光能谱法测定合金结构钢中５个元素含量的方法。本方法采用能说仪中定量分析软件，选择适当工作条件，测定合金结构钢中５个元素。其准确度精确度均能满足分析要求。     

无标样X射线定量分析联立方程组稳定性的统计判据

本文详细分析大量的无标样定量方程组的各种判别因子与解误差间的关系,找出定量判断方程组稳定性的因子g。可根据不同样品组合构成的方程组的g因子大小来选择常态方程,抛弃病态方程,从而提高结果的精度和可靠性,改善无标样X射线定量方法的实用性。关键词：     

多元合金的无标样能量色散X射线荧光分析

本文在能量色散X射线荧光分析系统的效率刻度及散射修正的基础上,用基本参数法对多元合金进行无标样X射线荧光分沂。分析结果表明,对于主成分元素,分析误差约为2%,对于次成分元素,误差低于10%。     

无标样X射线定量分析最小二乘法方程的稳定解

无标样法是X射线定量分析的重要方法。无标样定量联立方程中经常出现的病态方程使定量结果出现很大的误差。最小二乘法方程组在某些组合情况下也会出现严重的病态方程。本文提出可以获得可靠的稳定解的无标样X射线定量最小二乘法。指出不同样品数及组合条件下获得稳定解的计算方法:直接最小二乘法、算术平均法、稳定性因子判别法。关键词：     

轻元素定量分析的新修正方法

本文介绍了一种能用于轻元素定量分析的新修正方法,它的各项修正因子用Monte Carlo计算方法确定。分析了碳和氧两种元素,计算得到的浓度结果比其它方法好。并对ZAF方法中的简化Philibert吸收修正公式和Dancumb-Reed原子序数修正公式进行了详细讨论,指出了它们的局限性。关键词：     

X射线荧光光谱法非破坏测定二元合金薄膜的成分

一、引 言 用X射线荧光光谱法测定二元合金薄膜的组分时,通常是先制备一系列不同成分的薄膜,经化学分析标定后作为标样,以此来确定标准曲线,然后对待测薄膜进行测定、比较[1,2].近年来某些作者推荐利用单组分薄膜标样的方法[3,4].这些方法不足之处在于制备薄膜标样要增加较大的工作量.用质子背散射方法来测定薄膜组分虽具有它独特的优点,但是在测定膜主成分时其准确度常常不够满意,此外,它还要与加速器联用,因此应用上也受到限制. 本文来用 L.Bergel及 F.J.Cadieu[5]推荐的利用滤纸片标样的方法,测定了非晶态钆钴合金薄膜的原子组分比. …     

高谱分辨X光能谱诊断技术

采用国内首次研制出的2 000线/mm的自支撑透射光栅配上背照射软X光CCD(charge coupled device)组成了高谱分辨透射光栅谱仪。通过实验标定和理论模型计算相结合得到了高线对透射光栅的绝对衍射效率;同时建立了透射光栅谱仪测谱解谱方法,编制了相应的解谱程序。在“神光”激光装置上利用该谱仪通过激光打靶实验获得了金腔靶注入口发射的X光能谱定量实验结果,实验结果表明,该谱仪测谱范围在高能区达到6 000eV,谱分辨达到0.1nm,能够清晰地分辨金等离子体M带三峰分布X光谱结构。