仲钨酸铵中17种杂质元素的ICP—AES法测定

钨有丰富的光谱线,在仲钨酸铵中各种杂质含量通常为0.0x～10μg·g~(-1)范围。由于钨对许多元素都存在不同程度的光谱干扰,包括背景干扰和谱线重迭,或非光谱干扰,其干扰综合量大于杂质本身含量,所以不分离钨很难准确测定其含量。文献[1]曾用离子交换分离富集钨酸钠中钙、镁,然后用ICP-AES法测定。测定高含量钨基体样品中多种杂质尚未见报道。本文研究用氨水-过氧化氢分解仲钨酸铵,以钨酸形式沉淀钨与其它元素分离,然后用ICP-AES法测定其中17种杂质,方法分离效果好、快速、准确,加标回收率为95％～108％。 1 试验部分 1.1 仪器与试剂 JY70P Ⅱ(法国):高压4.1kV,阳流400mA;栅流170mA;冷却气13L·min~(-1),雾化气0.3L·min~(-1),保护气0.1L·min~(-1)(测K、Na、Li用0.6L·min~(-1)),溶液提升量1.4ml·min~(-1);观察高度14mm;积分时间20s。     

ICP—AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置，试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法，已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

ICP—AES法测定长石中杂质元素

长石作为陶瓷工业生产的主要原料,它的主要成分是二氧化硅,其杂质含量不等,但杂质的存在将影响产品的质量。目前,长石中铁、铝、钙、镁、钛的测定没有国家标准,所采用的方法均为化学法,较繁琐。JIS M 8853-76方法中,测定铝、铁、钛方法需进行分离测定,步骤较复杂,ICP-AES法同时测定长石中铁、铝、钙、镁、钛元素,未见报道。本文通过试验,提出了用ICPA—AES同时测定长石中铁、铝、     

ICP—AES法直接测定纯氧化钆中十四个稀土杂质

试验采用色散率较小的国产等离子体光谱仪直接测定纯氧化钆中14个微量稀土杂质。用正交设计对ICP工作参数进行了最优化选择;研究了基体效应、共存元素干扰及基体浓度对元素的固体检出限的影响;用经验系数法对受干扰的元素进行实验校正。     

ICP－AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置；试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体对测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法。已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

氟化电热蒸发—ICP—AES直接测定生物试样中痕量镧

采用聚四氟乙烯（ＰＴＦＥ）为氟化剂，以悬浮体制样ＥＴＶ－ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定固体生物试样中的难熔稀土元素Ｌａ，研究了粒度效应和Ｌａ的氟化蒸发行为。在优化实验条件下，方法的检出限为２．０ｎｇ／ｍＬ，相对标准偏差为４．５％。该方法简便、灵敏，无需进行化学前处理，可用于固体生物试样的直接分析，分析结果与参考值吻合。     

柱前衍生／流动注射微柱预富集和ICP—AES法测定高纯氧化镧中痕量非

利用自合成的碳硅凝胶为吸附材料，以铜试剂（ＮａＤＤＴＣ）为柱前衍生试剂，实现了Ａｌ（Ⅲ）、Ｃｒ（Ⅵ）、Ｃｕ（Ⅱ）、Ｆｅ（Ⅲ）、Ｖ（Ｖ）流动注射（ＦＩ）微柱预富集。以稀ＨＮＯ３停流洗脱富集物，ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定洗脱液中上述元素。在优化条件下，富集倍数近１０倍，检出限为ｎｇ／ｍＬ级，ＲＳＤ〈５．０％（ｎ＝７），方法用于高纯Ｌａ２Ｏ３中非稀土杂质测定，结果满意。     

ICP—AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质

本文采用Ｊｏｂｉｎ Ｙｖｏｎ ３８Ⅱ谱仪直接测定高纯氧化铕中Ｃｓ，Ｐｒ，Ｓｍ，Ｇａ，Ｄｙ５个稀土杂质，试验考查了氧化铕基体，共存元素，酸度等因素的影响。利用正交试验Ｌ２５（５）＾６确定了仪器最佳条件。当基体纯度为９９．９９％时；回收率在９４．０～１０８．０％之间。在实际应用中获得满意的结果。     

感耦等离子体质谱法（ICP—MS）测定高纯氧化镝中痕量稀土杂质

本文报道用２－乙基己基膦酸单酯萃淋树脂为固定相，ＨＣｌ为淋洗液的萃取色谱法研究了高纯Ｄｙ２Ｏ３中的痕量稀土杂质和Ｄｙ２Ｏ３基体的分离条件，并用ＩＣＰ－ＭＳ法测定了高纯Ｄｙ２Ｏ３中的１４个稀土杂质，稀土元素的测定限为０．００１－０．００５ＩＣＰ－ＭＳ法测定了高纯Ｄｙ２Ｏ３     

沉淀分离ICP—AES测定铅锭中Te,Cr,Co,Ni杂质元素

采用硫酸沉淀分离基本元素铅后，ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定铅锭中Ｔｅ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ杂质元素。试验证明在本文提供的条件下Ｓｅ会以ＰｂＳｅＯ３的形式与ＰｈＳＯ４共沉淀，而Ｔｅ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ等待测元素则保留在溶液中。待测元素加标回收率在８６．４％￣１０８．４％之间。     

ICP—AES半智能直接测定稀土氧化物

本文报道了一种用ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定稀土氧化物的半智能方法，稀土基体对某一稀土分析谱线的光谱干扰补预先扫描并存于谱图集中，在实际测定中，相应的干扰谱图被调用，参加扣除干扰谱线影响的校正计算。结果表明该法令人满意。