用于激光等离子体实验的X光底片的相对标定

用低能放射性γ源和激光等离子体本身作为标定X射线源,在(1—10)(1=10~(-10)m)的波长范围里,获得了几种X光底片的相对乳剂特性曲线。讨论了用激光等离子体本身作为标定辐射源和用两阶衰减滤片获得“现场标定”的优点。另外,也初步探索了显影条件对乳剂特性的影响。     

校正光谱分析谱线干扰的简便方法

本文提出了一种在摄谱法发射光谱分析谱线受干扰时进行校正的简便方法。无需制作乳剂特性曲线,通过控制线与分析线的黑度换算强度值,再由控制线强度计算干扰线的强度,然后从分析线中扣除干扰线强度的复杂校正过程。     

大学物理实验中用坐标纸作图的规范性

大学物理实验中,作图法是数据处理中比较重要的一种方法,用坐标纸作图是数据处理训练的必要途径,但目前不少学生手工作图并不规范。总结出作图法的6条基本规则,并通过实验数据作图的实例,分析学生较为常见的手工作图不规范表现,并提出相应的教学建议。     

明胶与AgBr晶体颗粒相互作用的研究

为了探讨明胶在照相乳剂中的行为 ,用红外光谱法研究了明胶与AgBr晶粒间的相互作用 ,证实了明胶 AgX照相乳剂的晶粒吸附有明胶 .红外光谱分析结果表明 ,明胶与AgBr晶粒间的作用除了明胶与Ag+ 的化学亲和力外 ,明胶与Br- 之间还存在静电作用 .而且 ,明胶的疏水侧链与AgBr晶粒疏水区之间还存在另一种作用力 ,该作用力可能是范德华力 ,它对乳剂红外光谱的影响显示在 10 0 0～ 12 0 0cm- 1.由于用鱼胶和骨胶制作的乳剂在AgBr的晶体形态和乳剂的感光性能方面都显示出明显的差异 ,因此 ,还比较了这两种明胶与AgBr的作用特性     

工作曲线法和偏最小二乘回归分析在XRF定量分析软玉样品中的应用

由于块状固体标准玉石样品的缺乏, 造成了便携式X射线荧光分析技术(pXRF)利用工作曲线法对玉石文物样品进行无损定量分析的困难。试图寻找一种pXRF可采用, 但不需要块状固体玉石标准样品的定量分析方法。选取24件软玉样品, 其中17件为校准样品, 7件为测试样品。所有软玉样品利用质子激发X射线荧光分析技术(PIXE)获得定量分析结果。根据校准软玉样品的PIXE定量分析结果建立兴趣元素的工作曲线, 利用工作曲线对测试软玉样品进行定量分析;然后, 利用pXRF对所有软玉样品进行定性分析, 获得其定性分析图谱, 利用校准软玉样品的定性分析图谱和PIXE定量分析结果, 采用最小偏二乘法对测试软玉样品兴趣元素含量进行分析。最后, 将工作曲线法、PLS方法和PIXE的定量分析结果进行了相互对比。通过误差分析, 评估了工作曲线法和PLS方法定量分析软玉样品的精确度。结果表明, PLS方法可以代替工作曲线法对玉石类样品进行定量分析。     

工作曲线法和偏最小二乘回归分析在XRF定量分析软玉样品中的应用

由于块状固体标准玉石样品的缺乏,造成了便携式X射线荧光分析技术(pXRF)利用工作曲线法对玉石文物样品进行无损定量分析的困难。试图寻找一种pXRF可采用,但不需要块状固体玉石标准样品的定量分析方法。选取24件软玉样品,其中17件为校准样品,7件为测试样品。所有软玉样品利用质子激发X射线荧光分析技术(PIXE)获得定量分析结果。根据校准软玉样品的PIXE定量分析结果建立兴趣元素的工作曲线,利用工作曲线对测试软玉样品进行定量分析;然后,利用pXRF对所有软玉样品进行定性分析,获得其定性分析图谱,利用校准软玉样品的定性分析图谱和PIXE定量分析结果,采用最小偏二乘法对测试软玉样品兴趣元素含量进行分析。最后,将工作曲线法、PLS方法和PIXE的定量分析结果进行了相互对比。通过误差分析,评估了工作曲线法和PLS方法定量分析软玉样品的精确度。结果表明,PLS方法可以代替工作曲线法对玉石类样品进行定量分析。     

室温脉冲QCL光谱特性实验研究

本文报道导了对长脉冲工作模式下中心波长为1274cm^-1量子级联激光器光谱特性的研究结果．通过采用高带宽的中红外HgCdTe探测器及高速数据采集装置得以记录时域下的光谱,结合高分辨率的标准具,可以获得有关光谱在频域下的信息．通过对测量的光谱数据的分析,获得了光谱的外形、调谐特性、分辨率随时间变化的特性与规律,以及电压、温度对光谱的影响方式,得到了提高光谱分辨率、优化光谱质量的方法,从而可以提高下一步光谱定量分析的准确性．     

