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相似文献
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1.
以相对论多体微扰理论为基础,利用屏蔽理论的思想和方法,引入并改进了与核电荷数Z相关的能量修正函数,计算了CⅠ等电子序列离子(6<=Z<=55)基组态(1s2 2s2 2p2)和第一激发组态(1s2 2s2 2p1)能量.计算过程基于自编的C语言和Mathematica程序,所得结果与实验值符合的很好,大大减小了由于忽略能量高阶项产生的误差,证明此项改进适用于等电子序列离子组态能量的计算.  相似文献   

2.
采用多组态相互作用方法及Rayleigh-Ritz变分法,计算了类铍离子等电子系列(Z=4-10)激发态1s22p2 3Pe的非相对论能量,利用截断变分方法得到能量改进量,进一步考虑相对论效应和质量极化效应,从而获得了高精度的能量计算值.给出了类铍离子等电子系列激发态1s22p2 3Pe的相对论能量修正和质量极化效应随核电荷数Z变化的情况.同时还计算了激发态1s22p23Pe的精细结构能级和劈裂,以及1s22s2p3Po到1s22p2 3Pe态的辐射跃迁波长.计算结果与其他理论和实验符合得很好.  相似文献   

3.
在屏蔽理论和多体微扰理论的基础上,文中提出了一种新的计算等电子序列离子基组态能量的方法,用该方法和作者设计的FORTRAN程序,计算了LiⅠ等电子序列离子 (3≤Z≤20)基组态能量,计算结果与已有实验结果十分接近,表明该方法对低Z原子体系基组态能量的计算是可行的.  相似文献   

4.
利用多组态Dirac-Fock方法,本文研究了高电荷态类锂等电子序列(Z=31~40)离子1s22p激发态的精细结构. 考虑高关联轨道的电子关联影响以及Breit相互作用、量子电动力学效应和原子核运动效应等高阶修正,计算了2P1/2和2P3/2精细能级的本征能量,能级劈裂结果与已有理论计算一致. 结果表明,类锂离子1s22p态精细结构劈裂满足高电荷态的等电子序列标度规律(~ Z4);发现离子空间尺寸随着原子序数增加收缩,相对论轨道1s1/2和2p3/2的径向电荷密度分布趋向于原子核.  相似文献   

5.
利用基于多组态Dirac-Fock(MCDF)理论方法的原子结构和性质计算程序GRASP92和全相对论扭曲波电子碰撞激发计算程序REIE06,系统计算了类氖离子(Z=50—57)激发组态2s22p53l和2s2p63l(l=s,p,d)的能级结构和碰撞激发截面,总结了碰撞激发截面随入射电子能量的变化规律,讨论了实验中感兴趣的(2p1/23d3/2)1→2s22p61S0(标记为3C线)与(2p3/23d5/2)1→2s22p61S0(标记为3D线)跃迁线强度比值的沿等电子系列特性和强组态相互作用对高离化态类氖离子截面的影响.  相似文献   

6.
在相对论多体微扰理论和屏蔽理论的基础上,本文提出了一种计算等电子序列离子基组态能量的新方法,通过引入一个与核电荷数Z相关的能量修正函数γ(Z)来考虑由于忽略能量的高阶项对原子体系基组态能量的影响。在对类Li(Z=3~50)和类Be(Z=4~50)等电子序列离子的基组态能量所进行的理论计算研究结果表明,Z相关能量修正对于原子体系基组态能量的准确计算是有效的。  相似文献   

7.
用全实加关联方法计算类锂离子(Z=11~20)偶极跃迁1s22s*"2S-1s23p*"2P1/2,3/2的跃迁能.非相对论能量用Rayleigh-Ritz变分法确定,相对论修正和质量极化效应用微扰论计算,还估算了来自量子电动力学效应的修正.得到的计算结果与现有的实验数据符合得很好,我们关于氯的类锂离子(Z=17)1s23p态的精细结构劈裂的计算结果揭示,相应的实验数据明显偏离等电子序列的物理规律.还算了1s22s-1s23p偶极跃迁的振子强度.  相似文献   

8.
采用鞍点变分方法和鞍点复数转动方法并考虑相对论修正和质量极化效应,计算了类铍离子内壳激发态1s2p3 3P0、3D0和内壳双激发态2s2p3 3D0的俄歇宽度、俄歇分支率和俄歇电子能量.同时还对1s22p2 3Pe态到1s2p3 3P0、3D0态(Z=4~10)的振子强度和辐射跃迁率进行了计算,计算结果与其他理论结果以及实验数据符合得很好.  相似文献   

9.
类铍离子N3+激发态的能量、振子强度和跃迁几率   总被引:2,自引:1,他引:1  
利用多组态相互作用方法及Rayleigh-Ritz变分法,计算了类铍N3+ 基态(1s22s21S)和三个激发态(1s22s2p1P0, 1s22s2p3 P0, 1s22p23P)的能量,运用截断变分方法得到能量的改进量,包括了相对论能量和质量极化效应.计算了相关态的振子强度和辐射跃迁率.计算结果与其它理论和实验结果符合得很好.  相似文献   

10.
采用基于全相对论框架的多组态Dirac-Fock方法,系统研究了类Be离子(Z=8-54)内壳层激发态1s2s22p的能量、辐射退激发和Auger退激发过程.详细讨论了电子关联效应对相关结构和退激发过程的影响.结果表明,来自于n=2和3壳层的电子关联效应最重要.另外,随着Z的增大,辐射退激发几率逐渐而平滑的增大,而Auger退激发几率的变化则不显著.本文计算结果与其它理论计算结果符合很好.  相似文献   

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