原子吸收中背景校正误差来源的研究

要使背景得到完全的校正,必须使原子吸收测量和背景测量在同一波长进行,必须使这两个测量具有相同的测量时间和空间。由于测量时间差引起的误差可以表述为: ΔA_B=M_(αx)[dA_B(t)/dt]Δt (1) 其中A_B(t)是原子化周期背景吸收信号对时间的函Δ数,t是采样时间差。由于光束不重合也会造成测量误差,以氘灯背景校正器为例:如果σ和θ′分别为HCL和D_2灯的像斑面积,K_B′和K_B分別为σ和σ′面积上的背景吸收系数,K_B=K_B′(1+α),背景校正的误差可以表达为: 由于背景吸收,光源辐射衰减,背景校正系统的光子噪声可表达为等式(3)可以看出背景校正的误差随背景吸收系数K_B指数上升。在光子噪声为背景校正系统限定影响时,背景校正能力可以写成为等式(4)表明当K_B=0.86A时,背景校正能力有一个极大值F_(max)=0.245I_0~(1/2)。这些讨论与我们的实验结果能很好地吻合。     

原子吸收自吸背景校正中杂散光的研究Ⅰ——杂散光的性质及其对背景校正性能的影响

在自吸背景校正中不被样品基体吸收的杂散光有不同于氘灯和塞曼背景校正的特殊性。用截止溶液法检验了杂散光的存在,并用重铬酸钾溶液分子吸收模拟背景吸收的方法研究了杂散光的影响。源于空心阴极灯光源的杂散光在样品束(常规脉冲低电流)和参比束(窄脉冲高电流)中的比率有很大的差异,前者比后者更高。这种差异是自吸背景校正误差的重要来源,在高背景校正时引起的误差不容忽视。文章还对杂散光比率与灯电流、光能量和光谱带宽等方面的关系进行了研究。结果表明,杂散光比率与灯电流大小有很大关系,灯电流大,杂散光比率小,但杂散光比率随灯电流的变化与被检测的分析线能量无直接关系;杂散光比率随着光谱带宽的减小而降低,其性质类同于连续光谱。     

Zeeman石墨炉原子吸收方法分析超痕量元素的可能性和局限性

区别固定背景和结构背景实为困难。下列几项在背景校正吋必须予以考虑。1.强背景的校正2.结构背景的校正3.背景校正的准确度必须很好4.有可能校正固定背景信号5.不因使用背景校正而使分析灵敏度下降使用Zeeman背景校正分析实际样品得到的检出限与多次由校准溶液对实际样品进行分析而不用背景校正吋所得到的检出限不应该有明显的差别。     

背景校正速度对原子吸收精度测量的影响

本文阐明了一台原子吸收光谱仪的信号同步对仪器性能有显著的影响，灯的快速脉冲导致更精确的背景校正和更精确的发射校正，双光束的不平衡调使用噪音更低，这些特点的最显著之处是能够校正背景吸收中的快速变化。而该变化是石墨原子吸收中背景校正误差最基本的来源。     

一种变形标准加入法及其在等离子体发射光谱分析中的应用

在小体积(< 50 μL)液体取样时,容易产生较大的取样误差,为了降低分析结果的不确定度,常常用质量定量法代替体积定量法。传统标准加入法以样品体积定量,不能用于以样品质量定量的场合。为此,我们提出了一种变形标准加入法,以便用于以样品质量定量的场合。以ICP-OES法测定复杂溶液体系中低含量及微量元素Hg,Mo和Rh为例,对变形标准加入法进行了介绍。标准加入法的目的是为了校正溶液基体效应,而溶液基体效应包括两种不同类型的干扰：“恒定干扰”和“比例干扰”。变形标准加入法只能校正溶液基体效应中的“比例干扰”,“比例干扰”的大小可以用一个定量指标k表示：当k=1时,表示不存在“比例干扰”的影响;k偏离1越远,则“比例干扰”的影响越大。至于“恒定干扰”的影响,则可以利用仪器自身的背景校正方法予以降低或消除。变形标准加入法测定结果不确定度主要来自于背景校正,与所选分析线的信背比密切相关。信背比越低,背景校正的不确定度越高,因此实际分析中应尽可能选择具有较高信背比的分析线,否则,即使事先经过了背景校正,最终的分析结果也可能包含很大的误差。     

