J/ψ辐射衰变产物自旋宇称分析的实验方法

利用蒙特卡罗数据研究、讨论了J/ψ辐射衰变产生物自旋宇称的测定方法.作为一个例子,引用了J/ψ→γθ(1720),θ(1720)→K⁺K^－过程的计算结果,并对该方法的适用范围进行了探讨.     

用推广的矩分析方法确定过程J/ψ→V1,X→V2+V3中粒子X的自旋-宇称

本文用推广的矩分析方法对J/ψ的强衰变过程J/ψ→V₁,X→V₂+V₃,V₂、V₃→2P或3P(其中V_i代表有质量的矢量粒子,P代表赝标介子)进行了讨论.对于具有不同自旋和宇称的中间态X,给出了相应的矩的表达式.在非相对论情况下,计算了过程X→V₂+V₃的螺旋度振幅值.通过比较部分矩的理论值和实验值,可以确定中间态粒子X的自旋、宇称和所处的分波态.     

双辐射衰变J/ψ→γγV的角分布和推广的矩分析

本文讨论了J/ψ双辐射衰过程J/ψ→γ+X,X→γ+V,V→2P(或3P).对于具有不同自旋-宇称J^P的中间态X,给出了相应的角分布螺旋度形式以及由推广的矩分析方法得到的各种矩的表达式.这些公式对于确定中间态X的自旋是有帮助的.     

J/ψ强子衰变过程的角分布螺旋度形式

本文给出了e⁺e^－→J/ψ→V+X,V→P₁P₂和e⁺e^－→J/ψ→V+X,X→P₄P₅过程的角分布螺旋度形式.为e⁺e^－实验数据分析提供了理论公式.     

测定J/ψ辐射衰变产物自旋宇称方法的灵敏区研究

当J/ψ辐射衰变产物X是两个赝标介子的束缚态时,螺旋性振幅理论给出了它的角分布W_J.我们注意到.用这个角分布来确定X的自旋宇称存在着不灵敏区.本文对不灵敏区问题作了进一步研究.结果表明:1)确实存在着不灵敏区; 2)θ(1720)的自旋宇称是2⁺还是0⁺尚不能最后肯定; 3)窄峰ξ(2230)如果存在的话,可以排除其自旋宇称是0⁺的可能性.     

在J/ψ衰变过程J/ψ→ρρπ中寻找1~(-+)奇特态

利用推广的矩分析和双态耦合处理方法,给出了双态耦合情况下J／ψ衰变过程J／ψ→ρρπ的矩表达式,为在J／ψ衰变过程中寻找并确定1-+奇特态的性质提供了一种可能的途径．     

北京谱仪上的J/ψ物理

利用BES上取得的9.0×10⁶ J/ψ数据,进行了系统的J/物理分析.证实了ξ(2230)的存在,并首次发现ξ(2230)的非奇异衰变模式.测量了f₀(980)、f₂(1270)的共振参数和极化.对J/ψ→K⁺K^－过程短分析的结果表明f_J(1710)是含有0⁺⁺和2⁺⁺两个态的宽结构.采用分波法测定了η(1440)、f₀(1500)的自旋宇称,得到它们的主要衰变模式.     

BEPC上的J/ψ物理和推广的矩分析

北京正负电子对撞机(BEPC)和北京谱仪(BES)至1990年8月份已获取3×10⁶J/ψ事例并作了初步分析,预计1991年将可得到1—2×10⁷J/ψ事例.本文评述了J/ψ衰变中可能出现的新强子态,以及用推广的矩分析讨论了如何确定这些新强子态的自旋-宇称.     

J/ψ衰变过程的矩分析和两种坐标系的比较

讨论了实验室坐标系和螺旋度坐标系中不极化电子-正电子对撞产生J/ψ粒子的密度矩阵,指出,产生的J/ψ粒子只有螺旋度±1的分量对过程有贡献的结论是有条件的,且仅适用于实验室坐标系;在两种坐标系中应用矩分析方法时,将得到相同数目的矩,而且矩的表达式之间存在一个十分简单的关系式.     

