普通火花光源激发钢铁中铝的看谱分析

目前已报道的钢铁中铝的看谱分析法一般有两种[1 ] ,一种是利用铝的中性原子线 Al 396.1 5nm和 Al 394 .4 0 nm作为分析线。由于它们均位于近紫外光谱区域 ,而人眼在这个区域能见度很低 ,因此实际上很难进行看谱分析工作。另一种是采用高能火花光源激发试样 ,以铝的二次离子谱线 Al4 569.65nm作为分析线。但一般的理化室中很少有高能火花光源这种仪器 ,同时 ,已有的高能火花光源均为台式仪器 ,无法到生产现场进行看谱分析工作。为了完成和适应在不同环境条件下对进厂原材料及其制品零部件中铝的看谱分析任务 ,提出了采用理化室一般都置备…     

三核钼原子簇化合物的EPR和电子结构

本文报道一个新的三核钼原子簇化合物在室温和77K固态和液态的EPR谱,这些谱均呈现出a,b两套谱线的叠加,分析谱线的强度比,线宽和谱参数,认为g值较大的a谱归属于三核钼原子簇化合物,而b谱归属于单核钼杂质。从由X射线晶体结构方法确定的空间结构出发,三核钼原子簇化合物可能有两种分子形式:Mo3(μ3-S)(μ2-S)3Cl[S2P(OEt)2]4 1Mo3(μ3-S)(μ2-S)(μ2-Cl)2Cl[S2P(OEt)2]4 2分别用简单量子化学理论和EHMO法计算出未配对电子所处的分子轨道,求出g1和g1,并与EPR实验值相比较,认为该化合物的分子式应为2,簇骼{Mo3}属七电子体系,在77K温度下,其未配对电子主要局域在三个钼原子所组成的近似等腰三角形簇骼的顶点钼原子周围。     

微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼铁合金中的钼含量

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-OES）测定钼铁合金试样（钼质量分数为55%～65%）中的钼含量,单点校准获得了较好的线性.样品经酸化后微波消解处理,采用钇元素作为内标以减少仪器波动的影响,在波长202.030 nm的分析谱线处测得钼元素的最佳发射强度.检测结果显示微波消解的样品溶解时间可缩短为重量法的14%,检测结果的相对标准偏差为0.17%～0.22%,采用标准样品验证结果的准确度与重量法无显著差异,可以为ICP-OES法检测高含量组分提供参考.     

XRF准确测定钼精矿中多种元素分析方法研究

本文详细论述了压片法及熔融片法测定钼精矿的分析条件。其中压片法通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线,因此粒度效应和矿物效应基本上可可忽视。文章详细地讨论了元素之间谱线干扰、背景和脉冲高度选择。使用经验系数法校正基体效应,可准确测定钼精矿中的钼、硫、铁、铜、铅、锌等11个元素。在熔融片法主要讨论了元素谱线的选择及其相互之间的干扰。     

ICP-AES法测定钼酸铵及多钼酸铵中14个杂质元素

提出了用浓硝酸沉淀并分离大量基体钼，ICP-AES同时测定钼酸铵中14个杂质元素的方法，考虑了钼基体、酸度、谱线干扰及背景影响等情况。在未引入其它任何试剂的情况下，用硝酸既除去了大量的钼基体，又调整了溶液的酸度，用标准加入法测定钼酸铵中的杂质元素，无需加入高纯基准试剂进行基体匹配，有效降低了分析成本，又消除了由于忽略基准物质中杂质元素的含量给分析测定带来的误差。回收率在85％～112％之间。     

ICP-AES测定钼铁中微量锑和锡

讨论了CID作检测器，ICP－AES测定钼铁中微量锑和锡，选择了最佳分析谱线和仪器重要参数，通过试验大量钼和铁的影响，用铁量匹配绘制校准曲线对试样进行直接测定的方法，检出限锑为0．0011％，锡为0．0004％，回收率为99％－103％。     

多谱拟合(MSF)-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定钼精矿中的磷

受钼精矿基体中铜、钼元素的干扰,电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)无法直接用于磷(213.617nm)的检测。考察了钼和铜谱线对磷(213.617nm)测定的影响,应用ICP-OES多谱拟合(MSF)法消除铜(213.599nm)、钼(213.606nm)的光谱干扰,建立了适合钼精矿中磷的检测方法。对方法的准确度和精密度进行实验,钼精矿中磷的加标回收率为96.2%~103.7%,RSD为2.6%~6.0%。实验证明,多谱拟合(MSF)电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼精矿中磷的方法是一种较为理想的分析方法,适合钼精矿中磷的测量范围为0.0010%~1%。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定N36锆合金中微量钼和铅

