共查询到20条相似文献,搜索用时 0 毫秒
1.
在教材中,常可见到“把折射率为n的薄膜放在迈克尔逊干涉仪的一臂上,由此干涉条纹产生移动,测得共移动N条,若光源的波长为λ,求薄膜的厚度”的习题。实际上由于薄膜的引入,导致干涉条纹的移动是个突变过程,无法测出干涉条纹移动的条数N。但这并非说不能利用迈克尔逊干涉仪测量薄膜的厚度,利用迈克尔逊干涉仪不仅可以测量透明介质膜的厚度,而且还可测量金属膜的厚度,下面介绍利用迈克尔逊干涉仪测量非透明金属膜厚度的原理及方 相似文献
2.
3.
4.
5.
6.
介绍了在迈克尔逊干涉仪上如何进行偏振光的干涉实验,通过这一实验可以对偏振光的产生和干涉有清楚的认识。 相似文献
7.
8.
迈克尔逊干涉仪测透明介质厚度及折射率 总被引:3,自引:0,他引:3
提出了使用用迈克尔逊干涉仪,改变光源入射方式及观测方式以获得稳定、清晰等厚干涉现象的方法.探究了在光路中插入的被测透明介质如何对等厚干涉条纹产生影响,并导出了被测介质厚度、折射率及旋转角度与等厚干涉条纹移动量之间的关系.实现对透明介质厚度、折射率进行简练、快速的同时测量. 相似文献
9.
利用迈克尔逊干涉仪,搭建了一个观察双光束等厚干涉条纹的实验装置,并利用该装置测量了绿色激光器与低压汞灯绿色光谱线的波长差,以及红色激光器与黄色稀土节能灯红色光谱线的波长差,实验值与光栅光谱仪的测量结果一致。该方法可推广为一种测量未知光谱线波长值的方法。 相似文献
10.
提出了迈克尔逊干涉仪测波长的一种便捷且精确的测量方法。利用自制的光电计数及电机控制装置,在短时间内无须任何数据处理便可由计数器直接读取待测光源波长值。该方法不仅实现了条纹的全自动计数,又简化了干涉仪繁复的读数环节,更消除了仪器的零点误差。 相似文献
11.
12.
一、原理1.测量固体折射率(n_x):待测固体选用的是各向同性介质——盖玻片,盖玻片两个表面的平整程度以及二者的平行度,都要经过认真仔细地挑选,以它产生的白光干涉条纹比较规则为宜。然后将其固定在一个小框架上,玻片的高度不需过高,最好只占据我们可观察到的整个视场的下半部,其厚度t是经过多次测量后的平均值,所用公式如下: 设未插入待测物前,白光零级干涉条纹出现在视场中央时,“可动镜”M_2的位置在d_0。 相似文献
13.
14.
15.
用迈克尔逊干涉仪测量钠黄光相干长度的实验方法的探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
迈克尔逊干涉仪是一种精密干涉仪,其测量结果可精确到与波长相比拟。本从实验的原理和方法等方面对用此仪器精确测定钠黄双线的波长差及钠黄光的相干长度进行了探讨,并用实验数据验证了理论值,达到了预期的效果。 相似文献
16.
测等离子体电子密度用的远红外HCN激光干涉仪 总被引:1,自引:1,他引:0
等离子体电子密度是等离子体的最重要参数之一。Tokamak型磁约束随着Tokamak型装置等离子体电子密度的提高,给微波干涉测量增加了困难,因为电磁波只能穿过电子密度小于截止密度n_0的等离子体。即 相似文献
17.
18.
19.