一种基于光子晶体的远红外与10.6μm激光兼容伪装材料的设计与制备

现代探测系统由单一工作模式到复合工作模式的转变,对伪装材料的光谱特性提出了某些特殊要求.作为一种新型人工结构功能材料,光子晶体基于光子禁带的高反射特性可以实现热红外伪装.设计了一种基于一维掺杂光子晶体的远红外与激光兼容伪装材料,利用薄膜光学理论的特征矩阵法计算了透射光谱.制备的样品经测试,与理论曲线相吻合.结果表明,利...     

光控-晶控相结合的膜厚监控法对滤光片膜厚的研究

针对光电极值法和石英晶振法各自的弊端,结合两种方法提出了光控-晶控膜厚监控法.在相同工艺条件下,分别使用这三种方法监控905nm窄带滤光片(规整膜系)和830nm截止滤光片(非规整膜系)的膜厚,对制备的滤光片的透射率光谱曲线进行比较.结果表明,光控-晶控膜厚监控法除了各项指标都符合要求外,在曲线通带处获得的平均透过率值比光电极值法和石英晶振法获得的平均透过率值提高了3%~6%,且与理论光谱基本吻合,光谱特性最好.该方法不仅对规整和非规整膜系都能进行监控,且能有效降低膜厚误差,提高光谱特性.     

PDA作为ICP—AES元素定量分析检测器的性能评价

引言PDA(photodiode Array),即光敏二极管陈列是近年来发展起来的一种新型光探测器。国外已经有不少光谱工作者将PDA用于ICP的特性的研究,但很少见有用PDA作为ICP-AES元素定量分析的检测器,至今还很少有用PDA作为探测器的ICP-AES商品仪器。我们用PDA作为ICP-AES的检测器,测定了几个元素的检测限和工作曲线的线性范围。初步评价了这样一个用PDA作为检测器ICP-AES系统的性能。     

模拟电子计算机实验

本文介绍用模拟电子计算机方法研究物理现象。所用仪器及元件简单,现象直观生动.学生较感兴趣.最后。给出三个实例的实验曲线,并与计算值作了初步比较。 1947年已经实现了用电子管做成的通用模拟电子计算机[1].由于这种计算机的结构简单.运算的实时性,以及人机关系密切、易于灵活排题.因而在精度要求不高的地方得到广泛的应用。 50年代起,在解数学方程、工业控制、模拟训练、模拟设计等方面得到发展.60年代,国外已将模拟电子计算机实验安排在近代物理实验中[2].从当时沿用至今的装置,是电子管组装的教学用模拟电子计算机.最近我们利用集成运…     

光谱导数Kalman滤波同时测定苯酚-邻氯苯酚和2,4二氯苯酚

文中提出了一个新的、稳定的光谱导数Kalman滤波紫外分光光度法同时定量分析方法,并且成功地将其应用于极难分辨的苯酚-邻氯苯酚和2,4二氯苯酚三组分混合体系的同时测量.选择分析光谱导数的原因是其不仅包含着吸光度,还包括在指定波长位置变化趋向等更多的信息量,这样更利于在吸收峰重叠的位置捕捉有较大差异的信号.利用Kalman滤波可以解决由光谱导数而引起的噪声放大问题,也可以过滤源于实验的噪声以及来自传递模型误差.在260～290 nm区间测量了30组浓度各自在1～10 mg·L-1范围的苯酚-邻氯苯酚和2,4二氯苯酚标准混合溶液紫外吸收光谱图.利用分段延伸高次多项式回归模拟求导准确获得吸光度导数,并且利用偏最小二乘法将其制作成Kalman滤波标准工作系数矩阵.通过随机线性离散系统的Kalman滤波器最优平滑计算,对混合体系中的各组分进行定量分析.回收实验显示出,光谱导数Kalman滤波分析法应用于本实验的极难分辨的三组分体系,得到了非常高的回收率,并且在整个实验范围内光谱导数Kalman滤波分析法具有非常好的稳定性.     