建立了电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定N36锆合金中微量钼和铅的分析方法.讨论了样品溶解、基体效应干扰、谱线选择和观测方式等对测定结果的影响.采用均匀试验设计确定最适合的仪器测定参数,包括等离子气流量、辅助气流量、雾化气流量和等离子体发生器功率.结果表明,锆基体对测定结果有较大影响,在试验中采用基体匹配消除干扰,在试验设计优化的仪器测定参数下,使用N36锆合金样品对方法的精密度与准确度进行验证,相对标准偏差（RSD,n=11）低于5%,加标回收率为93%~104%.所建立的方法快捷、简便、准确,满足核用N36锆合金中微量钼和铅元素的分析要求.     

高温熔融–电感耦合等离子体发射光谱法测定钼废渣中钼

通过优化高温熔融试剂和温度与分析谱线,建立了高温熔融-电感耦合等离子体发射光谱法快速测定钼废渣中钼含量的方法.准确称取0.10 g干燥钼废渣粉末,用2.5 g碳酸钠和1.0 g四硼酸钠混合熔剂于铂金坩埚中经920℃高温熔融15 min,以20 mL硝酸浸取并用水定容至200 mL.选择Mo 202.032 nm为分析谱...     

电感耦合等离子体发射光谱法测定铀钼合金中钼EI北大核心CSCD

采用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法测定铀钼合金中钼含量,考察了合金溶解、溶液中钼水解以及铀钼萃取分离等条件。确定溶液中H+浓度在3 mol/L时,铀钼合金在24 h内不会发生水解。选择发射波长202.031 nm为分析谱线。铀钼合金中钼含量在10~160μg/mL范围内呈线性关系,线性方程为y=3614.4x-1978,相关系数为0.9998,方法相对标准偏差小于1%。     

多谱拟合(MSF)电感耦合等离子体发射光谱法测定钼精矿中磷

受钼精矿基体中铜、钼元素的干扰,ICP-OES法无法直接用于磷(213.617nm)的检测。本文考察了钼和铜谱线对磷(213.617nm)测定的影响,应用ICP-OES 多谱拟合(MSF)法消除铜(213.599nm)、钼(213.606nm)的光谱干扰,建立了适合钼精矿中磷的检测方法。对方法的准确度和精密度进行试验,钼精矿中磷的加标回收率为96.2%~103.7%,RSD为2.60%~6.02%。试验证明,本方法是一种较为理想的分析方法,适合钼精矿中磷的测量范围为0.0010%~1%。     

X-射线荧光光谱法(XRF)测定钼精矿中多种元素

详细论述了压片法及熔融片法测定钼精矿的分析条件。其中压片法通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线,因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略。详细地讨论了元素之间谱线干扰、背景和脉冲高度选择。使用经验系数法校正基体效应,可准确测定钼精矿中的钼、硫、铁、铜、铅、锌等11种元素。在熔融片法中主要讨论了元素谱线的选择及其相互之间的干扰,经理论α系数校正后,可准确测定不同钼矿中的多种元素,其适用范围更广。     

应用催化极谱波测定土壤中有效钼

土壤有效钼的测定,过去常用硫氰酸钾比色。但该法灵敏度不太高,颜色稳定仅十分钟至1小时。钼的催化极谱波,可检出0.06ppb的钼,波高稳定。本文引用此法测定了土壤有效钼。土壤用pH3.3的草酸铵-草酸溶液浸提。仪器选用国产883型笔录式极谱仪,国产JP-1型示波极谱仪,国产895型照像式方波极     

电感耦合等离子体发射光谱测定钼铝合金中硅含量的方法研究

采用王水、氢氟酸在180℃加热条件下溶解试样,全面分析了硅元素的212.412、221.667、251.611、252.851、288.158 nm五条分析谱线的受干扰情况,最终选择了灵敏度和信噪比较高、受钼基体干扰程度较小的Si 288.158 nm为分析谱线。使用多谱线拟合(MSF)技术建立了Si 288.158 nm的光谱校正模型,通过校正模型对样品检测信号峰进行了校正,消除了基体钼(Mo 288.137 nm)的光谱干扰,建立了电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定钼铝合金中硅含量的方法。该方法在0.10～5.00 mg/L范围内(对应固体样品中硅的质量分数范围为0.010%～0.50%),硅的工作曲线线性关系良好,相关系数为0.9995;方法检出限和定量限分别为23μg/g和76μg/g;对3个不同含量的钼铝样品中的硅含量进行了测定,测定结果的相对标准偏差(RSD)在0.76%～1.36%之间,加标回收率在98.0%～106%范围,与标准(YS/T 1075.3-2015)中钼蓝分光光度法的测定结果一致。     

