直读光谱法快速测定无锡薄钢板铬层镀铬量

本文提出了直读光谱仪测定无锡薄钢板铬层铬量的新方法。通过选用基体元素的内标元素，引入Ｉｄ／Ｉ０×１００％来判断原板痕量铬对实验结果的影响程度，选择合适条件，解决了薄板易击穿，确保不同铬量无锡薄板的内标元素光强直稳定性等技术关键，采用比色法制作一套不同镀铬量的标准无镀锡薄板，绘制校准曲线，方法精度ＲＳＤ小于３．０％，准确度为１５０±５ｍｇ／ｍ＾２与经典方法比较该法操作简单，分析速度快。     

光电直读光谱仪同时测定金属铝中15个元素

本文研究了用光电直读光谱法同时测定金属铝中１５个元素的方法,对光源及测定条件进行了最佳选择,具有测定时间短,灵敏度、准确度高等优点。含量在０．１－１％之间,ＲＳＤ〈３％含量在０．００１－０．１％之间,ＲＳＤ〈６％;含量〈０．００１％,ＲＳＤ〈１４％,经与化学法比对,结果十分吻合。     

微波溶样—ICP／MS法测定稻中15种痕量稀土元素

本文报道采用ＨＮＯ３＋Ｈ２Ｏ２微波溶样，ＩＣＰ－ＭＳ直接测定稻中１５种稀土元素，对微波溶样和等离子体质谱测定条件进行了优化选择。选用Ｒｅ作内标可补偿基体效应。方法检出限为７．０－２５．８ｐｇ／ｍＬ，稻壳加标回收率为９５－１０５％，ＲＳＤ为２．３－４．２％，方法快速、灵敏、准确。     

ICP－AES法同时测定磷铁中的主含量元素和杂质

本文研究用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定磷铁的主含量元素Ｐ和杂质元素Ｓｉ、Ｍｎ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ的方法。采用碱熔酸化分解试样，选Ｂ为测Ｐ的内标元素，回收率为９６％－１０２％，最大相对标准偏差为８．６０％，大多数结果的相对标准偏差小于５％。     

金属铝中杂质元素的测定及其基体影响的研讨

提出了一种能同时测定金属铝中杂质元素Ｃｕ＇Ｍｎ，Ｍｇ，Ｚｎ，Ｃｒ，Ｎｉ，Ｖ，Ｔｉ，Ｆｅ，Ｓ的ＩＣＰ－ＡＥＳ分析方法，实验考察了金属铝基体，共存元素、不同溶剂等因素驿分析元素测试结果的影响，选择了仪器最佳工作条件。结果表明，当金属铝基体的纯度为９６．００％－９９．９０％时，分析元素的回收率在９５－１０５．０５之间。相对标准偏差ＲＳＤ均小于０．５％。在金属铝进出口商品检验中已获得满意的结果。     

ICP-AES法测定KDP晶体及其培养液中的微量元素

用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定ＫＤＰ晶体及其培养液中微量的Ｆｅ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｃａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｒ、Ｂａ，并对ＫＤＰ基体对被测元素谱线强度的影响进行考察。以Ｓｃ作内标，方法简便，可获得满意的分析结果。     

电火花-直读光谱法测定纯铝薄板中的Fe、Si、Cu、Mn、Mg、Ti、Zn

本文选用加电感低能放电火花光源，解决了纯铝薄板易击穿的难题，优化了激发条件，并研究了表面氧化层和光洁度对测定结果的影响，建立了一套直接测定厚度０．２０ｍｍ以上纯铝薄板中各元素的分析方法。考核及对照分析实验表明，各元素的ＲＳＤ及相对偏差良好。     

铝合金中十种微量元素的光谱分析

本文叙述的方法是将固体铝合金样品在车床或铣床上加工成平面，然后以选好的仪器测量条件，用铝元素做内标，按照自编分析程序在ＭＢＳ火花台上氩气气氛中激发，进行火花－原子发射光谱法测定。此方法快速、简便，标准样品所得分析结果基本与标称值吻合，３次测定结果相对偏差≤２０％。在重复性实验中，不同时间内测定同一样品１０次，１０个被测元素结果的相对标准偏差ＲＳＤ≤１０％。     

固态检测器－ICP－AES中的计算机差谱改进技术──Ⅰ．原理和实验

本文使用固态检测器－光电二极管阵列（ＰＤＡ）或电荷耦合器件（ＣＣＤ）在ＩＣＰ－ＡＥＳ上实现了无需知道基体浓度情况下对复杂组分中微量元素进行测定的计算机差谱改进法。用Ｃ语言编写了实施差谱技术以及实验室例行分析的软件，探讨了方法的原理，对Ｖ基体中Ａｌ，Ａｌ和Ｍｇ基体中Ｖ的测定结果表明，该差谱技术能准确消除复杂基体产生的光谱干扰。     

