X射线荧光光谱分析中的Alpha系数转换

在X射线荧光光谱分析中,目前已普遍使用Alpha系数对基体效应进行数学校正。本文根据等效波长法计算理论Alpha系数的基本公式,导出了Alpha系数的转换公式。应用这些公式可以将消去项不同、熔剂项不同、稀释比项不同的理论Alpha系数(指熔融氧化物系统)。按用户的要求进行转换,可将一张Alpha系数表转换成几张,计算简便,转换Alpha系数应用于分析,结果令人满意。     

标准化α系数在X荧光光谱分析中的应用

通过一系列实验发现：在X荧光光谱分析中，在一定的准确度要求下，调整α系数可以消除因仪器性能变化所带来的影响，该方法简单、快速。     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2002年7月～2004年6月间X射线荧光光谱, 包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用, 内容包括仪器的研制、维护和维修、样品制备技术、 X射线荧光光谱基础研究、谱处理、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱法”学科的第六篇评述，它收集了国内学者１９９４年７月到１９９６年６月期间发表的在国内外刊物上的１４９篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述，内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ射线发射光谱，定量，定性和化学态分析方法，制样技术，以及在各个科学和工业领域中的应用。     

X射线荧光光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。     

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱，包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用，内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。     

X射线荧光光谱分析

本评论收集了1986年7月至1988年6月国内主要分析刊物和会议上发表的373篇文章。评述了在此期间我国X射线荧光光谱分析的概况与进展,内容包括:仪器、数据处理、应用、标准化和标准方法以及分析技术等六个方面。     

X射线荧光光谱分析

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱分析”学科的第五篇评述。它收集了国内学者１９９２年７月到１９９４年６月期间发表在国内外刊物上的１７１篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述。内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ线发射光谱，定量分析方法，制样技术，以及在各个科学烽戒严领域中的应用。     

定量X-射线荧光光谱分析中用于计算理论α系数的计算机程序DRALPHA

在修改后的基本参数法程序NRLXRF基础上本文所研制的计算机程序DRALPHA可用于计算Lachance-Traill或Claisse-Quintin方程中的理论α系数以校正X-射线荧光定量分析中元素间的吸收-增强效应。     

X射线荧光光谱分析综述

x射线荧光光谱分析具有操作简便、准确度高、分析含量范围宽的特点。它在地质、冶金、陶瓷、化工以及科学研究等部门中已成为一种重要的分析手段。近年来x射线荧光光谱仪在稳定性和自动化程度方面都得到了不断地改进,并配备了计算机,加快了分析速度,同时分析范围也在不断地扩大,出现了不少新的分析方法。本文就x射线荧光光谱分析的概况、仪器和分析应用加以综述。     

X射线荧光光光谱分析

评述了我国在2007～2008年X射线荧光光谱,包括质子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、基础研究和分析方法研究及其应用.     

X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量

应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。     

不锈钢中铬的X射线荧光光谱分析

以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法.用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的相对标准偏差约为0.14%.     

铁矿的X射线荧光光谱分析

采用无水四硼酸锂为溶剂,硝酸锂为氧化剂,经高温熔融制成的玻璃熔片,进行进口铁矿的主次元素含量测定。试验结果表明,分析结果经基体校正后与标样值比较,其准确度令人满意,与化学法相比,方法简便快速,精密度高,准确度好。     

磷矿石的 X 射线荧光光谱分析

本文研究了用X射线荧光光谱分析磷矿石的方法。磷矿石样品和四硼酸锂的混合物放在Pt-Au坩埚中熔融,制成玻璃圆片。同时加入氧化剂(硝酸铵)保护Pt-Au坩埚免遭损坏。利用De Jongh公式校正元素之间的影响,并由NBSGSC基本参数法程序计算了磷矿石的理论Alpha系数。样品分析结果是准确的,分析效率大大高于湿法分析,这表明,X射线荧光光谱法可以取代湿法分析磷矿石。     

铁矿石的X射线荧光光谱分析

提出了X射线法测定铁矿中七个元素的常规方法。样品熔融成玻璃片。采用Lucas-Tooth及Pyne数学校正模式,由计算机回归校正曲线。本法准确、快速、简便。所得结果可与常规湿法化学分析结果相比。