J/ψ辐射衰变中θ(1720)宽共振峰的矩分析

本文用矩分析法对J/ψ辐射衰变产生的θ(1720)宽共振峰的结构进行了研究.由于f'₂(1525)和θ(1720)二共振峰有重迭,为此我们讨论了2⁺⁺(f'₂(1525))+0⁺⁺+0⁺⁺和2⁺⁺(f'₂(1525))+0⁺⁺+2⁺⁺二种三态耦合结构模式,这对于弄清θ(1720)这个宽共振峰的结构,确定可能包含在其中的二个共振态,例如G(1590)和f₂(1720)的质量、宽度、自旋以及其它重要性质,进一步认识这二个令人关注的共振态是有帮助的.     

J/ψ三级二体衰变过程中产生的玻色共振态的研究

利用推广的矩分析方法讨论了J/ψ的三级二体衰变过程,J/ψ→V+X,X→P1+Y,Y→P2+P3.除非常特殊的情形外,玻色共振态X的自旋,宇称以及螺旋度振幅之比的值可以通过测量相应的矩而确定.     

ψ辐射衰变的角分布

J/ψ和ψ′粒子辐射衰变到介子的过程是寻找胶球,混杂态,抽取gg-qq耦合的极佳场所.北京正负电子对撞机(BEPC)已经积累了大量的J/ψ和ψ′事例,即将改进升级的BEPC及美国的CLEO-c还将获取更多的事例.这里首先利用协变张量方法提供了该类过程的角分布公式,然后利用螺旋度方法给出了ψ辐射衰变到两个赝标介子的角分布公式,以此为例讨论了螺旋度方法和协变张量方法的关系.     

在J/ψ衰变过程J/ψ→ρρπ中寻找1－+奇特态

利用推广的矩分析和双态耦合处理方法,给出了双态耦合情况下J/ψ衰变过程J/ψ→ρρπ的矩表达式,为在J/ψ衰变过程中寻找并确定1^－+奇特态的性质提供了一种可能的途径.     

J/ψ衰变中的ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ0产生

利用北京正负电子对撞机(BEPC)上的北京谱仪(BES)收集的7.8×10⁶个J/ψ事例,测量得到J/ψ→ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ⁰三个衰变道的分支比分别为Br(J/ψ→ΛΛ)=(l.08±0.06±0.24)×10^－3,Br(J/ψ→ΛΛγ)－4(90% CL),和Br(J/ψ→ΛΛπ⁰)=(2.3±0.7±0.8)×l0^－4; 第一个衰变道的角分布为dN dcosθ=N₀(1+αcos²0),α=0.52±0.33±0.13.     

J／ψ粒子的发现

本文回顾了Ｊ／ψ粒子的发现过程，分析了这项发现对粒子物理学发展的重大意义，并对发现Ｊ粒子的产生实验、发现ψ粒子的形成实验及发现γ粒子的实验进行了简要的评述．     

在J/ψ衰变中寻找新物理

北京谱仪(BES)已收集了2.5×10⁷个J/ψ事例,并计划增加到10⁸—10⁹个.本文综述近年来在BES上寻找新物理的研究,包括在J/ψ衰变过程中探测新的味改变中性流,CP破坏和轻子味破坏.     

J/ψ强子衰变产生的θ(1720)宽共振峰的研究

用推广的矩分析法对J/ψ强子衰变产生的θ(1720)宽共振峰的结构进行了研究.对于J/ψ→ωθ(1720)过程,由于f'₂(1525)的产生率极低,可不必考虑f'₂(1525)的混入.而对于J/ψ→φθ(1720)过程,由于f'₂(1525)有相当的产生率,所以要考虑f'₂(1525)的影响.对这两种过程,加上J/ψ辐射衰变产生θ(1720)过程的研究,将会对θ(1720)共振峰的结构有更好的了解.     

J/ψ→V1+X,X→γ+V2中玻色共振态X的自旋和宇称的确定

给出了过程J/ψ→V₁+X,X→γ+V₂,V₂→2P或3P(V₁和V₂代表矢量介子,P代表赝标价介子)的角分布公式.从而可以区分玻色共振态X的自旋,并在一定条件下确定它的空间宇称.     

J/ψ辐射衰变过程中产生的ξ(2230)的研究

用推广的矩分析方法研究了过程e⁺e^－→J/ψ→γ+X, X→pp, 得到了该过程的矩的表达式, 并用于确定衰变到pp的共振态X的自旋; 还给出了用矩关系式表示的过程的螺旋度振幅比.