光纤的弯曲损耗和微弯损耗及其利用

分析光纤弯曲损耗和微弯损耗的机理,并分别用D.Marcuse和Jeunhumme给出的公式总结两种损耗的算法,最后简要介绍这两种损耗在实际中的利用.     

弯曲损耗不敏感光纤的国际标准及宏弯损耗测试

详细介绍了ITU-T和IEC有关弯曲损耗不敏感光纤标准的最新进展情况以及弯曲损耗不敏感光纤宏弯损耗的测试方法。     

微弯型光纤传感器的原理及应用

光纤传感器是20世纪后半期的重大发明之一。它与激光技术一样，是一种新兴的光学技术，已形成光电子学领域的一个崭新的分支，它将在国防、工业、农业、生物、医学、辐射等许多方面得到广泛的应用。本着重分析和讨论微弯型光纤传感器的工作原理和检测技术，并介绍了微弯型光纤传感器的发展与应用。     

单模光纤弯曲损耗的测量与分析

提供了弯曲半径从1．7mm到5．8mm，波长从1520nm到1565nm范围内单模光纤弯曲损耗的测试结果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化、随着弯曲半径的增加损耗减小，振幅减小，随着波长的增加损耗增加、振幅增大的现象。并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。     

微弯型光纤传感器的原理及应用

光纤传感器是20世纪后半期的重大发明之一。它与激光技术一样,是一种新兴的光学技术,已形成光电子学领域的一个崭新的分支,它将在国防、工业、农业、生物、医学、辐射等许多方面得到广泛的应用。本文着重分析和讨论微弯型光纤传感器的工作原理和检测技术,并介绍了微弯型光纤传感器的发展与应用。     

薄涂层光纤和光纤带中微弯损耗的研究

本文记述了由于环境引起的光纤弯曲光谱与双涂敷层光纤机械性能之间的关系，从这一关系，我们可以确定涂敷层的设计参数，它与微弯损耗有关。对直径从１６０μｍ到２００μｍ的典型薄涂层光纤和光纤带因卷绕于线盘而引起的微弯损耗也有说明。     

PPCF宏弯损耗特性的分析

利用矢量有效折射率法模拟了光波在塑料光子晶体光纤（PPCF）内的传输情况，讨论了包层有效折射率与光纤结构的关系，分析了不同结构参数下的PPCF的宏弯损耗特性。     

光纤应用损耗的研究及其对策

光纤的传输损耗特性是决定光网络传输距离、传输稳定性和可靠性的最重要因素之一。光纤传输损耗的产生原因是多方面的．在光纤通信网络的建设和维护中，最值得关注的是光纤使用中引起传输损耗的原因以及如何减少这些损耗。光纤使用中引起的传输损耗主要有接续损耗(光纤的固有损耗、熔接损耗和活动接头损耗）和非接续损耗（弯曲损耗和其它施工因素和应用环境所造成的损耗)两类。     

单模光纤的微弯损耗：理论与实验研究

本文介绍了单模光纤微弯效应的系统研究。已研制一种算法来表示作为空间周期性微弯形变函数的光衰减的特征。根据中心波长，振幅及频谱宽度，描述了光衰减峰值。实验结果和理论预测之间的标称误差小于２．５％，显示出极好的相关性。     

利用聚四氟乙烯减小微光纤共振器损耗

微光纤螺旋共振器（MCR）是一种环形单模微光纤，光纤直径和长度与其中传播的波长相当。弯曲损耗和输入、输出损耗都很小。以往的MCR无论是结或者自耦合设计，共振环都是相互接触的，暴露在空气中，非常不稳定，而且损耗也会逐渐增加。     

光子晶体光纤宏弯曲损耗特性的分析

本根据等效折射率模型分析了光子晶体光纤在宏弯曲(以下简称为“弯曲”)情况下的损耗，得到了和普通单模光纤不同的弯曲损耗特性，并分析了不同结构参数下的光子晶体光纤的弯曲损耗曲线。     

