波长色散X射线荧光光谱仪和多晶X射线衍射仪联用技术鉴定进口铜矿和含铜物料

首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。     

应用波长色散X荧光仪和多晶X射线衍射仪联用技术 鉴定进口铜矿和含铜物料

本文首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立鉴定方法,采用X荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示：X荧光光谱法铜矿和含铜物料的共同特点铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求,硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出。差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;在X荧光光谱法检测出的金属元素,通过X衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。     

在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份

引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。     

离子吸附型稀土矿床中土壤元素地球化学找矿标志

用中子活化和X射线荧光分析技术研究了我国南方某地花岗岩母质上的风化壳及土壤中28种元素的含量、分布、迁移和富集规律。根据土壤元素的背景值与含矿异常之间在元素含量、共生组合和分布特征等差异,提出利用表层土壤元素的地球化学特征作为离子吸附型稀土矿床的找矿标志,为区域找矿提供了科学依据。     

X射线荧光光谱法半定量和电感耦合等离子体质谱法全定量快速测定花草茶中多种元素

采用粉末压片制备花草茶样片,以X射线荧光光谱无标准样品半定量法对5种花草茶样品进行全元素扫描得出所含元素的种类及含量范围;采用微波消解5种花草茶样品,以电感耦合等离子体质谱法进行多种元素的全定量测定.X射线荧光光谱法(XRFS)可以检出5种花草茶样品中质量分数在1μgg-1以上的所有金属元素和非金属元素,5种花草茶样品...     

黔西南卡林型金矿中超微金的微束分析研究

应用同步辐射X射线荧光分析、电子探针及分析电子显微镜等微束分析技术,成功地研究了我国西南几个卡林型金矿中超微金的赋存状态,对所谓的“不可见”金(5—500nm)直接得到了它们的背散射电子像、透射电子像、元素特征X射线面分布和X射线强度分布曲线、特征X射线能谱图及电子探针定量分析结果。     

钛酸盐纳米管薄膜的合成、结构与性质

在水热条件下, 控制反应温度和氢氧化钠的浓度, 分别采用去离子水和盐酸进行洗涤处理, 在钛金属基底表面合成出含钠元素和不含钠元素的两种钛酸盐纳米管薄膜(TiNTW和TiNTA), 并利用X射线衍射分析、扫描电子显微镜、透射电子显微镜和能量色散X射线光谱等对其结构、组成和性质进行了表征. 结果表明, TiNTW和TiNTA均由宽约8 nm、长约1 μm的纳米管组成, 但TiNTA表现出较好的光催化活性和储氢性能, 而热稳定性弱于TiNTW, 二者在性质上的显著区别归因于2种钛酸盐纳米管薄膜的晶体结构和元素组成的不同.     

STXM研究氧元素在PAN预氧化纤维截面上的分布

采用扫描透射X射线显微镜( STXM),对聚丙烯腈(PAN)预氧化纤维截面进行具有30 nm空间分辨率的元素分布研究,结合将两幅吸收图上对应像素点的光密度相比求解元素分布的双能衬度分析法,获得氧元素在PAN预氧化纤维截面上的分布信息.STXM实验结果表明,氧元素在PAN原丝截面上分布是均匀的;经过预氧化后,PAN纤维皮...     

X-90型荧光光谱仪在无机定性分析中的应用探讨

目前用于金、银、铂饰品检测的 X- 90荧光光谱仪 ,具有检测方法简便、快捷、准确、成本低、无损伤等优点 ,也可利用此仪器的特点 ,扩展测定范围。1　理论依据每一种物质都有其特定的原子结构。样品被某种激发源 (本机为2 4 1Am放射性同位素 )所发射的初级射线激发而自发地发射出其所含元素特征的荧光X射线。每个元素的特征荧光 X射线都具有特定的能量 ,探测这些特征荧光 X射线并识别其能量 ,就能识别出该被测样品中含有哪些主要元素。2　操作步骤按操作规程 ,打开仪器 ,以银、铜块校准峰位 (即谱峰尖顶所对应横座标的位置 ) ;将被测物放入…     