鲜红斑痣光谱测定系统与临床实验

对进行激光治疗的鲜红斑痣患者的皮肤进行光谱定量分析,有利于正确分析患者病变皮肤的光学特性、调整手术设备的工作参数和提高激光治疗的效果。基于对鲜红斑痣形成机理分析及激光临床治疗过程观察,文章建立了一套自动数据采集和分析的光谱系统,可以用于测定鲜红斑痣皮肤微区在380～780 nm范围内的光谱,光谱分辨率为1 nm。实验可测定不同年龄、不同色素痣的光谱曲线,分析并讨论了影响系统工作的原因和解决方法。     

一种可用于单色光谱检测的CMOS层叠传感器

一种可以对单色光谱进行检测的并基于标准CMOS工艺的新型器件结构进行了制作和测试.它的基本原理是:利用器件本身两层结构对偏蓝色的短波长光和偏红色的长波长光的不同响应特性,得到器件响应值对于波长的单调递增曲线并可由此得到输入光谱的单色波长信息.文章中介绍了器件的基本工作原理,设计制作了实验性器件并对其特性曲线进行了实际的标定,最终给出了可用于单色光谱测量的器件响应和波长的对应曲线.     

超二代微光像增强器多碱光电阴极膜厚测量研究

介绍了多碱光电阴极的光学性能和光谱反射率特性,测量了多碱阴极的光谱反射率曲线.该曲线与普通光学膜层光谱反射率曲线相比,形状较不规则,原因是多碱阴极膜层存在光吸收.光谱反射率曲线上的干涉峰是入射光在玻璃与阴极膜层界面反射和在阴极膜层与真空的界面反射的两束光发生干涉的结果.根据干涉的原理,如果阴极膜层所反射的两束光的光程差为二分之一波长的偶倍数时,光谱反射将出现干涉加强峰;如果阴极膜层所反射的两束光的光程差为二分之一波长的奇倍数时,光谱反射将出现干涉减弱峰.根据超二代像增强器光谱反射干涉峰对应的波长,可以计算出其阴极膜层的厚度约为191 nm,比二代像增强器阴极膜层的厚度增加了38％.多碱阴极膜层厚度是影响多碱阴极灵敏度的一个关键参量,仅仅靠人眼观察阴极膜层颜色的方法不准确.实践证明,利用光谱反射的方法来计算阴极膜层厚度的方法简单有效.如果在多碱阴极的制作过程中进行光谱反射率的监控,那么将可以精确控制阴极膜层的厚度,对多碱阴极的研究将会更加深入,多碱阴极的灵敏度也将会得到进一步的提升.     

利用谱线宽度测人发中的微量元素

通过实验证明了可以利用谱线宽度做永久工作曲线用于光谱定量分析。给出了用于测量人发中微量元素Ｃｕ，Ｚｎ，Ｆｅ和Ｃａ的永久工作曲线，利用这些工作曲线对实际样品进行了测定，所得结果与用ＩＣＰ－ＡＥＳ测得的结果相吻合。     

激光诱导击穿光谱结合自由定标法同时定量分析玻璃主要元素

建立激光诱导击穿光谱结合自由定标法快速定量分析玻璃中主要元素Si和Ba的方法.采用由调Q脉冲Nd:YAG激光器、中阶梯光栅光谱仪和ICCD检测器等组成的激光诱导击穿光谱系统采集4种标准玻璃样品的激光诱导击穿光谱.提取光谱信息,结合自由定标法建立样品中Si和Ba的玻尔兹曼曲线,计算获得4种玻璃样品中Si和Ba的含量.Si含量分析相对误差在4.96%~10.12%之间,标准差在0.38%~1.29%之间,Ba含量分析相对误差在4.07%~9.62%之间,标准差在0.54%~1.70%之间.T检验表明,测量值与实际值无显著差异.     

激活台内透射式GaAs光电阴极的光谱响应特性研究

利用在线光谱响应技术,对透射式GaAs光电阴极在高温激活和低温激活后的光谱响应特性进行了测试,计算并比较了高温激活和低温激活后阴极的积分灵敏度和光谱响应特性参数.结果发现,与高温激活相比,低温激活后GaAs光电阴极的积分灵敏度提高了13％,低温激活后阴极的截止波长和峰值波长均向长波有微小偏移.将已获得的测试曲线与铟封后的三代像增强器的光谱响应曲线进行了比较,结果发现铟封前后的光谱响应曲线存在明显差异.     

线性化求解非线性记录光栅耦合波方程

采用折射率调制特性为上凸型和下凹型的调制曲线,提出了线性化求解非线性记录全息图耦合波方程的方法。以反射相位型全息光栅为例,用耦合波理论分析计算了记录介质折射率调制为上凸型和下凹型调制曲线的体全息图的衍射光谱特性。计算结果表明,折射率调制类型对光栅衍射光谱的带宽有较大影响,对次峰峰值也有影响,而对主峰峰值和峰值位置影响不大。这些结果可以解释实验测得的全息光栅衍射光谱带宽较宽和光栅衍射光谱的多样性。     

倍频反射膜的研究

本文导出了获得倍频高反射膜的较简单的必要条件,给出了倍频反射膜系的普遍形式和相应的控制波长公式.作为例子,计算出2、3、4、5倍频的光谱特性曲线;并对2倍频膜系进行了实验研究,给出了测量的光谱透射曲线.