X射线（n,—n）双晶衍射抑制高次谐波实验研究

对将用于同步辐射ＥＸＡＦＳ 实验站双晶单色器的晶体进行了双晶衍射失谐抑制高次谐波的实验．结果表明，对Si(111）晶体，当双晶衍射失谐到基波强度只有原来的一半时，高次谐波均消失．本文讨论了Si（２２２）衍射不完全消光的原因．对Si（２２０）晶体衍射的情况也进行了简要的讨论．     

Ⅱ－Ⅵ族应变层超晶格的X射线衍射分析

本文报导了用计算机控制的衍射仪（ＣｕＫα辐射）测量的金属有机化学汽相沉淀（ＭＯＣＶＤ）方法生长的Ⅱ－Ⅵ族应变层超晶格的Ｘ射线衍射曲线，观察到了超晶格结构的多级卫星峰，且卫星峰的强度随角度呈周期性变化．对这种卫星峰形成包络的衍射曲线，用Ｘ射线运动学衍射理论进行了分析和讨论，这种讨论有助于理解Ｘ射线衍射曲线中卫星峰的形成．同时用光致发光和包络峰宽度的方法估算了样品的结构参数．     

X射线晶体学的起源

１９１２年是值得纪念的一年．在这一年里,先是劳厄（Ｍ．Ｌａｕｅ,１８７９—１９６０）等发现了Ｘ射线的晶体衍射现象并给出了一个解释,此后不久布拉格（Ｗ．Ｌ．Ｂｒａｇｇ,１８９０—１９７１,后简称小布拉格）又作了重新解释并借此获得了有关晶体结构的信息,从而开始了Ｘ射线晶体学发展艰难但成果辉煌的历史．作为整个Ｘ射线晶体学史研究的第一步,本文先对其起源作一全面的历史考查．一、Ｘ射线晶体衍射现象的发现?...     

SrTiO3基片的晶体质量及表面粗糙结构的X射线研究

用X射线双晶衍射摇摆曲线以及双晶X射线形貌对两个SrTiO₃基片的单晶质量进行了对比研究，并用X射线掠入射镜面反射及漫散射研究了它们的表面粗糙结构．结果表明，两个SrTiO₃基片中都存在镶嵌缺陷，其中一个样品的晶体质量相对较高．两个样品的表面粗糙结构相差很大，包括均方根粗糙度σ和横向相关长度ξ．σ分别为（0.5±0.1）和（1.3±0.1）nm，ξ分别为（1200±200）和（300±20）nm．样品的表面粗糙将增加Ｘ射线的漫散射强度而降低镜面反射的强度．晶体质 关键词：     

X射线多重衍射的进展

若晶体具有多个（≥３）原子平面同时满足Ｂｒａｇｇ定律,并同时衍射一单色入射Ｘ射线光束,这就是多重衍射现象。本文介绍Ｘ射线多重衍射的基本原理,获得多重衍射花样的实验方法、衍射理论和若干应用。     

扩展X射线吸收精细结构的实验方法研究

一、引言扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）是一种新的结构分析方法［１］．测定ＥＸＡＦＳ要求的实验条件较高,数据处理与分析也较复杂［２,３］．我们利用１２ｋｗ转靶Ｘ射线源在衍射仪样品台上放置平晶作分光晶体,开展了ＥＸＡＦＳ实验方法的研究．对有关的实验技术和数据处理等问题初步作了一些工作．二、实验方法ＥＸＡＦＳ的测定来用透射法,测量经吸收体吸收前、后射线强度Ｉ０与Ｉ随能量的变化．应用Ｒｉｇａｋ?...     

扩展X射线吸收精细结构及其应用

利用Ｘ射线吸收现象来进行化学分析,这是早就为人们所熟悉和使用的方法．近十余年来,由于理论上的突破和实验技术的改进,又已证明可以根据Ｘ射线在某种元素原子的吸收限附近吸收系数的精细变化情况,来进行凝聚态物质的结构分析,即分析凝聚态物质中原子的近程排列情况．这就是扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）．它与一般的Ｘ射线衍射结构分析不同,不是以Ｘ射线的衍射现象作为分析依据．这种方法不但可以分析晶体,也?...     

