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本文以镍基合金的分析参数为例,探讨光电直读光谱分析参数的选取方法。通过对谱线进行基体校正和干扰校正,实验数据处理结果表明,方法简单、快速,且具有较好的准确度和精密度。 相似文献
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光电直读光谱分析中的空白校正法及应用 总被引:4,自引:0,他引:4
运用空白校正校正在光电直读光谱分析中因试样类型,组织结构,成分含量,仪器波动和基体效应等因素造成的系统误差,本文对空白校正的方法原理,操作要点,实现过程及应用也作了介绍。 相似文献
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铝合金中微量元素Sr和Ca的光电光谱分析 总被引:2,自引:0,他引:2
本文报道了光电直读光谱法测定铝合金中微量Sr,Ca元素含量的方法。并对光源的激发方式及工作参数进行了选择。该法简便、快捷、准确度和精密度高,解决了化学法分析微量元素的困难,结果令人满意。 相似文献
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用光电直接光谱法分析了高纯阴极铜中的分析。该方法简便、快速,分析结果准确、可靠。 相似文献
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ICP直读光谱仪的光测量系统 总被引:1,自引:1,他引:0
该系统基于微型机ISA总线,由负高压控制电路,负高压发生器,光电倍增管,前置放大器,程控增益放大器、V/F转换器和定时计数器等构成。负高压在294-944V间分100档程控可调,程控增益放大器1-256间分5档,V/F转换器满程输出频率为1MHz, 相似文献
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对国产7502B型ICP光电直读光谱光谱仪的计算机控制系统的软硬件结构及其基本运行原理进行了分析,叙述了将其原有主控制计算机从长城0520CH-Ⅱ型微机升级为IBMPC兼容奔腾机所存在的软件,硬件方面的问题及其解决办法。 相似文献
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本文利用DV-41000型光电直读光谱仪对纯Al中微量Ga、B的测定方法进行了研究,自制标样,其均匀性用数理统计的方法进行了检验,Ga、B的含量用化学法确定,该系列标样线性关系良好。分析范围:Ga0.001%-0.04%,B0.0002%-0.01%,光源参数选用火花电感方式,冲洗2秒,预燃5秒,曝光7秒。该法简单、迅速、灵敏度和准确度较高,与化学法的分析结果对照,数据十分一致。 相似文献
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光电直读光谱法分析钢中微量的La和Ce 总被引:2,自引:0,他引:2
本文报道了光电直读光谱法测定钢中 La、Ce含量的方法。并对光源的激发方式及工作参数进行了选择。本法简便、快速、准确度和精密度高 ,解决了化学方法操作烦琐、不易掌握的难题。 相似文献
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灰口铸铁中碳的光电直读光谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
本文研究了火花光源的脉冲频率与灰口铸铁预激发区(预燃区)的金相组织的关系,优选了灰口铸铁中碳的光电直读光谱分析的最佳条件,对灰口铸铁试样的分析获得满意的结果。 相似文献
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The best simple method for Newtonian molecular dynamics is indisputably the leapfrog Stormer-Verlet method. The appropriate generalization to simple Langevin dynamics is unclear. An analysis is presented comparing an ‘impulse method’ (kick; fluctuate; kick), the 1982 method of van Gunsteren and Berendsen, and the Brünger-Brooks-Karplus (BBK) method. It is shown how the impulse method and the van Gunsteren-Berendsen methods can be implemented as efficiently as the BBK method. Other considerations suggest that the impulse method is the best basic method for simple Langevin dynamics, with the van Gunsteren-Berendsen method a close contender. 相似文献
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求解定态薛定谔方程常常会涉及到常微分方程的本征值问题.目前解常微分方程本征值用的比较多的方法是以龙格-库塔方法为基础的打靶方法.打靶方法常用,但是计算时间长.当边界条件比较复杂或比较敏感的时候,用松弛法会有更好的效果.本文用松弛法解薛定谔方程,并和理论解进行比较.发现松弛法得到的数值解和理论解符合度很高,而且使用松弛法... 相似文献
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能量色散X射线荧光分析中改进型基本参数法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法,但该方法检出限和分析精度,受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法,但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分,而在实际使用时,尤其在分析低含量样品时,净峰面积计算、基体中“暗物质”影响了测量精度,制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足,将谱线解析方法与基本参数法融合,将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中,采用分析样品特征X射线分支比的理论系数,对重叠峰进行剥离,解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题;在计算过程中,对“暗物质”进行均一化处理。通过对标准物质测量分析,结果表明对于Ni,Cu,Zn三个元素改进型基本参数法(改进型FP)测量结果准确度高于影响系数法。 相似文献
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FAAS法对三种制备样品方法的研究 总被引:8,自引:0,他引:8
在FAAS法分析中,样品预处理始终占有极为重要的位置。本文比较了三种样品消化方式,即传统酸消化法,灰化法及微波消化法。传统的消化方式过程长、速度慢、效率低、而且被测元素易受到损失及易污染等不足,而微波是一种非常快捷、省时、省试剂和无污染的消化方式。通过对校准物质贻贝中的铜、锌、铁的测定结果证明微波消化方式比传统的消化方式优点多。 相似文献
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焦距法测试自聚焦透镜折射率分布常数 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了一种测量自聚焦透镜折射率分布常数的方法─—焦距法,并进行了原理公式推导,和精度分析,其测量不确定度为±1×10 ̄(-3);其次,简要地介绍了实验方法。实验结果证明了焦距法是测量自聚焦透镜折射率分布常数的简单实用的方法,它具有装置简单、数据处理也不复杂的特点,是一种非破坏性的测试方法。 相似文献
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为了计算微波器件的微放电阈值,提出了一种快速单粒子蒙特卡罗方法.该方法对二次电子出射能量、出射角度和相位等参数进行随机处理,结合四阶龙格库塔法和Furman模型模拟了电子运动和二次电子发射系数,并以多次连续碰撞的二次电子发射系数的算数平均值作为微放电效应发生的判据.以平板传输线横电磁模式为研究对象,分别采用快速单粒子蒙特卡罗方法、统计模型、传统蒙特卡罗方法以及粒子模拟方法计算其微放电阈值和敏感区域.计算结果表明,该方法不仅具有与统计模型和粒子模拟方法相当的计算精度,而且比统计模型方法的适应性更强,比传统蒙特卡罗方法的稳定性更好,比粒子模拟方法的计算效率高几十倍以上. 相似文献