导电胶粘接片式元件接触电阻可靠性研究

为验证导电胶粘接片式元件接触电阻可靠性,制备自动粘接和人工粘接样品,以高温老化、环境试验、机械试验作为考核条件,研究了导电胶粘接片式元件接触电阻可靠性。研究结果表明,采用自动粘接工艺的导电胶接触电阻在考核前后的一致性优于人工粘接工艺。经过168 h/125℃和1 000 h/125℃老化后,自动粘接与人工粘接工艺的导电胶接触电阻分别增加约5%和20%;经过环境试验及机械试验后,自动粘接工艺导电胶接触电阻增加20%左右,人工粘接工艺导电胶接触电阻增加30%左右。     

新一代导电胶材料接触电阻稳定性研究

文中主要针对环保型集成电路封装中替代SMT焊料的新一代导电胶进行了介绍,重点研究了导电胶材料在封装应用中接触电阻稳定性方面的问题,对于填充金属的导电胶,分析了其老化过程中接触电阻稳定性的问题,提出了影响其接触电阻稳定性的物理机制,并通过实验方法加以分析和讨论。     

导电胶粘接元件接触电阻的稳定性研究

为解决导电胶粘接元件接触电阻不稳定的问题,研究了在温度及压力应力条件下,导电胶在不同界面的导电性和体电阻率的变化情况,分析了导电胶接触电阻不稳定的机理。试验结果表明,导电胶粘接片式元件的接触电阻的稳定性不仅与工艺加工过程有关,而且与元件端头金属基材表面金属化层的电极电动势密切相关;采用Ag基或Au基端头元件时,其导电胶粘接元件的接触电阻在粘接装配工艺过程中是最稳定的。     

微波多芯片组件中微量导电胶分配技术探讨

文章首先介绍了微波多芯片组件两种常见的封装结构形式及导电胶自动分配技术需求,并对接触式和无接触式导电胶点胶技术进行了论述,分析了它们各自的优缺点并对各项点胶参数进行了对比。然后,阐述了计量管式接触点胶技术以及需要研究的针头漏胶、点胶间隙确定以及基板表面状态对胶滴的影响三方面内容。紧接着阐述喷射式非接触点胶技术以及需要研究的空气阻力造成的胶滴飞溅问题。最后,提出计量管式接触点胶技术最适合腔体结构微波多芯片组件自动点胶。     

微波器件用导电胶变色机理及其对接触电阻的影响

针对导电胶变色的现象,分析了变色导电胶的外观、微观结构及成分,研究了导电胶变色现象对接触电阻的影响。找出了导电胶变色的原因,导电胶固化后裸露在环氧树脂表面的银粒子被硫化生成黑色的硫化银所致,且随着硫化银的增多颜色由浅变深。试验结果表明导电胶变色现象对接触电阻无影响。     

微电子封装用导电胶的研究进展

介绍了导电胶的组成、分类及与传统锡-铅焊料相比导电胶的优点。阐述了导电胶的导电机理、失效机理以及国内外的研究现状。     

微波芯片元件的导电胶粘接工艺与应用

导电胶常用于微波组件的组装过程,其粘接强度、导电、导热和韧性等性能指标严重影响其应用范围.分析了导电胶的国内外情况和主要性能参数,总结了混合微电路对导电胶应用的指标要求.通过微波芯片元件粘接工艺过程,分析了导电胶的固化工艺与粘接强度和玻璃化转变温度的关系、胶层厚度与热阻的关系、胶点位置和大小与粘片位置控制等方面的影响关系.测试结果显示,经导电胶粘接的芯片元件的电性能和粘接强度等指标均满足设计和使用要求,产品具有较好的可靠性和一致性.     

温差电器件接触电阻和接触热阻的测试及分析

接触电阻和接触热阻是影响温差电器件性能的两个重要的工艺参数，直接反映器件制造的工艺水平。因此，对器件的接触电阻和接触热阻进行测试分析，将能够定量地了解现行工艺对器件温差电性能的影响程度。本文首先介绍接触电阻的测试方法和实验结果，然后利用所测的数据，再通过对器件输出功率特性的测试，间接地导出器件的接触热阻。据笔者所知，这是温差电器件接触热阻实测数值的首次报道。     

国外微电子组装用导电胶的研究进展

介绍导电胶的组成、分类、较之于传统共晶锡铅焊料的优点以及导电胶的研究现状。重点阐述国外在导电胶导电机理研究、可靠性研究及新型高性能导电胶研制方面的现状和进展。     

各向异性导电胶粘结工艺技术研究

分析了影响各向异性导电胶粘结可靠性的各因素,通过正交实验优化工艺参数,并在150℃高温贮存以及-65℃～150℃温度循环后对导电胶的剪切强度和接触电阻进行了可靠性实验。结果表明:影响ACA可靠性的主要因素导电粒子体积比例为15%,粘结温度200℃,时间10s,粘结压力为39.2N时,导电胶的剪切强度为286.2N,凸点的接触电阻为35mΩ。在可靠性试验后,导电胶的剪切强度满足GJB548B-2005的要求,接触电阻变化率小于5%。     

倒装芯片封装材料-各向异性导电胶的研究进展

介绍了两种新型各向异性导电胶ACA(Anisotropic Conductive Adhesive)结构,分析了邦定压力和导电颗粒特性对常用ACA互连接触电阻的影响,综合叙述了环境因素、邦定参数、误对准、凸点高度等对ACA互连可靠性影响的研究进展.     

多芯片组件功率芯片粘接失效分析及工艺改进

在微波多芯片组件中,VDMOS功率芯片常见的组装模式为粘接或焊接。导电胶粘接芯片虽具有操作简单、工艺温度低和便于返修的优点,但芯片的流片过程中易引入污染,在水、氧气条件下与背金电镀Ni层、导电胶Ag粉发生电化学腐蚀,导致接触电阻增大的失效现象。经试验分析发现,芯片背面污染无有效的去除方法,为避免污染物对电性能的影响,将粘接改为焊接后粘接,即芯片先焊接到钼铜载体上,检查钎透率合格后再用导电胶粘接到基板上,芯片漏极背金层熔解到焊料中形成稳定的冶金结合,原有污染界面将不复存在,可有效提升芯片连接的可靠性。     

三维多芯片组件

三维多芯片组件系统集成技术具有组装密度、组装效率及性能更高,系统功能更多等优点,是实现电子装备系统集成的有效途径及关键技术。介绍了３ＤＭＣＭ主要结构（埋置型、有源基板型及叠层型）的特点,并对一些应用实例作了说明。     

高温超导多芯片组件

超导多芯片组件被誉为继高温超导之后 ,超导研究最大的技术革命。采用超导材料作互连线 ,是解决芯片间互连瓶颈的有效技术途径。它可保证电子系统进一步高速化、小型化和宽带化。本文阐述了高温超导 MCM的研究现状、存在的问题及其发展前景。     

低成本多芯片组件

低成本多芯片组件同样具有高性能,是推进ＭＣＭ向工业和民用电子产品应用的重要技术基础。分析了影响ＭＣＭ成本的因素,介绍了国外低成本多芯片组件的现状及应用。     

接触电阻对传感器采样影响分析

本文分析了在工程应用中多余物对产品可靠性的影响,同时解释了该现象产生的原因;说明了一种多余物引入导致电子产品在特殊条件下发生故障的方式。     

简述影响继电器接触电阻的因素

对继电器接触电阻的影响因素有着众多的可能因素,但是最为主要和突出的因素包括:触点材质、触点接触压力、触点形状和接触形式等。