ICPS-1000Ⅱ型等离子光谱仪控制系统的升级更新

通过对岛津ICPS-1000Ⅱ型等离子体光谱仪控制系统的升级更新,使用PC系列微机,插入IEEE-488并行通讯接口卡,替代原三菱MULT 116计算机,实现了对ICPS-1000Ⅱ光谱仪主机的控制,将原软件移植成功。进一步开发了该仪器的功能,使其维修、维护和应用变得方便、快捷。     

藏药“君西”不同炮制品中的微量元素测定

运用电感耦合等离子体光谱仪(ICPS)、原子荧光光谱仪(AFS)、电感耦合等离子体-质谱仪(ICP-MS)测定“君西”生品、水淬品、酒淬品、酸酪淬品的Al、Ca、Fe、K、Na、Mg、Zn、Cu、Pb、As、Hg含量,测定结果显示,君西不同炮制品间微量元素Al、Ca、Fe、K、Na等存在明显差异,说明炮制过程对君西微量元素成分产生了重要影响.     

铸铁的直读光谱分析

本文介绍应用美国BAIRD1000型DV－4直读光谱仪进行铸铁光谱分析的方法，结果表明，在DV－4光谱仪上，完全白口化的铸铁，采用较高的预燃热量，铸铁光谱定量分析结果能够满足化铁工艺需求。     

二十年来电感耦合等离子体光谱法的进展

本文将按六个方面对二十年来电感耦合等离子体光谱法(ICPS)所取得的主要进展进行一些评述。一、历史发展和文献增长情况 ICPS是本世纪60年代提出,70年代迅速发展起来的一类以电感耦合等离子炬为激发源、原子化装置和离子源的新型光谱分析方法。ICP在分析上的应用至今还不到20年的历史,但是ICP放电的历史可以追朔到差     

星载高分辨率超光谱成像仪分光方式的选择

从多个方面分析了棱镜和光栅色散分光的优缺点,分析结果表明棱镜更适于星载高分辨率超光谱成像仪的分光。在透过率方面,棱镜光谱仪透过率高达95.24％(VNIR),而光栅的衍射效率仅为60%~70%。在杂散光方面,棱镜光谱仪的杂散光可达10－4,而光栅的杂散光为10－2。在0.4 －2.5 范围,棱镜光谱仪相对光栅光谱仪有优越性。在色散线性方面,光栅光谱仪基本线性,棱镜光谱仪的短波非线性问题可通过复合棱镜进行补偿。可靠性方面,棱镜光谱仪较光栅光谱仪有优势;在光谱带宽和成本方面,棱镜光谱仪与光栅光谱仪基本接近。     

7502B光电直读光谱仪计算机升级

对国产７５０２Ｂ型ＩＣＰ光电直读光谱光谱仪的计算机控制系统的软硬件结构及其基本运行原理进行了分析，叙述了将其原有主控制计算机从长城０５２０ＣＨ－Ⅱ型微机升级为ＩＢＭＰＣ兼容奔腾机所存在的软件，硬件方面的问题及其解决办法。     

不定形基线扣除法研究

本文阐述了不定形基线扣除法的基本原理及其应用,利用该原理对 U-100 型拉曼光谱仪收集到的信号进行了数据处理,其结果确保了信号的真实性,增强了软件的功能,弥补了原软件的不足。     

可见/近红外实时成像光谱仪控制系统设计

针对高光谱成像需求,设计了一套可见/近红外实时成像光谱仪.光谱仪基于声光可调谐滤波器(Acousto-Optic Tunable Filter,AOTF)分光器件进行设计,光谱带宽为1.3μm,其中可见光相机工作在400～1000 nm波段,近红外相机工作在1000～1700 nm波段.光谱仪控制系统以现场可编程门阵列...     

WFX－Ⅱ型原子吸收光谱仪的正确使用与维护

本厂ＷＦＸ－Ⅱ型原子吸收光谱仪，是一台陈旧的老设备，通过改造和正确使用与维护，仍能正常运行，在厂里生产中充分发挥了老设备的作用。本文还简要地介绍了使用原子吸收光谱仪的经验，在国产设备上怎样正确使用Ｎ２Ｏ－Ｃ２Ｈ２火焰，并对于使用Ｎ２Ｏ－Ｃ２Ｈ２火焰所产生不安全因素进行了分析。     

极大望远镜高效率多通道光谱仪的光学系统设计

建立了基于边界限制的宽波段高效率多通道光谱仪快速设计的分析模型,讨论了多通道光谱仪的性能要求、初始结构参数、项目成本、风险之间的相互关系。该模型能够根据给定的系统指标快速计算出多通道光谱仪各子系统的结构参数,能在项目初期对方案的可行性和项目预算给出合理的评估。以4 m级望远镜为平台,设计了基于体位全息光栅的多通道光谱仪,光谱范围为350～1000 nm,每个通道在闪耀波长处的分辨率为5000,光谱仪本体峰值效率大于53%,全工作波段单色像质能量集中度在80%处优于15μm,满足系统的性能要求。     

用可见光谱测量HL—1M等离子体的旋转速度

用ＳＫＤ高分辨光谱仪测量系统测量了ＣⅢ、ＣⅡ、ＯⅡ及Ｈａ等谱线辐射的多勒位移,给出了ＨＬ－１Ｍ托卡马克等离子体旋转速度,结果表明：环向旋转速度ｖψ右到２２ｋｍ·ｓ＾－１,角向旋转速度ｖθ在等离子体内部与电子逆磁漂移方向同向,在ｒ＝２２ｃｍ附近转变为离子逆磁漂移方向,存在极大值９．６ｋｍ·ｓ＾－１,氢弹丸注入时角向旋转反向,在接近孔栏处又变为电子逆磁漂移方向。激光吹气注入杂质时,ｖθ减小。低杂波注入     