基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法研究

精确的背景校正决定着冷原子吸收法检测痕量汞的检测下限,研究了基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法.汞灯光源253.65 nm共振谱线在磁场中垂直于磁场方向产生σ-,σ+和π三个线偏振光.利用超高分辨率光谱仪获取不同磁场强度下汞样品池对σ-,σ+和π线偏振光的吸光度,分析横向塞曼效应背景校正方法所需的最小磁场强度;在1.78 T强磁场强度下,分析了窄带吸收气体苯、宽带吸收气体丙酮对横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法可能存在的干扰;利用σ-,σ+作为背景光,π线偏振光作为吸收光,对不同长度的饱和汞蒸气样品池测量,精确背景校正后,吸光度拟合曲线R值达到0.99.实验结果表明基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法可以实现精确背景校正,能够应用于大气环境痕量汞检测.     

数字X射线图象的面不同一性校正研究

分析了数字X射线图象中面不同一性产生的原因,并从原理发出,采用曲面拟合的背景校正方法进行校正.实验表明该方法可以有效消除随机噪音对背景校正的影响,更好地提取出背景的不同一性特征信息,具有良好的校正效果.     

高频等离子光谱—动态背景校正法分析催化剂中的钯和铂

本文介绍了应用ICP-动态背景校正法测定催化剂中钯和铂的方法。并分析了几个主要元素的光谱干扰情况。     

时间分辨背景校正原子吸收光谱仪

根据本工作发现镍离子线(231.6nm)形态可以被任意改变的规律,研制了双通路时间分辨背景校正原子吸收光谱仪。它比氘灯、S-H法和塞曼效应背景校正线路具有更高的灵敏度。     

在原子吸收光谱分析中两种背景吸收干扰的比较

原子吸收光谱分析中的背景干扰几乎是每一分析工作者所不能避免的问题,本文针对氘灯背景较正和塞曼背景较正作了比较,给出了两种背景校正的优缺点。     

FAAS直接法测定环境和生物试样中Zn、Pb和Cd

本文系统研究了海水、土壤、沉积物和生物中Cd、Pb和Zn用火焰原子吸收直接法测定时的干扰与背景校正。由于这些物质基体中含有大量Al、Na、K、Ca、Mg、Fe等元素,在火焰中形成MX、MO和MOH分子光谱与分析元素线重叠,经背景校正后可获得更准确的结果和更好的回收率,对检出限和精密度均有改善。     

塞曼校正原子吸收法测定钢铁中锌的背景过度补偿的研究

本文实验研究了在磁场置于石墨炉原子化器的塞曼背景校正原子吸收分光光度计上的铁基体对分析锌元素的影响。铁２１３．８５９ｎｍ线与锌２１３．８５６ｎｍ分析线相差０．００３ｍｍ，在分析过程中铁对锌产生严重的光谱重叠干扰和塞曼背景校正过度补偿。经实验确定了两个原子化阶段，第一个原子化阶段锌完全原子化，铁原子化；第二个原子化阶段铁完全原子化，从而实现分步测定锌和铁两种元素，完全消除了铁基体对锌的光谱干扰。     

ICP-AES测定米中多种微量元素

以全谱直读光谱法测定了米中11种微量元素。对米的消化方法、元素分析谱线的选择、背景校正、仪器分析参数等因素进行了研究,综合确定了最佳试验条件。试验表明测定元素的回收率在96%—109%之间。     