X射线荧光光谱法测定硅酸盐中硫等20个主、次、痕量元素

本文使用新研制的偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂，在１０００℃熔融制样，以Ｘ射线荧光光谱法测定硅酸盐等样品中的Ｓ，Ｎａ，Ｍｇ，Ａｌ，Ｓｉ，Ｐ，Ｋ，Ｃａ，Ｔｉ，Ｍｎ，Ｆｅ，Ｂａ，Ｃｒ，Ｖ，Ｓｒ，Ｚｒ，Ｒｂ，Ｃｕ，Ｎｉ和Ｎｂ等２０种元素，采用理论α系数和康普顿散射线作内标校正元素间的吸收－增强效应。其分析结果的精密度和准确度可与化学法相比     

内标—脉冲雾化ICP—AES测定微量体液中的Ca,Mg,Fe,Zn,P,Mn,C…

采用内标－脉冲才化进样法，建立了微量何不认的ＩＣＰ－ＡＥＳ分析方法。对内标的选择，分析信号与增样量的关系和分析标准曲线等方面进行了研究，测定了微量体液样品中的Ｃａ，Ｍｇ，Ｆｅ，Ｚｎ，Ｐ，Ｍｎ，Ｃｕ，Ｐｂ，Ｓｒ等元素的含量，获得了较满意的结果。     

内标－脉冲雾化ICP－AES测定微量体液中的Ca、Mg、Fe、Zn、P、Mn、Cu、Pb、Sr

采用内标－脉冲雾化进样法，建立了微量体液的ＩＣＰ－ＡＥＳ分析方法。对内标的选择，分析信号与进样量的关系和分析标准曲线等方面进行了研究，测定了微量体液样品中的Ｃａ、Ｍｇ、Ｆｅ、Ｚｎ、Ｐ、Ｍｎ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｒ等元素的含量，获得了较满意的结果。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铈中11个稀土杂质的研究

报道了用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯氧化铈１１个痕量稀土杂质的方法。分析讨论了氧化铈对测定元素所产生的谱干扰和基体效应，考察了Ｔｌ，Ｇａ，Ｃｓ，Ｉｎ等内标补偿基本抑制效应的作用，用此方法测定１１个稀土杂质的检出限为０．０１７－０．４０ｎｇ／ｍＬ，精密度（ＲＳＤ）为２．６％－８．２％，加标回收率为９６．７％－１０７．９％，分析时，不需要预分离和富集，酸溶后可以直接测定。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化镧中稀土杂质的研究

本文报道了用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯氧化镧中１２个痕量稀土杂质的方法。分析讨论了测定中的种种谱干扰和基体效应，研究了用Ｔｌ，Ｃｓ，Ｉ作内标补补基体抑制效应和灵敏度漂移。单个稀土元素的检出奶为０．０１－００．２６ｎｇ／ｍＬ，回收率为９１．２５－１０８．５％。精密度（ＲＳＤ）为２．８％－６．８５。本方法酸溶样品后可以直接测定，不需要预富集和分离。     

ICP—AES法同时测定硼铁中的主要成分及杂质

本文研究了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定硼铁中的主要成分Ｂ、Ｆｅ及杂质元素、Ａｌ、Ｍｎ，Ｓｉ的方法。采用碱熔融法分解样品，选Ｃｄ作为内标元素。     

硫化镉胶体体系光反应产生的自由基的研究

本文作者制备了硫化镉的十二烷基磺酸钠胶体，测定了其ＵＶ－Ｖｉｓ吸收光谱和荧光发射光谱，用自旋捕捉－ＥＳＲ技术研究了一些无机盐，有机盐和几种有机物分别在ＣｄＳ／ＳＤＳ胶体系中的光反应产生的活泼自由基。     

GaAs衬底上Ga In1—xP膜的电子探针X射线波谱分析

本文用波长色散型电子探针对ＧａＡｓ衬底上ＧａｘＩｎ１－ｘＰ混晶膜的元素组分进行了分析，为用ＳＥＭ－ＷＤＳ测定该类混晶膜材料作了一次试验。     

ICP—AES法测定“中华多宝”等各类营养口服液中多种元素的方法研究

本文应用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定“中华多宝”等各类营养口服液中多种元素，方法简便，快速，只需将样品用配制成１％ＨＣｌ的去离子水稀释，摇匀后即可测定。测定中，选用仪器最佳折衷条件，并采用干扰等效浓度消除光谱干扰。方法的回收率在９５－１０％，ＲＳＤ为５％。     

ICP－AES法测定“中华多宝”等各类营养口服液中多种元素的方法研究

本文应用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定“中华多宝”等各类营养口服液中多种元素。方法简便，快速，只需将样品用配制成１％ＨＣｌ的去离子水稀释，摇匀后即可测定。测定中，选用仪器最佳折衷条件，并采用干扰等效浓度消除光谱干扰。方法的回收率在９５％－１０５％，ＲＳＤ为５％。     

化学光谱法测定U3Si2中17种杂质元素

本文介绍化学光谱法测定Ｕ３Ｓｉ２中１７种杂质元素，用ＴＢＰ作固定相，采用柱上萃取色层法分离铀与杂质元素，铯为外加素体，铟为内标。平均回收率在８８％－１１５％之间，相对标准偏差优于１３％。