扫描电镜与能谱仪

<正>扫描电镜利用精细聚焦电子束照射在样品表面,该电子束可以是静止或在样品表面作光栅扫描。在这个过程中,电子束与样品相互作用产生各种信号,其中包括二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线和不同能量的光子等,这些信号来自样品中的特定区域,分别利用探测器接收,可以提供样品的各种信息,用于研究材料的微观形貌、晶体学特征和微区化学成分。X射线能谱仪是扫描电镜附带的附件,通过检测从样品出射的特征X射线的波长或能量,测定样品元素的组成、相对含量以及分布。     

微束X射线荧光光谱分析技术在一种黑色纸张物证检验中的应用研究

对7种真假纸币样本和2003年～2008年的32宗诈骗案件中共计225件被染黑的真假纸币物证,采用微束X射线荧光光谱仪(micro-XRF)分析其二维元素分布.结果表明:纸币元素分布特征都具有特定性,相同面额相同年版的纸币元素分布特征相同,相同面额不同年版的纸币元素分布特征有差异;真假纸币元素分布特征存在显著差异;被染黑的纸币元素分布特征与原纸币相同;因而可根据被染黑真假纸币的元素分布特征,鉴定其真伪并判断纸币种类.微束XRF分析在实际案件中黑色纸张物证的检验准确率为100%.因此,微束XRF技术能有效检验被染料染黑的真假纸币,具有灵敏度高,分析过程中不破坏样品,结果准确的特点,在该类物证的检验中具有较高的应用价值.     

半导体硅材料中掺杂元素锗的SRXRF微区分析研究

本文研究了同步辐射Ｘ射线微荧光分析法对半导体材料硅单晶中掺杂元素Ｇｅ的微区分析。利用同步辐射光源的优越性和微区扫描装置获得了清晰的掺杂元素Ｇｅ的二维分布图。实验结果表明，同步辐射Ｘ射线微荧光分析法对样品无导电性要求，可以成为对半导体材料硅单晶样品准确地进行大面积扫描微区测定的手段。对掺杂元素Ｇｅ在硅单晶生长过程中的分布行为和均匀性研究表明，在硅单晶生长的初始阶段由于小平面效应导致了掺杂元素径向分布     

基于同步辐射X射线荧光光谱和X射线吸收近边结构谱研究铅锌矿区浮萍中砷的耐受机制

水生植物浮萍能够富集高浓度的砷,是植物过滤修复技术的代表,其耐受机理备受关注.本研究利用同步辐射X射线荧光光谱(Synchrotron radiation X-ray fluorescence, SRXRF)和X射线吸收近边结构谱(X-ray absorption near edge structure, XANES)技术,开展了铅锌矿区天然富砷浮萍样品中砷元素的微区分布和形态特征研究.微区SRXRF分析了两个单片浮萍样品FP1和FP2,单点扫描时间分别为5 s和2 s,光斑尺寸分别为70 μm×80 μm和100 μm×100 μm;对FP2样品选择了6个位置进行了微区XANES单点形态分析,扫描的能量范围为11.81~11.96 keV;整体XANES形态分析是针对压片的浮萍样品,扫描的能量范围为11.67~12.27 keV.结果表明,浮萍样品整体和微区XANES数据均表明砷形态为As(Ⅲ);SRXRF微区分析发现浮萍中砷元素具有显著的叶脉分布特征,在一定浓度范围内,砷并不扩散到进行光合作用的叶肉中,有利于减轻砷对叶片的毒害作用,可能是浮萍耐受砷的一个保护机制.     

