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数字式X射线辐射扫描成像系统及其应用 总被引:1,自引:0,他引:1
数字化图像具有非常突出的优点和广泛的应用,而X射线成像在医学诊断和工业无损检测等领域占据非常重要的地位,因此X射线成像的数字化必将成为一种趋势。文章介绍了数字式X射线辐射扫描成像的特点、原理及其应用前景。采用气体电离室探测器阵列完成了32路数字式X射线辐射扫描成像装置系统,其空间分辨率达到0.5mm,并且获得了比较满意的X射线图像效果。 相似文献
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微机扫描黑体辐射实验研究 总被引:2,自引:1,他引:1
利用微机扫描光栅光谱仪和溴钨灯进行黑体辐射实验研究,验证了黑体辐射的基本规律;论证了黑体辐射实验方法的可行性,分析了黑体的辐射、传递和接收以及正弦机构等器件的性能和误差修正问题. 相似文献
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为了解决激光束扫描的高分辨率和动作快的问题,通常采用鼓形多面体反射镜的机械转向器。近来,由于对有效地利用激光能量和发散角提出了更高的要求,这就迫使人们探索和研制新的系统以满足这一要求。已制成的跟踪扫描装置,当投射到多面体反射镜 相似文献
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本文叙述了淀积光学膜应用磁偏转电子束扫描电子枪的优越性,并着重介绍给无扫描装置磁偏转电子枪加装扫描系统的方法及其原理和结构特点。 相似文献
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大型集装箱辐射检测系统 总被引:1,自引:0,他引:1
物理学发现任何一种新的辐射,也就发现了一种新的能量传播方式。信息工程都会设法把它用作新的载体来传输信息,或设法利用这种新辐射来探查物质(物体)内部的新信息。由于物质的原子间距为零点几纳米(10-9m,粗略地说,波长大于1纳米的辐射适于以波的发送、接收方式来传递信息。波长小于1纳米的辐射适于以粒子和物质相互作用的形式来探查物体内部信息。这些应用都有赖于物理学和信息工程的结合。 相似文献
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建立了调制激光诱发硅晶圆少数载流子密度波一维模型, 仿真分析了少数载流子输运参数对调制激光诱发载流子辐射信号频域响应的影响. 利用调制激光诱发载流子辐射扫描成像系统对含有表面划痕的硅晶圆进行了扫描成像试验研究. 通过少数载流子密度波模型与多参数拟合方法反求得到了扫描区域的输运参数二维分布图. 该方法得到的少数载流子寿命与利用传统光电导方法测量的少数载流子寿命结果相符; 分析了划痕对载流子输运参数造成的影响, 与光电导方法比较, 该方法可以测量不同位置的全部载流子输运参数且分辨率高. 相似文献
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分子聚集体在非线性光学和集成光学等领域有潜在的应用前景。纳米结构一维染料分子J—聚集体有许多既不同于单个分子又不同于体材料的奇异性质,即超辐射和巨光学非线性。这种超辐射是由于在几个本征态内振于强度结合在一起,得到一巨跃迁偶极于,因而是超辐射的。跃迁速率与耦合分子个数N成正比。分子聚集体的J—吸收和超辐射发射是共振的。利用Z—扫描技术测量PIC在不同配比下的非线性折射率、非线性吸收系数和非线性极化率。观测到随着链长变短,样品的三阶非线性极化率增大。对这种非线性增强的机制进行了分析和讨论。 相似文献
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由于声波传播速度较慢,常规的显示器,往往会产生回波图象的闪烁;随着距离量程的扩大,这种现象会越来越严重,因而无法仔细辨认回波的特征.本文介绍的声呐显示器的扫描变换系统,从根本上解决了声纳回波观察和眼睛视觉残留的矛盾,在一般显示器上就能够得到一个稳定清晰的回波图象,而且图象的质量不受作用距离量程转换的影响.本系统不仅适用于声呐显示器,对于回波冻结,以及单次回波或瞬变信号的观察,均为有效手段. 本系统全部采用国产组件,在使用上取得了良好结果. 相似文献
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本文阐述了连续扫描和隔行扫描CCD(charge-coupleddevice)摄像机的工作方式和特征,较详细地介绍了连续扫描CCD的工作原理,用图示给出了两种扫描方式的比较。连续扫描方式可从每一个独立像素中获得在一个信号曝光周期之间产生的信号。对于在高分辨率成像情况下,在必需捕捉迅速运动目标的应用领域中,连续扫描CCD是最佳的选择。 相似文献
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报导我们研制的一套光子扫描隧道显微镜(PSTM)和扫描隧道显微镜(STM)联用系统的初步实验结果。联用系统采用的基本结构为早先研制的一台PSTM,另外增加了一个STM通道,通过真空蒸镀金膜制作了既导电又导光的光纤探针,联用系统用STM通道隧道电流反馈控制探针高度。初步实验结果表明,PSTM和STM通道既能分别单独成像,亦能用导电导光探针实现PSTM和STM同时成像。 相似文献
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本文应用两面镜反射的矢量方程式,分析了固定夹角和可变夹角的角镜光学扫描系统诸角度间相互关系,导出了保持出射光轴在垂直面内扫描并消除象倾斜所必须满足的条件,分析了夹角和摆角误差对出射光轴俯仰角的影响。 相似文献
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电子束的扫描均匀度是工业辐照电子直线加速器的重要技术指标,该校正系统利用人工神经网络中的误差反向传播法可以对扫描电流波形进行校正,以克服扫描磁场引起的电子束形状变化、位置改变等造成的电子束分布的不均匀性,从而使扫描曲线的归一化均方偏差达到1.8%。 相似文献