中性top-pion的产生和衰变

研究了顶色辅助的人工色(TC2?)理论预言的中性top-pion π0t的产生和衰变.结果表明:在高能正负电子对撞(LC)实验中,通过e⁺e^－→γπ0t和e⁺e^－→Z π0t过程可以产生大量的π0t粒子,通过e⁺e^－→γπ0t→γtc和e⁺e^－→π0tZ→tcZ过程可以探测中性top-pion π0t?的可能物理迹象.     

D介子稀有衰变研究

利用工作在北京正负电子对撞机(BEPC)上的北京谱仪(BES)收集到的33pb^－1的Ψ(3770)数据,寻找D介子味道改变中性流(FCNC)和轻子数不守恒(LNV)的稀有衰变, 包括4个D⁰介子的衰变模式(K⁰e⁺e^－,Φe⁺e^－,ρ⁰e⁺e^－和K^*0e⁺e^－)和6个D⁺介子的衰变模式(K^－e⁺e⁺,K⁺e⁺e^－,π^－e⁺e⁺, π⁺e⁺e^－,K^*－e⁺e⁺和K^*+e⁺e^－). 没有发现信号,给出90%置信水平的上限. 其中, D⁺介子的两个衰变模式D⁺→K^*－e⁺e⁺和D⁺→K^*+e⁺e^－的上限是首次测量.     

在高能e+e－对撞机上探测top-Higgs的可能性

计算了top-Higgsh0t对过程e⁺e^－→tc νeνe,e⁺e^－→γ(Z)tc的贡献,并进一步讨论了在高能线性e⁺e^－对撞机(LC)上探测此粒子的可能性.结果表明:h0t对过程e⁺e^－→tc νeνe的贡献很大,通过此过程可在LC实验中探测top-Higgs;另外e⁺e^－→γtc也是探测h0t的有效过程.     

在LEPⅡ及NLC能量下e+e—→bb Z0 和 tt－Z0过程中Higgs粒子的观测效应

根据最小标准模型及双Higgs二重态的扩展标准模型理论,计算了LEPⅡ以及NLC能量下e⁺e^—→bb Z⁰ 和 tt－Z⁰的总截面和微分截面以探求Higgs粒子的观测效应.我们发现,只要Higgs粒子的质量M_H≤140GeV,对e⁺e^—→bb Z⁰的测量就能清楚地提供Higgs粒子的信息.然而对e⁺e^—→tt－Z⁰,不论Higgs粒子是轻或重,它的效应都被淹没在弱电过程的本底中,没有观测的可能.     

τ衰变中米歇尔(Michel)参数的测量

分析北京谱仪(BES)收集的4.03GeV质心系能量下e⁺e^－对撞数据,选出e⁺e^－→τ^±τ⁺→e^±X⁺v′S事例,X^±可以为μ^±,τ^±,ρ^±,拟合τ→ev′s中电子的能谱,得到τ→ev′s中Michel参数为ρ_τ→e=0.705,此结果与标准模型的预言相符合.     

e+e－→τ+τ－,τ－→a1υτ,a1→ρπ过程的角分布和a1介子的性质

给出了过程e⁺e^－→τ⁺τ^－,τ^－→a₁υ_τ,a₁→ρπ的密度矩阵和角分布的螺旋度形式.通过分段拟合把相应于W-a₁跃迁和强作用顶点a₁ρπ形状因子的螺旋度振幅比确定下来,给出了一个确定宽共振态a₁质量和宽度而与模型无关的方法.     

TC2理论在LC实验中的可能物理迹象

在高能e⁺e^－碰撞实验(LC)中，研究了顶色辅助的人工色(TC2)理论所预言的中性top介子 的产生. 结果表明，在LC实验中通过过程e⁺e^－→tc, e⁺e^－→γtc和e⁺e^－→Ztc可以探测到πt0的物理迹象.     

基于高精度理论截面计算的τ质量的再拟合

对于e⁺e^－→τ⁺τ^－过程在阈值附近的截面, 目前的理论计算精度已经达到10^－4. 基于理论截面的高精度计算, 利用极大似然函数方法, 重新拟合由e μ末态标记的τ⁺τ^－事例的扫描数据, 得到τ质量的测量结果为1776.98+0.44+0.12－0.51－0.13MeV, 其中第一项是统计误差, 由拟合程序给出; 第二项是系统误差, 主要包含能量刻度, 能散及本底估计等三方面的不确定性.     

τ±→π±+nπ0+ντ(n=0,1,2)衰变分支比测量

基于北京谱仪收集的4.03GeV质心系能量下e⁺e^－对撞数据,分析τ^±τ^±→e^±+π^±+nπ⁰+ν's(n=0,1,2)事例,给出分支比值Br(τ^±→π^±ν_τ)=(11.64±0.49^+0.76_－0.73%,Br(τ^±→π^±π⁰ν_τ)=(24.00±1.34^+1.36_－1.30%,Br(τ^±→π^±2π⁰ν_τ)=(9.39±1.68^+1.69_－1.66%.     

ρ0,ω介子正负电子对衰变中的ρ0-ω混合效应

本文提出了ρ⁰-ω介子混合的一个可能形式,由(ρ⁰,ω)→π⁺π^－衰变定出其耦合常数,并计算了它对ρ⁰,ω介子正负电子对衰变率的影响,结果表明其混合效应对ρ⁰→e⁺e^－增加9.4%,而对ω→e⁺e^－则减少2.6%.     