用通用X—射线荧光光谱仪进行铬的形态分析

本文用通用Ｘ－射线荧光光谱仪和一套自行设计的谱分析程序对一些含铬物质的Ｋβ发射谱进行了形态分析。谱强度数据经过处理后，得到了谱形和谱峰参数（峰位、峰高、半峰宽和非对称因子等）和形态之间的一些定性、定量关系。并利用所得出的规律分析了化学镀铬层和不锈钢中的铬元素的形态分布，分析结果的相对误差在１０％以内。     

用通用X-射线荧光光谱仪进行铬的的形态分析

本文用通用Ｘ－射线荧光光谱仪和一套自行设计的谱分析程序对一些含铬物质的Ｋβ发射谱进行了形态分析。谱强度数据经过处理后，得到了谱形和谱峰参数（峰位、峰高、半峰宽和非对称因子等）和形态之间的一些定性、定量关系。并利用所得出的规律分析了化学镀铬层和不锈钢中的铬元素的形态分布，分析结果的相对误差在１０％以内。     

基于Ar分支比方法的光谱强度响应效率标定研究

利用Nd∶YAG激光器输出的1 064 nm激光在大气压环境中产生了Ar等离子体,测量了Ar等离子体的发射光谱,从Ar等离子体发射光谱中筛选出了来自Ar Ⅰ和Ar Ⅱ 15个上能级的35条跃迁谱线,基于分支比方法计算了光谱仪的辐射强度响应效率标定系数。此外,利用氘灯和卤钨灯标准光源,对光谱仪辐射强度响应效率进行了标定,得到了针对不同光栅的光谱仪的辐射效率标定系数。用分支比方法获得的辐射强度响应效率标定系数与标准光源得到辐射强度响应效率标定系数具有较好的一致性,其最大相对误差为5.4%。该研究的标定方法可以为一些大型聚变装置的光谱测量的在线标定提供借鉴和参考。     

原子发射光谱分析——PlasmaⅡ型发射光谱仪使用知识（一）

一、概论二、ICP-AES分析基础知识1.光和光谱2.ICP装置和等离子体的产生3.ICP工作气体4.等离子体炬剖析三、Plasma Ⅱ型发射光谱仪简介四、Plasma Ⅱ型发射光谱仪常用操作程序1.开机操作2.点燃等离子体操作     

等离子体原子荧光光谱仪激发光源空心阴极灯脉冲发生和信号处理控制系统的研制和评估

本文用带３８６处理器的微型计算机,通过自行研制的接口,在ＢａｉｒｄＰｌａｓｍａＡＦＳ－２０００原子荧光光谱仪上实现了荧光激发光源空心阴极灯供电脉冲发生和信号处理的控制。典型元素的检测限、相对标准偏差和线性相关系数表明,系统性能良好。新系统增强了仪器的功能。     

一种新型干涉成像光谱仪光学系统研究

介绍了一种新型静态干涉成像光谱仪—ＬＡＳⅡ形式的大孔径静态干涉成像光谱仪的原理、系统特性及要求,并对前置光学系统做了深入研究,光学系统的要求从全局考虑,实现普通玻璃复消色差,调制传递函数在３０对线时达到０．４以上。仪器具有原理简单、成本低（不高于色散型成像光谱仪的研制成本）、体积超小等特点。     

普通发射式光谱仪的功能扩展与改造研究

光谱仪是进行光谱分析时所必需的重要仪器。目前在科学研究和高等教育教学中广泛应用的光谱仪大多单为某一功能而设计,且价格昂贵。本文以常见的发射式光栅光谱仪为例,进行普通光谱仪的功能扩展设计研究与测试,使普通光谱仪从单一的发射光谱仪扩展成为集荧光光谱、透射光谱和反射光谱的测量于一体的综合性光谱仪。结果表明:通过添加外部光源、搭建测试样品架的方法,在精度要求不是特别高的情况下,可以满足一般教学科研的需要。通过扩展设计,降低了分析测量的成本,对于样品的低成本分析测量及改进普通光谱仪的设计具有一定的借鉴意义。     

成像光谱偏振仪研究进展

成像光谱偏振仪是一类同时具有成像、光谱测量和偏振测量功能的新型光电传感器.介绍了成像光谱偏振仪的原理,对近些年来国内外成像光谱偏振仪的研究进展进行了总结,对基于声光可调谐滤光片、液晶可调谐滤光片等新器件的成像光谱偏振仪和通过在狭缝色散型、空间调制傅里叶变换型和层析型成像光谱仪的光路中添加偏振器件构成的成像光谱偏振仪的原...     

Offner成像光谱仪的设计方法

基于子午和弧矢聚焦曲线给出了一种Offner型成像光谱仪的新的设计方法。该方法不但适用于三同心元件Offner型成像光谱仪,还适用于传统的两同心元件Offner成像光谱仪的设计,更重要的是该方法还可以灵活地以商品化标准光学元件为基础进行优化设计,克服了已有方法的复杂性与单一针对性。给出了采用该方法分别在子午和弧矢聚焦曲线相切、两点相交和已知元件参数进行优化的设计流程。并利用该设计流程给出了已知元件参数进行优化设计实例,在相对孔径f/3.2时,在400～1000 nm波长范围内可以得到最大的光斑半径的均方根值仅为2.3μm的追迹结果,这一数值在1000 nm时已经达到了衍射极限。采用上述设计参数成功研制出了一台成像光谱仪,经初步测试达到各项设计指标。