X射线衍射貌相术简介

一、引言Ｘ射线衍射貌相术（简称Ｘ射线貌相术）是利用Ｘ射线在晶体中衍射的动力学及运动学衍衬原理,根据晶体中完整及非完整部分衍射的衬度变化及消光规律,来检查晶体材料及器件表面和内部微观结构缺陷的一种方法．随着半导体、激光等科学技术的发展和近完整晶体材料的大量使用,自五十年代末期以来,Ｘ射线貌相术的实验和理论有了很大发展,逐渐形成为一种有效的检验手段和一门分支学科［１－３］．Ｘ射线貌相术具有下列一?...     

发光多孔硅表面微结构及其晶格畸变的实验研究

用电化学方法制备了不发光多孔硅和发光多孔硅,用X射线双晶衍射对两类多孔硅表面进行了微结构分析和晶体质量表征,实验表明两类多孔硅的微结构间存在着很大差别。不发光多孔硅表面对X射线的双晶衍射摇摆曲线可解叠成两个峰,它们分别来自样品多孔层和单晶硅衬底,而发光多孔硅对X射线的双晶衍射摇摆曲线呈高斯对称分布,不可解叠。发光多孔硅比不发光多孔硅表面晶体质量差,且电化学腐蚀越严重,表面晶体质量下降也越严重。     

用X射线衍射的驻转法测量半导体单晶片

用Ｘ射线衍射仪进行多晶分析和粉末样品分析是很方便和精确的,但是对于单晶样品的分析则有困难,因为分析单晶样品要用四圆Ｘ射线衍射仪,而目前国内尚无这种商品．为了充分发挥多晶衍射仪的使用效率,做到一机二用,可以运用衍射驻转法对仪器稍加改装．为此,我们设计和试验了简易的单晶测角头,配合衍射仪原来附带的旋转样品架,就能进行单晶片的Ｘ射线分析,例如对已知晶系晶体的点阵常数进行测量,和对晶格缺陷进行分析等?...     

1－苄基－9－氢富勒烯－60LB多层膜的制备及其光学非线性性质

利用π－Ａ等温线、小角Ｘ射线衍射（ＳＡＸＤ）和光学测量方法研究了一种取代富勒烯（Ｃ６０－Ｂｅ）ＬＢ膜的结构特性。纯Ｃ６０－Ｂｅ分子以体相（ｂｕｌｋｐｈａｓｅ）的形式存在于气－液界面上。氮冠（醚）（ＮＣ）分子作为隔层材料，与Ｃ６０－Ｂｅ分子相混合可以制备性能优良的ＬＢ膜。π－Ａ、吸收和小角Ｘ光衍射测量表明：这种混合膜结构的改善是由于Ｃ６０－Ｂｅ分子镶嵌在ＮＣ分子的双脂链之间造成的。通过测量三次谐波产生（ＴＨＧ）可以推出Ｃ６０－Ｂｅ的三阶非线性系数χ（３）＝２．１×１０－１１ｅｓｕ。     

X射线双晶衍射摇摆曲线本征半峰宽的理论计算

本文应用X射线衍射动力学理论,推导出Bragg衍射几何X射线双晶衍射反射率的数学表达式。多种晶体、不同衍射的摇摆曲线计算结果表明,σ偏振的摇摆曲线的峰值和积分强度均比π偏振的高。而且半峰宽较宽。同时指出,对圆偏振X射线入射或者A,B两晶体不同类或者两者的衍射级数不相同时,很多文献给出的双晶衍射摇摆曲线半峰宽的近似表达式2^1/2∞不再适用。 关键词：     

晶体学与“四个现代化”

晶体学是一门边缘科学,它牵涉到物理学、化学、冶金学、矿物学、土壤学以至于近代的分子生物学．我们可以说,晶体学是研究晶体的结构和缺陷与物理性质之间的关系的一门科学,晶体学是研究晶体在成分、温度、压力或其它物理条件的变更下结构变化的一门科学,晶体学又是研究晶体的发生和发展的一门科学．在Ｘ射线衍射现象发现以前的晶体学叫做经典晶体学,而用Ｘ射线分析晶体的微观结构和织构的叫做Ｘ射线晶体学．自从劳厄（ｖ?...     