中性和带D介子单举半轻子(电子)衰变分支比的测量

利用北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)e⁺e^－对撞质心系能量为4.03GeV处收集的积分亮度为22.3pb^－1的数据,测量了带电及中性D介子的单举半轻子(电子)衰变的分支比.分析中采用了“联合D⁰和D⁺单双标记”的方法,测得D^－和D⁰单举半轻子(电子)衰变的分支比分别为BF(D^－→e^－X)=(21.8±8.5±4.2)%,BF(D⁰→e^－X)=(8.9±3.0±1.6)%,其相对比值为BF(D^－→e^－X)BF(D⁰→e^－X)=2.4±1.7±0.8.     

L3实验单W产生截面及反常耦合常数的测量

使用1996和1997年在L3探测器上获得的数据,对单W粒子产生过程e⁺e^－→e^－ν_eW⁺和e⁺e^－→e⁺νe W^－的反应截面做出了测量,并根据测量结果给出WWγ三玻色子耦合的反常耦合常数为:－0.65<△κ_γ,<0.82,－1.37<λ_γ<0.92.实验结果在误差范围内是与标准模型的理论值一致的,没有发现反常耦合常数存在的迹象.     

J/ψ共振参数的测定

利用北京正负电子对撞机(BEPC)和北京谱仪(BES),测量了e+e－对撞束在J/ψ共振峰附近能区内末态为强子、e⁺e^－和μ⁺μ^－的实验观测截面,对这些截面的拟合得到J/ψ衰变宽度和分支比的新的实验测定值:Γ=84.4±8.9keV,Γh =74.1±8.1keV,Γe=5.14±0.39keV,Γμ=5.13±0.52keV, /=(87.8±0.5)%,Γe/Γ=(6.09±0.33)%,Γh/Γ=(6.08±0.33)%.     

ψ(2S)的τ轻子对衰变研究

首次分析了ψ(2S)→τ⁺τ^－衰变道,给出其分支比测量结果.分析基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所获取的1.27×10⁶事例,得到分支比值为(3.54±0.61±0.63)×10^－3.此值与粒子表给出的ψ(2S)其它轻子道分支比值比较,符合e-μ-τ普适性假设.利用这些数据,还计算得到ψ(2S)衰变的总宽度Γ_tot=251±37keV.     

τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法

北京谱仪(BES)合作组通过τ→eνν衰变的电子能谱测定Michel参数,本文利用BES在质心系能量4,03GeV处获取的e⁺e^－对撞数据,通过BES给出的带电粒子dE/dx、β、E/p测定值及其适当组合,实现了电子的有效识别.     

e+e－→π+π－π+π－形状因子拟合

基于BABAR实验组对e⁺e^－→π⁺π^－π⁺π^－的反应截面的测量结果, 用VMD模型给出的理论截面拟合实验数据, 首次从单一反应道得到π⁺π^－π⁺π^－末态形状因子的所有参数值.     

J/ψ衰变中f0(975)的实验研究

本文基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所收集到的国家自然科学基金资助.7.8×10⁶J/ψ事例,系统研究了J/ψ→φπ⁺π^－和J/ψ→ωπ⁺π^－两个衰变道,给出了过程的分支比以及f₀的位置和宽度参数,并对J/ψ→φf₀,f₀→π⁺π^－过程的角分布进行了拟合,首次确定出该过程的螺旋度振幅比.     

用联合D0和D+单双标记测定分支比的方法

报道了用“联合D⁰和D⁺单双标记”测定衰变分支比的方法.基于北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)质心系能量s=4.03GeV处获取的数据,利用联合D⁰和D⁺单双标记的方法,可以测定D⁰和D⁺介子单举和遍举衰变分支比.作为该方法的应用举例,利用BES实验组发表的数据,在90%置信度的情况下,测得D⁺→e⁺ν衰变过程分支比的上限为Br(D+→e⁺ν)<1.6%.此上限值与BES曾发表的结果一致.     

由ψ(2S)→π+π－J/ψ道测量J/ψ轻子道衰变分支比

利用北京谱仪(BES)上取得的ψ(2S)数据,对ψ(2S)→π⁺π^－J/ψ,J/ψ→1⁺1^－和J/ψ→任意末态两个过程进行了细致的研究,得到J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→e⁺e^－)=(5.90±0.07±0.16)%和B(J/ψ→μ⁺μ^－)=(5.96±0.08±0.16)%,由此给出Be/Bμ的值为0.990±0.018±0.024.假定Be=Bμ,J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→1⁺1^－)=(5.93±0.05±0.16)%.上述结果可用来估计强相互作用耦合常数αs和QCD减除参数∧.     

神经元网络在τ→ρVτ极化分析中的应用

在LEP/L3的τ→ρV_τ极化物理分析中,用人工神经元网络法选择事例,获得了比较高的选择效率.详细研究表明,网络本身不会引入明显的系统偏差.使用在Z⁰能区采集到的8977个τ⁺τ^－对事例,得到τ→ρVτ道的极化率P_τ=－0.129±0.050±0.050.本文介绍在这一工作中使用的神经网络训练方法和技巧.