聚呲咯的研究

本文研究了不同电化学氧化聚合条件下所得聚吡咯的红外光谱,X射线光电子能谱、元素分析、X射线衍射图及扫描电子显微镜图等。对聚吡咯的电导性、电导率的依赖性、化学结构及结晶性等进行了讨论。     

褐煤SHELL气化飞灰黏附影响因素的研究

通过激光粒度仪、X射线荧光光谱仪、扫描电子显微镜等现代化分析测试技术对褐煤样、飞灰样以及换热废锅中的积灰样进行了粒度分布、化学组成、晶体矿物组成、微观形貌、微区化学组成等特征的分析,研究影响飞灰黏附特性的因素。并通过引入富集系数,描述各个元素在煤灰、正常飞灰、废锅积灰中的迁移富集情况。结果表明,在废锅积灰中有含铁矿物的生成,同时Na、K、Fe、S、P元素在废锅积灰中发生富集,在飞灰与积灰颗粒边缘处有大量的Fe、Na元素的富集。     

用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯材料中有害元素的标准样品的制备北大核心CSCD

制备了一套适用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯(PP)材料中5种有害元素(铅、镉、铬、汞和溴)的标准样品。首先,制备聚丙烯材料目标元素高含量母粒,然后通过逐级稀释的方法制备目标元素含量梯度的样品原料,最后制得符合X射线荧光光谱分析使用要求的标准样品。采用电感耦合等离子体原子发射光谱法和离子色谱法测定所制得标准样品中各元素的含量。所制备的用于X射线荧光光谱分析的PP标准样品通过F检验和t检验,得到统计量F相似文献   

X射线荧光光谱法测定哈氏C-276合金中10种元素

采用X射线荧光光谱法,可实现同时测定C-276合金中Si,Mn,P,Cr,Fe,Mo,W,V,Co,Cu,方法简便快速,便于生产过程控制和产品分析。采用成分相近的17种标准物质建立工作曲线,优化了测量条件并进行谱线重叠校正和元素间的吸收和增强效应的校正,各元素含量与测量强度均能呈现良好的线性关系。用于C-276合金中各元素的测定,具有良好的精密度,测定值与分光光度法、容量法、重量法等标准方法测定结果显示较好的一致性。为建立X射线荧光光谱法测定镍基合金成分提供了思路,为研究X射线荧光光谱分析镍基合金的干扰提供事实依据。     

X射线荧光光谱分析中的基本参数法

基本参数法是利用X射线荧光强度的理论公式计算试样各组分浓度的方法。该法的优点是仅需纯元素作标样甚至不用标样即可进行多组分的试样分析。1968年Criss等提出这一方法后,近年来在试样分析、计算经验系数法中的经验系数以及将基本参数法与经验系数法相结合等方面均取得了较大的进展,而日益受到广泛的重视。一些作者认为目前基本参数法准确度尚差,主要是因为基本参数包括原级X射线谱强度分布数据不准确所致,至今已发表的原级X射线谱强度分布数据仅钨靶就有五种之多,其中四     

X射线吸收分析法简介

近十余年来,X射线化学分析法已被广泛采用。利用X射线进行化学分析,有三类不同方法:衍射分析法,发射光谱分析法和吸收分析法。衍射分析法常称物相分析,它是根据晶态物质的X射线衍射花样的特征和衍射线的强度来进行定性与定量分析的。分析结果直接给出样品中所含晶体的种类、数目及其相对含量。非晶态物质沒有一定的衍射花样,故不能用此法分析。发射光谱分析法(包括初级发射光谱法及熒光X光谱分析法)的原理与通常的光学光谱分析法相同,是根据各种元素所固有的特征X射线的波长及强度来进行定性定量分析的,分析结果给出样品中所含元素的种类及含量。上述二法本刊已先后作过介绍,本文之目的是要对吸收分析法的原理、设备及应用作一简要介绍。     

微束X射线荧光光谱仪测定射击残留物特征元素分布图的应用研究

通过优化定距射击样本采集条件,考察了六四手枪在不同距离(0,2,5,10,15,20,25,30,35,40,45,50,60,80,100,120,140,170,200,300,500,1 000 cm)垂直射击PU布块靶体时相关元素(氯、钾、硫、锑、锡、钡、铅、汞、砷、铁、铜、锌、钛、钙、铑)的区域扫描图,建立了微束X射线荧光光谱(μ-XRF)面扫描技术分析射击样本的方法,并建立了六四手枪射击残留物特征元素分布图形随射击距离而变化的数据模型,同时对所得数据进行了归一化处理。本方法可协助推断射击距离,为涉枪案件的侦查与诉讼提供科学证据。