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KDP晶体中包裹体形成机制的探讨 总被引:8,自引:8,他引:0
本文介绍了包裹体对KDP晶体质量的影响,并从两个方面探讨了KDP晶体生长过程中包裹体的形成机制.通过分析KDP晶体表面原子结构研究了不同杂质的吸附情况以及杂质对生长台阶的阻碍作用,通过分析晶体生长过程中流体动力学和质量输运条件的变化研究了旋转晶体的流体切应力和表面过饱和度,结果表明吸附杂质对生长台阶的阻碍和表面过饱和度的不均匀造成了生长台阶的弯曲和宏观台阶的形成,导致生长台阶形貌的不稳定是包裹体形成的重要原因. 相似文献
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通过传统降温法生长了不同EDTA和KCl剂量掺杂的KDP晶体,并观察了晶体的光散射情况,测定了晶体柱区样品的透过率和晶体中Fe、Cr、Cl三种杂质元素的含量,结果表明:低浓度的EDTA(0.01 mol;)和KCl(<1.5 mol;)掺杂可以提高晶体的透过率,但高浓度掺杂(0.01 mol;EDTA, 2.0 mol; KCl)会导致晶体散射严重,透过率降低,KCl浓度达到2.5 mol;后晶体生长受到抑制,晶体缺陷严重;晶体中铁Fe3+、Cr3+的总含量随着掺杂浓度的增加而减少,晶体中并没有发现Cl元素存在. 相似文献
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离子束作用下KDP晶体表面粗糙度研究 总被引:1,自引:0,他引:1
为了避免传统加工过程对KDP( Potassium dihydrogen phosphate)晶体表面产生损伤、嵌入杂质等降低晶体抗激光损伤阈值的不利因素,文章探索采用离子束抛光技术实现KDP晶体的加工.本文主要分析了离子束抛光作用下KDP晶体表面粗糙度的演变过程,采用垂直入射和倾斜45°入射两种方式研究KDP晶体表面粗糙度,利用倾斜45°入射的加工方式提高了KDP晶体的表面质量,其表面均方根粗糙度值由初始的3.07 nm减小到了1.95 nm,实验结果验证了离子束抛光加工KDP晶体的可行性. 相似文献
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本文评述近年来了KDP晶体研究的重要进展,特别是不同种类的杂质对KDP晶体生长的影响及内在机理;综述了杂质对KDP晶体光学性能和力学性能的影响。 相似文献
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X. Sun X.‐G. Xu Z.‐P. Wang Q.‐T. Gu S.‐L. Wang Y.‐P. Li C.‐S. Fang Z.‐S. Gao 《Crystal Research and Technology》2002,37(11):1208-1214
Scatter centers in rapidly grown KDP crystal were detected with Ultra‐microscopy and TEM. The results have been compared with those obtained from traditional technique. In this paper, the difference is shown and a corresponding mechanism is proposed and discussed. 相似文献
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The space group theoretical analyses and assignment of the lattice modes of the KDP crystal have been made, and the Raman spectra of their growth solution have been observed in different growth regions. The attention is focused on the analysis of the 912 cm‐1 band arising from the H2PO4‐ anions in the interface between the KDP crystals and their growth solution. This has been assigned to the asymmetrical stretching mode of the deformation P(OH)2 . From these results, the growth units of KDP crystal has been concluded to be the dimers of H2PO4‐ anions. We consider that the result presented here is an important step towards the development of more complete crystal growth theories. 相似文献
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