下陷层辅助单模光纤的弯曲损耗研究

随着光纤到户网络的逐渐普及,弯曲不敏感光纤受到了越来越多的关注。对下陷层辅助弯曲不敏感光纤进行了系统的研究。在带有下陷层的弯曲不敏感光纤中,下陷层的折射率差、下陷层的宽度以及下陷层至芯层的距离是影响弯曲损耗的三个重要参数。结合上述三个参数,系统研究了光纤半径以及涂覆层折射率对弯曲损耗的影响。研究表明,通过改变光纤半径可以有效降低弯曲损耗;在特定的弯曲半径下,当涂覆层折射率增大时可以有效减小光纤的弯曲损耗。这些结论对弯曲不敏感光纤的设计及制造具有指导意义。     

Draka推出新型抗弯曲损耗光纤

光纤光缆制造商Draka Comteq近日推出采用独特Colorlock XS技术的Bendbright XS产品。Bendbright XS是2005年推出的接入光缆专用光纤，Colorlock XS技术是一种抗弯曲损耗技术。Draka Comteq称，他们的这一技术领先行业两年。Draka Comteq同时称。2005年他们获得的AT＆T供应商创新奖充分证明了其产品在FTTx领域的优势。该公司销售人员进一步指出。很多竞争对手是在最近才推出类似的产品。相比竞争产品，Bend BrightXS是第一种也是唯一一种符合ITU-TG．657．B标准的全玻璃抗弯曲损耗光纤。该产品与其它G．652．D光纤兼容。     

新型低弯曲损耗光子晶体光纤的研究

提出了一种新型掺锗芯低弯曲损耗光子晶体光纤。通过调整结构参数,实现了单模低弯曲损耗传输,与标准单模光纤有较好的适配性。仿真结果表明,波长1550nm处,弯曲半径为5mm时,基模损耗为0.014dB/km;弯曲半径为4mm时,基模损耗为0.42dB/km,能承受的弯曲半径小。显示了光子晶体光纤具有成为光纤到户"最后一公里"主要通信介质的性能优势。     

光纤环形腔损耗对相干性的影响分析

应用部分相干光理论,推导出了光纤环光谱传递函数。结合光纤环光学长度和耦合输出系数,就损耗对光纤环光谱传递函数和相干性的影响进行了分析讨论。     

单模光纤的弯曲损耗分析

在修正弯曲单模光纤几何模型的基础上,采用一个简单的弯曲损耗公式,对单模光纤的弯曲损耗和弯曲半径及波长之间的关系进行了仿真和实验,观察到弯曲损耗随弯曲半径和波长的变化呈现振荡现象,且振荡现象是由光纤中的基模和在包层和涂覆层中传播的whispering gallery模之间的耦合引起的。并对关系曲线的特性进行了分析,得出了弯曲损耗曲线峰-谷值位置的计算式,具有一定的参考价值。理论分析和实验结果基本一致。     

浅析光纤的弯曲损耗对通信传输的影响

光纤在传输损耗和抗电磁干扰有优势,但在实际传输介质中经常会出现光纤在一定范围内的弯曲而改变光路,因此,光纤的弯曲损耗及相关的物理现象成为人们研究的课题光纤传输质量受光纤损耗的影响,分析与测试光纤的损耗对实际应用有参考价值。由于光纤弯曲改变了传导模的形式,使光信号在弯曲部分产生了辐射损耗,信号传输距离和接收灵敏度将受到不同程度的影响。光纤弯曲损耗随弯曲半径的增加呈下降趋势,光纤弯曲对不同波长的光损耗不同,因此在通信传输中产生了不同程度的影响。     

两种基于弯曲损耗的光纤测试仪器原理及应用

光纤通信技术的飞速发展带动了光纤测试仪器的发展。主要对两种利用弯曲损耗对光纤进行检测的仪器——光纤识别仪、光纤对线器的原理、结构及其在光纤通信工程中的应用进行了阐述，两种仪器可以在不中断光纤通信的情况下对光纤进行检测，极大地降低了对光纤通信系统的影响，对光纤通信系统具有重要意义。