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1.
设有由Ｋ个成败型元件Ａ１，Ａ２，…，ＡＫ组成的串联系统，设Ａ１，Ａ２，…，ＡＫ之间有相依关系，要Ａ１成功的条件下Ａ２才可以试验，在Ａ１，Ａ２，都成功的条件下Ａ３才可以试验，…在Ａ１，Ａ２，…ＡＫ－１都成功的条件下Ａｋ才可以试验，设条件概率Ｐ（Ａｉ│Ａ１Ａ２…Ａｉ－１）ｐｉ，ｐｉ未知，ｉ＝１，２，…，Ｋ。设有样本（Ｘ１，Ｘ２，…，ＸＫ）（Ｘ≥Ｘ２≥…≥ＸＫ），本文用样本点排序法求此串联系统可靠性之经 相似文献
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项志华 《数理统计与应用概率》1994,9(3):99-103
当试验次数为ｎ，成功次数介于Ｘ１，Ｘ２时（Ｘ１≤Ｘ２）。本文给出了在这种不确定数据下成败型元件的可靠性Ｐ的极大似然估计和精确置下限，对于由成败型元件组成的串联和并联系统，本文也给出了在不确定数据下，系统可靠性的精确解。最后讨论了极大似然估计的某些性质。 相似文献
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成败型元件串并联系统及并串联系统可靠性置信下限近似解的讨论 总被引：2，自引：0，他引：2
范大茵 《高校应用数学学报(A辑)》1989,4(3):451-457
本文讨论由相互独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性置信下限的近似解。本文利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下将其折合为原系统的伪试验数及伪成功数,然后利用单个成败型元件的可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值。本文推导了伪试验数N及伪成功数S的计算公式,并给出了计算实例。 相似文献
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盛骤 《高校应用数学学报(A辑)》1991,6(1):96-99
本文根据成败型元件和系统两者的试验数据来估计串联系统可靠性的置信下限。首先根据元件和系统两者的试验数据,求出系统可靠性的极大似然估计,然后按L-M(Lindstrom-Madden)法给出系统可靠性置信下限的近似值,并提供了数字例子。 相似文献
6.
基于元件的随机定时截尾寿命试验数据,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限,给出了数字例。 相似文献
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基于元件的随机定时截尾寿命试验数据 ,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限 ,给出了数字例 . 相似文献
8.
郑海鹰 《高校应用数学学报(A辑)》1993,(2):222-230
对于样本点是离散的情况,可用对样本点排序的方法确定可靠性置信下限,排序有很多种,有L-P排序、序贯排序、极大似然估计排序、修正L-P排序等。本文提出一种具有直观合理性的新的排序方法,计算指数寿命型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限。 相似文献
9.
设有可靠性分别为p1和p2的两成败型元件.第i个元件试验N_次,成功S_次(i=1,2).本文利用样本点排序的方法给出了Q=p1-p2的经典的置信下限,并讨论了所得置信下限的精确性及最优性. 相似文献
10.
本文对两个相互独立的指数型元件，利用串联系统寿命试验的隐蔽数据求元件可靠性的Bayes置信限以及Fiducial置信限． 相似文献
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基于检测数据的指数型元件贮存可靠性的置信限 总被引：1，自引：0，他引：1
为了评估元件或产品在贮存期间的可靠性，我们要对元件进行检测．一般地，在ti时刻检测ni个元件，设每次检测的正确率为ri，（ri已知，ri＞1／2）．检测结果成功的元件数为si（i＝1，k）．本文将基于此类数据，给出一种方法，来确定元件的贮存可靠性的置信下限，并给出了数字例． 相似文献
12.
贮备系统可靠性之近似置信限 总被引：1，自引：0，他引：1
设组成贮备系统的指数寿命型元件的失效率之间满足某种关系．本文给出了这样的两个贮备系统组成的串联系统可靠性之近似置信下限的计算公式． 相似文献
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评估系统可靠度置信下限的随机模拟方法 总被引：8，自引：0，他引：8
由已知寿命分布和测试数据的五个不同类型部件,组成一串并联系统,本文应用Monte Carlo方法,Bootstrap方法,和Double Monte Carlo方法给出该系统的可靠度置信下限. 相似文献
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