双探测器EXAFS数据检测采集系统

扩展Ｘ射线吸收谱精细结构（ＥＸＡＦＳ）能有效地提供凝聚态物质中原子的近邻结构信息．一般ＥＸＡＦＳ的振荡幅度很小．测量它的理想光源是强度足够强、频率连续可调、强度恒定的Ｘ射线,通常由同步辐射加速器的白Ｘ光经晶体单色器分光而得．普通Ｘ光机的ｘ射线虽然容易得到,但是除强度较低外,靶及其中的杂质的特征谱线,使得不同能量的光强度有数量级的差别,同时单色器的高次衍射也会使ＥＸＡＦＳ的幅度降低［１］。这就?...     

利用光学倍频效应判定粉末样品的非中心对称性

一、引言关于晶体的对称性的研究,通常是使用Ｘ射线衍射技术．在确定晶体的结构时,判定其对称中心存在与否,是重要的问题之一．但是由于弗里德尔（Ｆｒｉｅｄｅｌ）定律的存在,使得通常的Ｘ射线衍射技术不可能判定反演中心是否存在．利用Ｘ射线反常散射强度统计试验法［１］或者使用帕特森（Ｐａｔｔｅｒｓｏｎ）分析法［２］,能够消除由于弗里德尔定律所引起的空间群的不确定性．不过这些方法很烦琐,工作量又大,而且在?...     

高温超导薄膜(Y0.6Ho0.4)Ba2Cu3O7-δ/SAT/MgO的制备

用脉冲激光沉积法在先在ＭｇＯ衬底上制备一层Ｓｒ２（ＡｌＴａ）Ｏ６薄膜作为过渡层,再制备（Ｙ０．６Ｈｏ０．４）Ｂａ２Ｃｕ３Ｏ７－δ超导薄膜,新超导薄膜的零电阻温度Ｔｃ０为８９Ｋ,临界电流密度Ｊｃ为２．３＊１０＾６Ａ／ｃｍ＾２（７７Ｋ）,用Ｘ射线衍射仪及扫描电子显微镜分析了薄膜特性。     

MOCVD生长的未掺杂GaN的结晶特性与补偿度关系的研究

对本实验室用ＭＯＣＶＤ方法生长的未故意掺杂的ＧａＮ单晶膜进行了结晶性能、电学性能研究。结果表明,室温时ＧａＮ的Ｘ射线双晶衍射半高宽与其补偿度有较强的依赖关系。高补偿的ＧａＮ的Ｘ射线双晶衍射半高宽较宽。低补偿的ＧａＮ的Ｘ射线双晶衍射半高宽较窄。     

双势垒超晶格结构的同步辐射及X射线双晶衍射研究

利用高精度的Ｘ射线双晶衍射和同步辐射散射对可用于半导体红外探测器的双势垒超晶格材料进行了研究，并运用Ｘ射线衍射动力学理论进行模拟计算，得到了与实验结果符合得很好的理论曲线．同时发现包络函数节点处的卫星峰对结构参数的变化极为灵敏．以此进行模拟计算，可准确地确定出样品的结构参数，厚度误差范围为±０.１ｎｍ．并利用Ｘ射线衍射运动学理论对实验中观测到的卫星峰调制现象给予了解释     

一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法

本文介绍了利用从薄膜衬底反射的Ｘ射线,在常规实验室条件下实现了对薄膜材料的ＥＸＡＦＳ测量．我们用该方法在Ｄ／ｍａｘ－ｒＢ１２ｋＷ转靶Ｘ射线衍射仪上得到的纯Ｃｕ薄膜的ＥＸＡＦＳ测量结果和常规透射法的测量结果一致．这表明该方法是可靠的．     

X射线多重衍射的进展

若晶体具有多个原子平面同时满足Ｂｒａｇｇ定律,并同时衍射一单个入射Ｘ射线光束,这就是多重衍射现象。本文介绍Ｘ射线多重衍射的基本原理,获得多重衍射花样的实验方法,衍射理论和若干应用。