用小波变换方法进行ICP-AES分析信号的背景校正

应用小波变换方法对ＩＣＰ－ＡＥＳ分析信号进行背景校正,效果良好。尤其对于复杂的曲线背景,该法处理的结果远优于仪器本身的校正结果。     

基于正交信号回归法对中试在线近红外定量模型的模型传递研究

模型传递使在特定条件下建立的模型能够应用于新的样品状态、环境条件或仪器状态。本研究在中药金银花中试在线水提过程中,以水提液中的绿原酸含量为研究对象,建立绿原酸含量的近红外定量模型。针对由金银花来源不同带来的模型失效问题,从光谱背景校正的角度出发,提出以KS算法挑选待传递样本中的代表性样本,结合正交信号回归(OSR)光谱背景校正方法,对不同来源样本的近红外光谱进行光谱背景校正,并深入探讨OSR方法实现近红外定量模型在不同来源中试样本间传递的应用原理。经模型传递后,模型对新批次样本预测的RSEP由14.91%下降到7.11%,RPD由2.95上升到5.36,预测准确度明显提高。实验证明,选择代表性样本的KS算法结合OSR光谱背景校正的模型传递方法不仅能减小不同来源原料药之间的偶然误差,同时消除了中试制剂过程和算法本身的系统误差,因此能够有效地改善因样本来源差异而造成的模型失效现象。该研究充分阐释了OSR模型传递方法的应用原理,以光谱背景校正与挑选代表性样本回归的方法实现了近红外定量模型在不同来源原料药中试样本之间的模型传递,增强了模型应对原料药批次间变动的能力,提高了模型的稳健性,为多来源原料药中试在线制剂过程中有效成分含量的快速实时监测提供了有效方法。     

ICP—AES法测定钢铁中金属元素

本文介绍样品用HC1-HNO_3分解,并对各元素进行适当的背景校正,在标准溶液与样品溶液中基体匹配的情况下用ICP-AES法测定。     

一种基于针孔像分析的光学系统调制传递函数测量的自适应背景校正方法

提出了一种基于针孔像分析的光学系统调制传递函数(MTF)测量自适应背景校正的方法。由CCD显微系统采集针孔目标经被测光学系统成像后的针孔像,计算线扩展函数,并对其进行自适应背景校正,获取MTF。该方法与传统方法相比,消除了周围环境光照变化的影响,提高了测量精度。为验证所提方法的有效性,对标准镜头进行MTF测试,将测试结果与理论设计值比对,测试结果差异极大值为0.01;与美国Optikos公司的测试结果比对,测试结果差异极大值为0.015;对大像差光学系统的轴上和轴外进行MTF测试,并将测试结果与美国Optikos公司测试结果比对,测试结果差异极大值为0.013。实验表明,该方法可满足对不同像差光学系统轴上和轴外MTF的测量。     

悬浮液进样石墨炉原子吸收光谱分析进展

悬浮液石墨炉原子吸收光谱分析结合了固体和液体进样方式的显著优势,是一种相对成熟的技术,并已作为常规分析方法广泛应用于有机和无机复杂基体中微、痕量金属元素的分析测定。文章结合最近10年来所取得的新进展进行综述,着重介绍和评论了悬浮液的制备(介质、稳定剂、质量体积比、粒径、均匀化体系)、基体改进剂、背景校正、方法校正及其分析的精密度等,并对悬浮液石墨炉原子吸收光谱分析的发展趋势进行了展望。全文共引用国内外文献80篇。     

Atom Scan 2000型顺序等离子体发射光谱仪性能初探

本文简介了Atom Scan 2000型顺序等离子体发射光谱仪的主要组成部分和仪器性能;通过实验对该仪器难以掌握的"定准峰位"方面,初步摸索出了在实际中所采用的方法以获得其谱线最大强度值;通过不同数据说明了该仪器在实际应用中的效果;在分析中对光谱线干扰及背景校正方面较难掌握,特别是对扣除背景方面对我们来说还是一个有待于进一步探索的问题。     

X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆——二次基体校正法和两步背景校正法的应用

本文提出了一种用X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆的方法。为了能获得基体校正和背景校正的最佳结果,采用了二次基体校正法(用康普顿散射线和理论α系数)和两步背景校正法。实验结果令人满意。