利用点光源干涉测量平板的楔角

运用光的干涉理论 ,分别讨论了点光源在楔形平板情况下的干涉条纹及光强分布 ,并推导出测量平板楔角的一种新方法。运用该方法时平板楔角进行了测量 ,获得了精确的结果 (不确定度 <10 - 5)。     

用激光点光源干涉法测量晶棒两端面间的楔角

本文介绍了一种简便的测量微波延迟线所用晶棒两端面间楔角大小的方法。扼要地概述了测量的基本原理和实验装置,并对测量结果进行了误差分析。实验结果表明:这种测量方法具有结构简单,图形直观,操作方便和不受环境影响的优点。其测量精度优于1.5%。     

共光路双频外差干涉法测量模拟磁头磁盘静态间隙

提出了一种共光路外差干涉测量模拟磁头磁盘静态间隙的方法，该方法以低频差横向塞曼双频激光器作为光源，采用专门设计的双折射透镜分光和相位测量技术，实现了对光波半波长的3600细分，从而使测量分辨率达到0．1nm。原理实验结果表明，该系统在无恒温的普通实验室条件下，1h内稳定测量实验结果漂移小于4nml利用压电陶瓷（PZT）微动工作台（步进分辨率1nm）驱动反射镜（模拟磁头）产生位移，在1μm范围内与该系统测量结果进行比对，得到线性相关系数优于0．9998。     

基于楔板剪切干涉的高斯光束远场发散角测量

为准确、方便地测量高斯光束远场发散角,提出了一种基于楔板剪切干涉的方法:将传统的双向剪切干涉仪进行改装,使能同时测出激光传输路径上两个不同位置处的波前曲率半径,并由曲率半径求出发散角.该方法解决了传统剪切干涉法只能定性判断光束准直状态而不能定量测量发散角的问题,实现了剪切干涉对基模高斯光束发散角的定量测量.实验测量误差和理论分析结果相符.误差分析表明影响发散角测量精度的主要因素为干涉条纹宽度测量误差.     

横向剪切干涉中非共光路误差的识别与补偿

由于相移式横向剪切干涉不需要标准参考波面,因此它可以缩小干涉腔长、甚至实现绝对的共光路干涉,从而最大程度上降低了空气扰动和振动的影响,但实验室设计的相移式横向剪切干涉测量装置中的分束棱镜、剪切平板和五棱镜的制造误差仍然造成了发生错位的两波面间产生非共光路误差。通过剪切干涉测量装置中调整误差和非共光路误差的对比分析,提出了非共光路误差的计算方法,并在测试结果中进行非共光路误差的补偿。实验结果发现补偿非共光路误差后的面形误差与ZYGO干涉仪的测量结果非常接近。     

平板玻璃微小楔角的散斑法测量

本文提出了一种检验平板玻璃微小楔角的新实验方法。它利用激光散斑技术,记录了由于微小楔角引起的散斑位移量的散斑图,由此导出被测试件的微小楔角。这种方法具有光路简单、非接触、精度高等特点。到目前为止,尚未见有这方面的具体报导。     

高精度双干涉光路调频连续波激光绝对测距系统

调频连续波激光测距具有无盲区、非接触测量和绝对测距等优点,但是由于可调谐激光器光频率调制非线性对其测量精度的影响,限制了调频连续波激光测距在精密测量领域中的应用。针对调频连续波激光测距中测距精度受到激光器光频率调制非线性的影响,提出了双干涉光路调频连续波激光测距方法,利用两个干涉系统得到的干涉条纹数量的比值计算得到被测目标的距离,消除了激光器光频率调制非线性对测距精度的影响,实现了65 m的测量分辨率和15 m的重复测量精度。该方法无需对激光的波长进行测量,也无需对激光器进行锁频,系统组成简单,在工业大尺寸测量、空间技术、测绘等领域有着广阔的应用前景。     

双色红外共光路辐照度测量系统设计

针对测量红外目标模拟器的辐照度值所设计的辐照度测量系统,其光学系统特点是改善辐射光束的能量分布,将能量集中到探测器上。根据双色和单色探测器的不同用途,单个双色探测器和两个单色探测器的双色红外共光路光学系统均能够满足辐照度测量系统的需求。双色探测器难以得到,但对应的光学系统结构简单,调制传递函数响应度高,实用性强;单色探测器容易得到,但对应的光学系统结构复杂,不过仍然有很好的像质,满足辐照度测量光学系统的要求。光学设计结果表明,3～5μm的中红外波段和8～12μm的长波红外波段在两个系统中同时较好地完成了像差校正,系统畸变都很小,最大不超过0.7%,调制传递函数曲线均接近衍射极限。     

