全新的运放测试系统

系统在硬件设计的基础上，进行了软件调试。该系统能进行自动零点校准、偏位法补偿，采用步进激励、步进采样、最小二乘法进行运放参数的测试，应用的原理在国内外均属一项新技术     

一种简易运放测试电路

本文介绍了一种测试运放工作状态的电路，应用采样电源电压并分压、放大再驱动LED的原理，只需极少的器件，极小的花费，便可筛除工作不正常的运放，操作简单，判据直观，组装容易，携带方便。     

高精度,高速测试系统中电容器的选用原则

本文在详细分析电容器基本特性和主要参数的基础上，针对高精度、高速测试系统的特点，给出了选用电容器的基本原则，并介绍了电容器应用中的一些注意事项，对其它电子系统也有普遍实用价值。     

电阻偏差的测试

介绍了一种电阻标称值与实际值的偏差测量电路。该测试方法简单,精度较高,可用于电阻器生产或应用测试。     

一种简易运放测试电路

本文介绍了一种测试运放工作状态的电路，应用采样电源电压并分压、放大再驱动LED的原理，只需极少的器件，极小的花费，便可筛除工作不正常的运放，操作简单，判据直观，组装容易，携带方便。     

基于虚拟仪器的集成运算放大器综合参数测试平台

本文利用虚拟仪器技术进行运算放大器参数测试平台的设计,所用的软件为NI公司的labVIEW编程环境,硬件选用NI公司的PCI-6251数据采集卡,实现信号的采集与传递,整个测试平台能方便完成运算放大器主要参数的测试、波形显示与保存。最后利用测试平台对运算放大器的特性进行测量,并与其他仪器测量结果进行比较,实验结果表明该测试平台所测结果精确可靠,系统操作灵活,可扩展性强。     

基于A567进行运算放大器DC参数测试技术研究

运算放大器作为一种通用器件，其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题，需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例，对运算放大器的测试理论及技术进行了分析，并提出了一种新的测试实现方式。     

低噪声放大器LNA的测试系统设计、分析

本文首先对低噪声放大器的各测试参数的基本概念进行介绍,然后针对这些参数设计合适的测试系统,并对系统进行分析和探讨.     

DV810A热阻测试系统不稳定问题分析与解决

围绕DV810A热阻测试系统测试不稳定问题,通过逐步检查与故障现象有关的相关因素最后查出了根源所在,从而解决了这种不稳定问题.     

运算放大器的闭环参数测试

介绍了运算放大器闭环参数的测试原理,分析了影响运算放大器闭环参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素,及所采取的针对性措施,还探讨了闭环参数的测试精度、测试稳定性和测试适应性的评价问题.介绍了STS 2107C模拟器件测试系统.     

用于MEMS器件的高性能运算放大器的IC设计与测试

根据特定电容式微传感器后续处理电路的高性能要求。设计一个运算放大器芯片，设计中采用了美国MOSIS公司提供的n阱0.35μm cmos工艺的SPICEBSIM3mos管模型。手算估计芯片的参数，然后采用了两种能系统反映芯片特性的测量电路对设计进行了性能测量。并根据测试结果对设计微出相应调整，从最终测试结果来看。设计的运算放大器具有很好的静态和动态性能。     

电阻偏差的测试

介绍了一种电阻标称值与实际值的偏差测量电路。该测试方法简单,精度较高,可用于电阻器生产或应用测试。     

运放电路在测试系统中的应用

硬件芯片的功能、可靠性和稳定性至关重要,使得硬件测试越来越受到重视。在测试过程中为提高测试的精度和稳定性,会在测试芯片外围电路的基础上根据不同芯片的测试难点增加测试辅助电路,运放电路是其中较为常见的测试辅助电路。根据各运放电路的特点与功能,分别描述和研究了在遇到测试难点时运算放大器、电压跟随器和电压比较器在测试系统中的应用,从而有效提高了测试精度。