电感耦合等离子体光谱法测定镍基高温合金中的硅、锰、磷

建立了电感耦合等离子体光谱测定镍基高温合金中硅、锰、磷元素的方法,优化了试样前处理方法,对前处理所用酸的酸度进行不同比例试验,确定了仪器测量条件及分析谱线.在一定浓度范围内,各元素的浓度与谱线强度呈线性关系,相关系数大于0.9999.加标回收率为93.3%～106.7%,测定结果的相对标准偏差小于3.0%(n=10)....     

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法分析废钴钼催化剂中关键助剂元素钛含量

通过改变传统的灼烧再酸化处理催化剂的实验方法,采用硝酸-氢氟酸-高氯酸法将石化工业中常用的难溶废钴钼催化剂快速溶解并利用ICP-OES分析法准确测定样品中关键助剂元素钛,为钴钼催化剂后续工艺研究提供了一定的分析依据以及对钛金属元素的回收循环利用具有重要意义。实验优化了ICP-OES仪器最佳工作参数,确定了酸试剂体系及钛元素的分析谱线,对比了不同前处理方法的精密度。结果表明：相比于灼烧再酸化,直接采用硝酸-氢氟酸-高氯酸法溶解样品更为理想,这是由于在灼烧的过程中相当部分金属元素钴与Al2O3反应生成钴青（CoO·n Al2O3）使得回收率降低。在仪器最佳测定条件下校准曲线回归方程的线性相关系数为1,钛的相对标准偏差为0.54%,加标回收率在99%-101%之间。对同一样品与采用分光光度法分析和EDTA滴定法分析做对照实验,结果吻合,但本实验方法简便易操作且适合大批量的检测分析工作。     

微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定稻米中钼元素含量

稻米样品经硝酸微波消解后,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定稻米中钼的含量.选择波长为202.03 nm的谱线作为测定钼的分析线.钼元素的质量浓度在10.0～80.0μg·L-1内与其对应的响应值呈线性关系,方法检出限(3s)为0.05 mg·kg-1.应用此法测定大米粉标准物质中钼元素的含量,测...     

读者园地

问:分析仪器的分辨率如何表示?江苏读者———王平答:1.光谱仪的分辨率能将两紧邻的谱线准确分辨的能力称为光谱仪的分辨率(resolu-tion),系指两条可分辨谱线波长的平均值(λ)与其波长差(Δλ)的比值:R =λ/Δλ　　上面所说的“可分辨”是指相邻两谱线中的一条谱线的极大恰落在另一谱线极小的位置(见图1)。图1　可分辨的两紧邻谱线示意图(Rayleigh准则)Fig .1　Spectra showing the resolution如果仪器采用棱镜作为色散元件,则仪器的分辨率尚与棱镜的分辨率有关,即与棱镜的数目、棱镜的底边长及棱镜材料有关。如果采用光栅作为色散元件,…     

测光内插法在看谱分析中应用——低合金钢中铬锰钼钒钛的定量分析

看谱分析仪器简单,分析迅速方便,因而被广泛使用.但其分析误差大,仅适用于定性和半定量分析.国外诸多型号看谱仪器,带有定量分析测光装置,不同程度满足了定量分析要求.而国产仪器均无此类附件,无法实现定量分析.测光内插法是摄谱快速分析方法,它是一种不用测微光度计测量谱线黑度,而用阶梯减光板经摄谱后目测谱线黑度的光谱定量分析方法,对一般中     

红外吸收光谱法测定钼中氧

金属钼具有熔点高、硬度高、耐酸性等特性,在硬质合金和军工产品中具有广泛的应用.金属钼及合金中氧含量对其性能有着很大影响[1],很多产品对其中氧的含量有一定要求.但由于钼的熔点高达2 610℃,不易熔化和释放出氧,对其测定有一定困难.本工作采用EMGA-620W氧氮测定仪,利用该仪器功率高的优良特性,对金属钼中氧进行测定.