采用光折变全息干涉计量术对光楔特性的测量

光折变晶体是一种新型的记录材料,应用光折变效应,不需显影、定影等处理,就可实现实时观测。文章探讨了光折变实时全息干涉法在光学检测中的应用,提出同时确定光楔楔角和折射率的新方法,从而改变了只有光楔的折射率和楔角中一个已知时才可测量另一个未知量的传统测量方法。介绍了实验过程,分析得出了最后实验结果。     

激光干涉任意转角测量的信号线性化处理方法

激光干涉测角技术由于受到测量原理非线性的限制,大多只能用于小角度的测量。为了增大测角范围,提出了一种将测量原理进行线性化处理的方法,以实现任意转角的干涉测量。采用空间上互相垂直放置的2套干涉系统分别获得两路正交信号,将所得到的正弦信号和余弦信号的差值作为输出信号,这样处理后输出信号和被测转角之间基本上呈线性关系。对这种方法进行了理论分析及实验验证。实验结果表明．处理后信号的线性得到了大大的提高,非线性误差减小到信号处理前的1／20。     

一种使用双棱镜的动态小角度测量方法

提出一种基于正切关系和相位调制技术的动态小角度测量方法.使用双棱镜组成干涉测量臂引导两束平行光至分束棱镜处干涉,通过提取携带被测信息的干涉信号的相位实现动态的小角度测量.由于采用位置探测器(PSD)对测量臂中两平行光束的间距进行测量,简化了测量方程,消除了装置中双棱镜必须对称放置的要求.通过正弦地改变半导体激光器的注入电流在时域内实现对干涉信号的相位调制,形成准外差干涉测量模式,提高了光程差的测量精度.实验验证了该方法的可行性,并讨论了影响小角度测量精度的误差因素.研究结果表明,基于该方法的动态小角度的重复测量精度可达到10-8rad数量级.     

一种精确的小角度测量方法

文章介绍了一种精确的小角度测量方法的原理及其应用装置。通过实验对比，验证了该方法的准确性(精度可达2%)。将该方法及装置应用于硅材料纵向杂质分布的扩展电阻测试，可大大提高浅结结深测量的准确度。     

干扰背景下基于双圆阵的全向测角方法

当干扰与目标方位夹角较小时,基于单圆阵的方位全向米波雷达在进行干扰对消时,目标回波的对消损失较大,从而降低了干扰对消后的目标检测概率和目标方位估计精度。针对此问题,该文提出一种基于双圆阵的干扰对消和目标方位角估计算法。该算法先利用小圆阵激励出的-1, 0和1阶相位模式初步估计干扰的方位角,后利用大圆阵激励出对称高阶相位模式获得精确的干扰方位角并利用其激励出的非对称高阶相位模式进行干扰对消和目标方位角的估计。该算法相对于单圆阵的干扰对消和测角方法可以减小目标回波的对消损失,提高干扰对消后的信噪比,从而增大目标检测概率和提高目标方位角的估计精度,仿真结果证明了该算法的有效性。     

基于最大公共路径匹配的拓扑推断算法

针对存在节点动态加入和退出的网络,提出了一种基于最大公共路径匹配的拓扑推断算法.该算法根据背景流量影响对“三明治”包中两个小包进行排序重组,利用重组后的“三明治”包对节点对相似度进行计算,以提高节点对相似度的估计精度;利用TTL跳数信息选择匹配路径,按照公共路径长度匹配搜索新加入节点的插入位置,减少测量过程中所需的探测次数,提高拓扑推断的效率.仿真结果表明,该算法能提高网络拓扑结构推断的准确性和效率.     

利用面阵CCD测量小角度的研究

分析了采用面阵CCD器件和自准直原理实现二维小角度测量的原理和方法,设计了采用计算机控制的高速数据采集和处理软件,通过使用Visual C 语言实现的界面,可以实时显示测量数据.实验表明,该面阵CCD双坐标自准直仪量程为±3′,分辨率优于0.1",测量误差优于0.7".     

单脉冲与堆积波束测角精度研究

本文对一维线阵相控阵雷达测角同时波束转换技术中的单脉冲测角、堆积波束测角方法、基本精度进行了研究,建立了一个线阵模型,通过在线阵单元加入相同信噪比的高斯噪声,对两种方法的测角结果进行了分析对比,仿真数据可作为相关人员进行雷达系统俯仰测角方案设计的依据。     

经纬仪静态测角精度分析

现代光电经纬仪具有实时测量、高精度、自动跟踪监控和易于图像再现等优点,广泛应用于航空、航天、武器试验等科研和军事领域。它的测量精度直接关系到测量结果和试飞结论的准确性,而测角精度又是光电经纬仪中一项最重要的指标。根据光电经纬仪的工作状态,其测量误差又可以分为静态误差和动态误差。通常在设备的总误差中,静态误差占据主要部分,因而是目前研究的重点。本文针对经纬仪室内测角精度检测进行分析,对影响测角精度的各种因素分别进行探讨,并给出基于EXCEL的经纬仪静态测角误差修正表。